Ćwiczenie 29 , Ćwiczenie 29


Janusz Mąka

ITD

Ćwiczenie 29

Temat; Zdejmowanie charakterystyki diody półprzewodnikowej

I. Zagadnienia do samodzielnego opracowania

1. Rodzaje półprzewodników i ich własności.

2. Model pasmowy półprzewodników.

3. Przewodnictwo samoistne i domieszkowe półprzewodników.

4. Działanie złącza p-n.

II. Wprowadzenie

Działanie złącza p-n

Obszar graniczny rozdzielający obszary o przewodnictwie dziurawym

i elektronowym nazywamy złączem dziurowo-elektronowym lub złączem p-n.

Złącze p-n wytwarza się podczas hodowania kryształu poprzez wprowadzanie

domieszek, drogą dyfuzji termicznej lub poprzez wstrzykiwanie jonów domieszek do

sieci krystalicznej. Na granicy półprzewodników o różnym typie przewodnictwa mamy

do czynienia ze zjawiskiem dyfuzji nośników ładunku elektrycznego. Elektrony i dziury

dyfundują przez powierzchnię rozgraniczającą dążąc do wyrównania koncentracji.

Elektrony w półprzewodnika typu n dyfundują do półprzewodnika typu p, gdzie

koncentracja elektronów jest mniejsza. Powstają wówczas w monokrysztale o

przewodnictwie elektronowym, w pobliżu granicy różnych półprzewodników,

niezobojętnione jony donorowe. W monokrysztale typu p mamy niezobojętnione ujemne

jony domieszek akceptorowych. Dyfuzja dziur następuje w kierunku przeciwnym

i zwiększa niezobojętnione ładunki na granicy półprzewodników. Dodatnio naładowany

obszar półprzewodnika o przewodnictwie elektronowym posiada wyższy potencjał od

ujemnie naładowanego półprzewodnika typu p. W otoczeniu granicy półprzewodników

typu n i typu p powstaje kontaktowe pole elektryczne oraz różnica potencjałów

(rys. 1a i b)

0x01 graphic

Pole to ma taki kierunek, że przeciwdziała dyfuzji większościowych ładunków

przez złącze. W obszarze o przewodnictwie typu n oprócz elektronów pochodzących od

domieszek donorowych znajdują się również dziury stanowiące nośniki mniejszościowe.

Również w obszarze półprzewodnika typu p znajduje się pewna ilość mniejszościowych

elektronów swobodnych. Kontaktowe pole elektryczne umożliwia przepływ nośników

mniejszościowych do obszaru sąsiedniego. Przez złącze przepływają więc dwa prądy.

Pierwszy, związany z dyfuzją nośników większościowych, zwany jest prądem

dyfuzyjnym; drugi, związany z dryfem nośników mniejszościowych, nazywamy prądem

dryfu. W warunkach równowagi, przy braku zewnętrznego pola ( 0 = zew E ), suma tych

prądów jest równa zero. Pole elektryczne przyłożone do złącza powoduje zakłócenie

równowagi. Jeśli doprowadzimy do złącza p-n napięcie zewnętrzne U, przy czym obszar

o przewodnictwie typu p łączymy z ujemnym biegunem napięcia, a obszar o

przewodnictwie typu n z jego biegunem dodatnim, wówczas pole pochodzące od

przyłożonego napięcia i pole kontaktowe mają takie same kierunki i zwroty. Następuje

wówczas poszerzenie strefy ładunku przestrzennego oraz zwiększenie skoku potencjału

na złączu p-n do wartości U V + D , co utrudnia przepływ większościowych nośników

przez złącze (rys. 2b). Jest to kierunek zaporowy płynięcia prądu. W tych warunkach

przez złącze przepływa jedynie słaby prąd, zwany prądem wstecznym, o natężeniu

zależnym od koncentracji nośników mniejszościowych.

0x01 graphic

Jeśli natomiast do obszaru o przewodnictwie typu p dołączymy biegun dodatni

źródła napięcia, a do drugiego obszaru biegun ujemny, wówczas natężenia pola

zewnętrznego i kontaktowego mają przeciwne zwroty. Następuje wówczas zmniejszenie

obszaru ładunku przestrzennego oraz skoku potencjału do wartości U V - D , co sprzyja

przepływowi nośników większościowych przez złącze. Płynie wówczas prąd

przewodzenia. (rys. 2a).

Posługując się modelem pasmowym półprzewodnika można obliczyć natężenie

prądu całkowitego płynącego przez złącze p-n, do którego przyłożone jest zewnętrzne

napięcie U.

