Sprawozdanie I pomiary analogowe, POLITECHNIKA WROCŁAWSKA


0x08 graphic
0x08 graphic
SPRAWOZDANIE

Temat: Pomiary przyrządami analogowymi.

  1. Spis przyrządów pomiarowych:

0x08 graphic

0x08 graphic

1) Woltomierz LE-3, 0x01 graphic
1, 0x01 graphic
0,5, , 0x08 graphic
, 2 , 15….50….500Hz

75V - 10mA

150 ÷ 600V - 5mA

α1 =25

α2=150

α3 =300

α4=600

2) Miliamperomierz i miliwoltomierz LM-3

0x08 graphic
0x01 graphic
, 0x01 graphic
, 0x01 graphic
, 3 , 0,5 , α1 =75; α2=30 30mV - 15 Ω

60mV - 20 Ω

0x08 graphic
3) Multimetr V-640

0x08 graphic

1,5 0x01 graphic
, 0x01 graphic
,0x01 graphic
, 0x01 graphic
, 3 , 10Hz….1kHz….20kHz

Ri= 100MΩ

NAPIECIE STAŁE NAPIĘCIE ZMIENNE

  1. 0x01 graphic
    Pomiary napięć stałych.
    Schemat układu pomiarowego:

Tabele pomiarowe:

Pomiary

Obliczenia

Lp

Uz

0α

α

Cv

U

ΔgU

δU

U±ΔgU

Uwagi

V

dz

dz

V/dz

V

V

%

V

1

15

0,1

14,9

0,2

2,98

0,075

2,52

2,98 ± 0,08

LM-3

2

15

0,1

14,9

0,2

2,98

0,075

2,52

2,98 ± 0,08

LM-3

3

15

0,1

14,9

0,2

2,98

0,075

2,52

2,98 ± 0,08

LM-3

Pomiary

Obliczenia

Lp

Uz

0α

α

Cv

U

ΔgU

δU

ΔgU

Uwagi

V

dz

dz

V/dz

V

V

%

V

1

15

0,1

2,9

1

2,9

0,225

7,58

2,9 ± 0,3

V640

2

15

0,1

2,9

1

2,9

0,225

7,58

2,9 ± 0,3

V640

3

15

0,1

2,9

1

2,9

0,225

7,58

2,9 ± 0,3

V640

Lp

Uz

Cu

α

U

ΔgU

δU

U±ΔgU

Uwagi

V

V/dz

dz

V

V

%

V

1

300

300/60

47,0

235

1,5

0,63

235 ± 2

LE-3

2

300

300/60

47,0

235

1,5

0,63

235 ± 2

LE-3

3

300

300/60

47,0

235

1,5

0,63

235 ± 2

LE-3

Lp

Uz

Cu

α

U

ΔgU

δU

U±ΔgU

Uwagi

V

V/dz

dz

V

V

%

V

1

500

500/60

2,3

230

7,5

3,26

235 ± 8

V640

2

500

500/60

2,3

230

7,5

3,26

235,0 ± 8

V640

3

500

500/60

2,3

230

7,5

3,26

235,0 ± 8

V640

Przykładowe obliczenia:

0x08 graphic

Wnioski:

Celem ćwiczenia była nauka wykonywania pomiarów przyrządami analogowymi. Mierzyć trzeba bardzo uważne, aby bład pomiarowy był jak najmniejszy. Wartości odczytywać z góry, aby wskazówka nakładala się na odbicie pod podziałką. Ważne jest to, ponieważ odczyt powinien być bardzo bliski pomiaru rzeczywistego.

14.10.2011

Kacper Złotorowicz

0x01 graphic
[V]

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Struktura źródeł błędów w procesie pomiarowym, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wyk
Sprawozdanie I pomiary analogowe1
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, statystyczna analiza wynikow pomiarów(miern), Politechnik
sprawozdanie laborki Filtracja, Politechnika Wrocławska
Sprawozdanie nr 3 niwelator, Politechnika Wrocławska
sprawozdanie laborki Filtracja, Politechnika Wrocławska
Sprawozdanie nr 3 niwelator, Politechnika Wrocławska
Pomiar mocy, Pomiar mocy 2, Politechnika Wrocławska Instytut Metrologii Elektrycznej
Dyrektywa dot pomiarow, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Pomiar mocy, Pomiar mocy 1, Politechnika Wrocławska Instytut Metrologii Elektrycznej
Geodezja, Sprawozdanie nr 1 - pomiary na mapie zasadniczej, Politechnika Wrocławska
203 rejestry, Politechnika Wrocławska - Materiały, logika ukladow cyfrowych, sprawozdania
Pomiary właściwości cieplnych materiałów izolacyjnych, Pim c7, Politechnika Wrocławska
inne, Sprawozdanie30, POLITECHNIKA WROCŁAWSKA
Pomiary właściwości cieplnych materiałów izolacyjnych, PIM7, Politechnika Wrocławska Instytut
Pomiary właściwości cieplnych materiałów izolacyjnych, PIM7, Politechnika Wrocławska Instytut
Wnioski sprawozdania - Lab 2, Politechnika Wrocławska - Inżynieria Lotnicza, Semestr VII, Podstawy e

więcej podobnych podstron