ProgramLaboratorium2006, Studia, Metrologia


PROGRAM ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z PRZEDMIOTU „METROLOGIA”

DLA STUDENTÓW III ROKU PWSZ W TARNOWIE - SPECJALNOŚĆ „ELEKTROTECHNIKA Z ELEKTRONIKĄ” , ROK 2008/2009

  1. POMIARY REZYSTANCJI - METODY TECHNICZNE I MOSTKOWE

1. Pomiary rezystancji omomierzem cyfrowym.

2. Pomiar rezystancji metodą porównawczą.

  1. pomiar rezystancji w układzie z poprawnym pomiarem napięcia.

  2. pomiar rezystancji w układzie z poprawnym pomiarem prądu.

3. Pomiary dużych rezystancji megaomomierzem induktorowym.

4. Pomiar mostkami technicznymi:

  1. Wheatstone'a

  2. Thomsona

5. Wyznaczenie rezystywności drutu oporowego.

6. Pomiar rezystancji wewnętrznej źródła napięcia stałego (akumulator).

7. Wyznaczenie charakterystyki 0x01 graphic
elementu nieliniowego (żarówka).

8. Pomiar rezystancji wewnętrznej woltomierza.

  1. POMIARY TEMPERATURY -CZUJNIKI I APARATURA

  1. Pomiar temperatury termoelementem typu J (Fe-CuNi) i miliwoltomierzem; badanie wpływu temperatury spoiny odniesienia.

  2. Pomiar temperatury termoelementem typu J współpracującym z przemysłowym miernikiem temperatury typu N12T.

  3. Pomiar temperatury czujnikiem rezystancyjnym Pt100:

  1. pomiar rezystancji czujnika omomierzem z wykorzystaniem 2 lub 4 przewodów,

  2. pomiar temperatury przemysłowym miernikiem temperatury N12T z czujnikiem dołączonym za pomocą 2 lub 3 przewodów.

  1. Sprawdzenie funkcji przetwarzania zintegrowanego czujnika AD22100 firmy Analog Devices

  1. POMIARY IMPEDANCJI - METODY TECHNICZNE I MOSTKOWE

  1. Pomiar parametrów R, L i C miernikiem cyfrowym L-C typu HM8018.

  2. Pomiar pojemności kondensatora metodą techniczną.

  3. Pomiar parametrów L i R dławika z wykorzystaniem watomierza, woltomierza

i amperomierza.

  1. Pomiar parametrów L i R cewki metodą trzech woltomierzy lub trzech amperomierzy.

  2. Pomiar parametrów L i R cewki metodą rezonansową.

  3. Pomiar parametrów L i R cewki metodą techniczną dla dwóch częstotliwości.

  4. Pomiar parametrów C i tgδ kondensatorów zestawianym mostkiem Wiena.

  5. Pomiar parametrów R i L cewki zestawianym mostkiem Maxwella.

  6. pomiar parametrów R i L cewki zestawianym mostkiem Maxwella-Wiena.

  1. POMIARY TENSOMETRYCZNE - CZUJNIKI I APARATURA

    1. Wyznaczenie stałej k tensometrów poprzez wyznaczenie odkształcenia 0x01 graphic
      belki i pomiar 0x01 graphic
      metodą zerową.

    2. Pomiar nieznanej masy poprzez pomiar siły zginającej belkę i pomiar 0x01 graphic
      .

    3. Pomiar nieznanej masy metodą wychyłową poprzez skalowanie znaną masą.

  1. ZASTOSOWANIE POMIAROWE OSCYLOSKOPU

  1. Pomiar okresu i częstotliwości przebiegów okresowych za pomocą oscyloskopu:

    1. pomiar metodą bezpośrednią

    2. pomiar metodą porównawczą - krzywych Lissajous

  1. Pomiar częstotliwości przebiegów okresowych za pomocą częstościomierza cyfrowego:

    1. sprawdzenie poprawności działania przelicznika - test

    2. pomiar częstotliwości z automatycznym i ręcznym wyborem zakresu

  1. Pomiar przesunięcia fazowego czwórników za pomocą oscyloskopu:

  1. pomiar metodą bezpośrednią

  2. pomiar metodą elipsy

  1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych elementów elektronicznych za pomocą oscyloskopu:

    1. dioda prostownicza

    2. dioda Zenera

  1. BADANIE WŁASNOŚCI DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH I KOREKCJA DYNAMICZNA

1. Badanie własności dynamicznych przetwornika I-go rzędu i korektora dynamicznego:

    1. dobór kondensatora w korektorze dla dolnoprzepustowego układu inercyjnego według odpowiedzi czasowej na wymuszenie skokowe najszybszej wolnej od przeregulowania

    2. wyznaczenie stałych czasowych: samego członu inercyjnego, członu inercyjnego z korektorem, samego korektora.

    3. zdjęcie charakterystyk częstotliwościowych: samego członu inercyjnego, członu inercyjnego z korektorem, samego korektora

2. Badanie własności dynamicznych przetwornika II-go rzędu:

  1. wyznaczenie stopnia tłumienia dolnoprzepustowego układu oscylacyjnego na podstawie odpowiedzi czasowej na wymuszenie skokowe

  2. wyznaczenie doświadczalnie dodatkowej rezystancji potrzebnej do uzyskania stopnia tłumienia: z = 0.3, z = 0.5, z = 0.7, z = 1.0 na podstawie odpowiedzi na wymuszenie skokowe

  3. zdjęcie charakterystyk częstotliwościowych dolnoprzepustowego układu oscylacyjnego dla stopnia tłumienia: z = 0.3, z = 0.7

  1. BADANIE WŁASNOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW A/C I C/A

  1. Obserwacja i badanie działania toru przetwarzania A/C — C/A zbudowa­nego w oparciu o przetwornik A/C bezpośredniego porównania i prze­twornik C/A z sumowaniem prądów:

    1. Obserwacja działania toru przetwarzania A/C i C/A w warunkach dyna­micznych.

    2. Wyznaczanie charakterystyk statycznych przetworników A/C i C/A. Wyznaczanie błędów statycznych.

  2. Obserwacja przebiegów w wybranych punktach i badanie działania kompensacyjnego przetwornika A/C dla różnych wzorców i sterowań:

    1. Kompensacja wagowa ze sterowaniem ręcznym.

    2. Kompensacja wagowa z taktowaniem generatorem wewnętrznym.

    3. Kompensacja równomierna ze sterowaniem ręcznym.

    4. Kompensacja równomierna z taktowaniem generatorem wewnętrznym.

  1. BADANIE WŁASNOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH WOLTOMIERZY CYFROWYCH

  1. Obserwacja przebiegów w wybranych punktach woltomierza cyfrowego działającego na zasadzie podwójnego całkowania.

  2. Badanie własności statycznych i dynamicznych woltomierza cyfrowego działającego na zasadzie podwójnego całkowania

    1. Wyznaczanie wartości maksymalnej błędu podstawowego woltomierza V628

    2. Badanie odporności woltomierza V628 na wejściowe zakłócenia sinusoidalne

  3. Szczególne zastosowanie cyfrowego multimetru:

    1. Pomiary spadku napięcia na złączach P-N i relatywne pomiary napięcia.

    2. Identyfikacja elementów na podstawie pomiarów tronicznych i C/A. zacisków „czarnej skrzynki”.



Wyszukiwarka