ćwiczenie 3 Sprawdzanie przyrządów pomiarowych, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii


PODSTAWY METROLOGII

Cielecka Marta

Czarnywojtek Elżbieta

Wydział: BMiZ

Kierunek: ZiIP

Grupa 6

Semestr III

Data wykonania ćw.

2011-11-17

Data oddania sprawozdania

2011-12-15

Ocena:

Prowadzący:

Dr inż. Mirosław Grzelka

Temat: Sprawdzanie przyrządów pomiarowych.

  1. Schemat stanowiska.

  1. 0x08 graphic
    kabłąk

  2. kowadełko

  3. urządzenie do obciążania wrzeciona

  4. wrzeciono

  5. bęben

  6. sprzęgło

  7. odważniki

  1. Sprawdzenie nacisku pomiarowego i błędów wskazań spowodowanych ugięciem kabłąka:

- nacisk pomiarowy

ciężar szalki: 200g = 0,200kg x 9,806 = 1,961 N

wartość obciążników: 885g = 0,885kg x 9,806 = 8,678N

nacisk pomiarowy: 0,200kg + 0,355g = 0,555kg x 9,806 = 5,5 N

- ugięcie kabłąka

wskazanie mikrometru obciążonego

W0x01 graphic
= 20,009mm

wskazanie mikrometru nieobciążonego

W0x01 graphic
=20,012mm

obciążenie P = 5kg x 9,806 = 49N

- ugięcie:

- rzeczywiste 0x01 graphic

  1. Sprawdzenie dokładności pomiarów.

Zakres mikrometru wynosi: 0mm - 25mm

Dokładność mikrometru: 0,01mm

wymiar [mm]

Odczyt [mm]

Błąd wskazań fi [mm]

Dopuszczalny błąd wskazań fi [0x01 graphic
]

A = 0

0x01 graphic

+ 2,5

2,502

+0,002

+ 5,1

5,105

+0,005

+ 7,7

7,707

+0,007

+ 10,3

10,306

+0,006

+ 12,9

12,899

-0,001

+ 15,0

14,997

-0,003

+ 17,6

17,601

+0,001

+ 20,2

20,201

+0,001

+ 22,8

22,8

0

+25,0

25,004

+0,004

0x08 graphic

  1. Wnioski.

Z zamieszczonej tabeli można odczytać, że większość błędów wskazań mikrometra jest niższa niż jego dopuszczalny błąd. Spowodowane to może być zarówno niedokładnością narzędzia pomiarowego, bądź zwiększającą się ilością płytek poszczególnych pomiarów. Wraz ze wzrostem ilości płytek błąd odczytu się wyrównuje. Badany mikrometr jest poprawny.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Sprawdzanie wyposażenia pomiarowego, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii
ćwiczenie 2 Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrolo
ćwiczenie 6 Badanie powtarzalności i odtwarzalności pomiarów. Pomiary na wysokościomierzu, ZiIP Poli
ćwiczenie 5 Tolerancje i pasowania, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii
przetworniki, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrologii
pajak, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Zarządzania - PAJĄK
Teoria potrzeb Maslowa, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Zarządzania - PAJĄK
PZ zagadnienia 2012, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Zarządzania - PAJĄK
141231Marketing od siwego, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Marketingu
Struktura źródeł błędów w procesie pomiarowym, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wyk
Dyrektywa dot pomiarow, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
320, ZiIP Politechnika Poznańska, Fizyka II, Ćwiczenia
ćwiczenie 3 SPRAWOZDANIE, ZiIP Politechnika Poznańska, Obróbka cieplna i spawalnictwo, LABORATORIA
WYZNAC~1, ZiIP Politechnika Poznańska, Fizyka II, Ćwiczenia
310, ZiIP Politechnika Poznańska, Fizyka II, Ćwiczenia
302A, ZiIP Politechnika Poznańska, Fizyka II, Ćwiczenia

więcej podobnych podstron