LABOLATORIUM Z METROLOGII
WYDZIAŁ: BMiZ	KIERUNEK: MiBM	GRUPA: M-4
WYKONAWCY: Purczyńska Maria Wasielak Daniel	Ćwiczenie nr 5 Temat: Statyczne opracowanie wyników pomiarów.
Data wykonania ćwiczenia: 2002-03-27	Data wykonania sprawozdania: 2002-04-11	Ocena:

1. Celem ćwiczenia było dokonanie 143 pomiarów średnic wałeczków łożyskowych, który to pomiar dokonaliśmy mikromierzem z czytnikiem elektronicznym (dokładność do 1 μm).

2. Obliczenia:

Rozstęp i przedziały klasowe:

• e=d_max-d_min=9,961-9,934=0,027[mm]

• zakładając długość przedziału ∆d=5 μm

• liczba przedziałów
  

• przyjęto c=6

3. Obliczenia wartości średniej, wariancji i odchyleń standardowych.

Nr przedz.	Przedział klasowy	Liczność ηi	Środek przedziału	Częstość względna	Częstość symulowana
1	9,932 -9,937	4	9,9345	0,0296	0,0296	39,738	-0,0132	0,00017424	0,00069696
2	9,937 -9,942	14	9,9395	0,1037	0,1333	139,153	-0,0082	0,00006724	0,00094136
3	9,942 -9,947	37	9,9445	0,2741	0,4074	367,9465	-0,0032	0,00001024	0,00037888
4	9,947 -9,952	55	9,9495	0,4074	0,8148	547,2225	0,0018	0,00000324	0,0001782
5	9,952 -9,957	21	9,9545	0,1556	0,9704	209,0445	0,0068	0,00004624	0,00097104
6	9,957 -9,962	4	9,9595	0,0296	1	39,838	0,0118	0,00013924	0,00055696
Σ		135				1342,942			0,0037234

Wartość średnia:

Wariacja:

Odchylenie średnie:

Wartości graniczne:

Otrzymane granice obejmują przyjęte granice pomiarów.

4. Wnioski:

Statyczne opracowanie wyników pomiarów jest działaniem polegającym na wykryciu niezgodności w już wyprodukowanych wyrobach. Przeprowadza się je w celu zapobieganie powstawania braków. W celu prawidłowego wykonania badań statystycznych należało odrzucić osiem pomiarów o najmniejszych średnicach. Największą liczebność zanotowano w przedziałach 3,4 najmniejszą natomiast w przedziałach skrajnych 1 i 6. Świadczy to o tym, że statystyczne prawdopodobieństwo związane jest z wylosowaniem produktu z przedziału wymiarowego 9,942-9,947 i 9,947-9,952.

Powstałe błędy mogą być spowodowane dokładnością przyrządu pomiarowego, nieprawidłowym przeprowadzeniem pomiaru, zużyciem powierzchni mierzonych elementów i przyrządu pomiarowego.

1