POLITECHNIKA LUBELSKA

w LUBLINIE

LABORATORIUM

Ćwiczenie M-6

Nazwisko :

Gładyszewski

Grądzki

Jończyk

Imię :

Sławek

Marcin

Jakub

Semestr

III

Grupa

E.D.3.5

Rok akadem.

1997/98

Temat ćwiczenia:

Materiały półprzewodnikowe.

Data wykonania

8.I.98

Ocena

Cel ćwiczenia: Wyznaczanie podstawowych własności półprzewodników- rezystancji właściwej i szerokości pasma zabronionego.

Układ pomiarowy:

gdzie:

1,2,3 - próbki wykonane z badanych półprzewodników

4 - naczynie z olejem

5 - grzałka

6 - autotransformator

T - miernik temperatury

Ω- omomierzTabela 1:

T

R1

Ge

R2

Si

R3

GaAs

°C

Ω

22,2

110

4,94

18,7

30

100

4,93

18,7

40

100

4,92

18,7

50

95

4,91

18,7

60

90

4,86

18,6

70

80

4,74

18,4

80

68

4,62

18,2

90

55

4,37

18

100

42

4,1

17,8

110

35

3,74

17,6

Tabela 2:

Lp.

S

l

cm2

cm

Ge

0,125

1,5

Si

0,05

0,024

GaAs

0,05

0,044

Tabela 3:

Lp.

T

σ1

Ge

σ2

Si

σ3

GaAs

1000/T

k-1

K

Ω/m

Ω/m

Ω/m

1/K

K/eV

295,2

10,91

9,72

4,71

3,39

303

12

9,74

4,71

3,30

313

12

9,76

4,71

3,19

323

12,63

9,78

4,71

3,10

333

13,33

9,88

4,73

3,00

11594

343

15

10,13

4,78

2,92

353

17,65

10,39

4,84

2,83

363

21,82

10,98

4,89

2,75

373

28,57

11,71

4,94

2,68

383

34,29

12,83

5

2,61

Tabela 4:

t

p

wilg.

°C

mmHg

%

23,5

752

24

Szerokość pasma:

Ge: 100,08*10-3 eV

Si: 18,875*10-3 eV

GaAs: 7,86*10-3 eV

Wykres 1:

0x01 graphic

Wykres 2:

0x01 graphic

Wykres 3:

0x01 graphic