Obliczenia prowadzą do wzoru:

0x08 graphic

(8.25)


gdzie: I - prąd płynący przez złącze p-n diody,

I0 - całkowity prąd mniejszościowy,

q - ładunek elektronu,

T - temperatura w skali Kelwina

III. Wykonanie wiczenia

1. W celu wyznaczenia charakterystyki diody półprzewodnikowej zmontować obwód

według schematu pokazanego na rys. 3.

0x01 graphic

2. Po połączeniu diody w kierunku zaporowym dzielnikiem napięcia zmienić napięcie

od 0 do 9V w odstępach co 0,5V i odczytać odpowiednio natężenie prądu

elektrycznego wskazane przez mikroamperomierz. Po wykonaniu serii pomiarów dla

kierunku zaporowego włączyć diodę do obwodu w kierunku przewodzenia.

Zmieniając napięcie od 0 do 0,5V w odstępach co 0,1V odczytać odpowiednie

wartości natężenia prądu przewodzenia wskazywane przez miliamperomierz.

3. Sporządzić wykresy I=f(U) dla diody zarówno w kierunku zaporowym, jak

i przewodzenia.

4. Ocenę błędu przeprowadzić metodą graficzną.

IV. Tabele pomiarowe:

a) kierunek zaporowy b) kierunek przewodzenia

U

I

[V]

[mA]

0,14

0,5

0,17

1

0,19

1,5

0,2

2

0,21

2,5

0,22

3

0,23

3,5

0,24

4

0,3

12

0,33

18,3

0,36

25

0,39

35

0,45

58

0,48

74

U

I

[V]

[μA]

0

0

0,5

2

1

2

1,5

2

2

2

2,5

2

3

3

3,5

3

4

3

4,5

3

5

3

5,5

3

6

3

6,5

3

7

3

7,5

3

8

4

8,5

4

9

4

V.Wykresy:

b) kierunek przewodzenia

Zależność: I=f(U)

0x01 graphic

a) kierunek zaporowy

Zależność: I=f(U)

0x01 graphic

VI. Obliczenia:

Wyznaczenie błędów pomiarów:

0x01 graphic
0x01 graphic

Błędy wyliczone dla pomiarów w kierunku przewodzenia:

Dla napięcia mierzonego na zakresie 0,75V: 0x01 graphic

Oraz dla zakresu 7,5mA: 0x01 graphic

Błędy wyliczone dla pomiarów w kierunku zaporowym:

Dla napięcia mierzonego na zakresie 0,75V: 0x01 graphic

Dla napięcia mierzonego na zakresie 15V: 0x01 graphic

Dla prądu dla zakresu 150 μA: 0x01 graphic

VII. Wnioski:

Celem ćwiczenia było wyznaczenie charakterystyki prądowo napięciowej diody półprzewodnikowej. Przy dużej zmianie wartości napięcia wstecznego przy pomiarze w kierunku zaporowym po przekroczeniu pewnej wartości około 0,6-0,7V wartość prądu mimo wzrostu wartości napięcia prawie się nie zwiększała i wynosiła około 4 μA. W kierunku przewodzenia po przekroczeniu pewnej wartości napięcia wynoszącej około 0,4V prąd zaczął gwałtownie wzrastać wraz ze wzrostem napięcia. Wykonane wykresy są obarczone dużymi błędami z powodu bardzo małej dokładności przyrządów pomiarowych.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Z Ćwiczenia 29.03.2008, Zajęcia, II semestr 2008, Wstęp do kryptologii
MB ćwiczenia 29 05 2010 (02)
Ćwiczenie 29
kanony i fugi z ćwiczeń analiza,16,29 pażdziernik 12
Ćwiczenia z 27-29.05.2011 (piątek-niedziela) T. Waldon, UJK.Fizjoterapia, - Notatki - Rok I -, Biome
Ćwiczenie 15, MIBM WIP PW, fizyka 2, laborki fiza(2), 29-Optyczna analiza widmowa
Ćwiczenie 29 30, teoria 30, Gorzycka Marzena
Ćwiczenia 4 STOSOWANIE PRAWA (29 10 09 i 11 09)
29, Cwiczenie 29 f, POLITECHNIKA WROC?AWSKA
29, Cwiczenie 29 b, Wroc?aw dn
29 67 77, ćwiczenie 67 prawo Faradaya
29, Cwiczenie 29 b, Wroc?aw dn
29 67 77, ćwiczenie 67 prawo Faradaya
Ćwiczenie 29.04
0108 29 04 2010 cwiczenia nr 8 Prezentacja ant[790]id 3152 (2)
Ćwiczenie1 29, TiR UAM II ROK, Informatyka
Ćwiczenie Chemia 3 (25.10., 29.10.2010 r.)
MB ćwiczenia 29 05 2010 (01)
Badania marketingowe-ćwiczenia 29.03.09r, WSZiB w Poznaniu Zarządzanie, 3 rok zarządzanie 2009-2010

więcej podobnych podstron