pomiary ćw4+, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL


Techniki i Systemy Pomiarowe - Laboratorium.

Imię i nazwisko. Joanna Romańczuk.

Maria Jzdebska

Piotr Gumieniak

Symbol grupy

MD 103.5a

Data wykonania ćwiczenia:

09-11-2005

Numer ćwiczenia: IV

Temat ćwiczenia: Pomiar promieni krzywizn zarysów łukowych.

Ocena:

Data:

Podpis

  1. Wstęp.

Pomiary promieni zarysów łukowych można wykonać praktycznie tylko pośrednią metodą pomiaru, poprzez pomiar współrzędnych trzech punktów leżących trzech leżących na krawędzi zarysu mierzonego łuku. Zadanie to można w sposób dość prosty zrealizować techniką optyczną, wykorzystując do pomiaru mikroskop warsztatowy lub uniwersalny.

Przed przystąpieniem do pomiaru należy upewnić się, czy siatka pomiarowa okularu mikroskopu została ustawiona właściwie, oraz czy tubus mikroskopu jest ustawiony prostopadle. Niewłaściwie ustawienie siatki pomiarowej okularu jest przyczyną postawienia błędnego ustawienia strzałki s.

Pomiar promienia krzywizny R opiera się na pomiarze współrzędnych trzech punktów leżących na krawędzi zarysu mierzonej krzywizny.

0x01 graphic

Rys. Zasada pomiaru promienia krzywizny.

2. Przebieg ćwiczenia

  1. Sprawdzić kompletność wyposażenia stanowiska laboratoryjnego do pomiaru promienia krzywizny w narzędzia, wzorce i pomoce pomiarowe.

  2. Zapoznać się z konstrukcją, działaniem i podstawowymi parametrami metrologicznymi (zakres pomiarowy, dokładność wskazań lub wartości działki elementarnej) mikroskopu warsztatowego.

  3. Zapoznać się z przedmiotem do pomiaru, ustalić wartość nominalną jego promienia R.

  4. Umieścić mierzony przedmiot na stoliku pomiarowym mikroskopu i delikatnie manewrując tym przedmiotem ustawić go na stoliku mikroskopu tak aby w polu widzenia okularu była widoczna krawędź zarysu mierzonej krzywizny. Pomiar można wykonać od dowolnego ustawienia, lecz najwygodniej jest rozpoczynając od ustawienia 3.

  5. Obserwując krawędź zarysu przedmiotu ustawić ostrość jej widzenia oraz ostrość widzenia siatki pomiarowej okularu i w razie potrzeby skorygować położenia mierzonego przedmiotu na stoliku pomiaru,

  6. Przy pomocy przesuwów x, y mikroskopu przemieszczać stolik w kierunku x i y do momentu uzyskania styczności wybranej linii siatki pomiarowej okularu z krawędzią obrazu mierzonego zarysu i odczytać wskazania Wy2.

  7. Następnie należy przemieścić stolik mikroskopu w kierunku y do uzyskania wskazania Wy1 równego

Wy1=Wy2+si

Gdzie; si - zadana wartość strzałki.

  1. Nie zmieniając wskazania Wy1 przemieścić stolik mikroskopu w kierunku x aż do uzyskania ustawienia 1 i odczytać wartość wskazania Wx1. W przypadku, gdy zakres przesuwu bezpośredniego nie wystarcza do osiągnięcia ustawienia 1 lub ustawienia 2, rozszerzyć zakres przesuwu przy pomocy płytek wzorcowych.

  2. Wyznaczyć c i s wg zależności;

c=Wx2-Wx1

s=Wy2-Wy1

  1. Wyznaczyć promień krzywizny R korzystając ze wzoru.

R=0x01 graphic

  1. Wykonać pomiary promienia krzywizny R powtarzając każdy pomiar trzykrotnie,

  2. Wyznaczyć wartość średnie promienia mierzonej krzywizny R oraz dokonać pomiaru ∆R dla każdej wartości mierzonej cięciwy.

  3. Wyznaczyć błędy mierzonej wielkości jako różnice wartości

∂Ri=R-Ri

  1. Porównać uzyskane wyniki pod względem wartości oraz dokładności.

  2. Sprawdzić czy jest spełniony warunek dla każdej wartości zadanej strzałki

|∂Ri|≤∆Ri

  1. Pomiary i obliczenia.


Pomiar 1.

Ustawienie 3.

Ustawienie 1

Ustawienie 2

Pomiar 2

Ustawienie 3.

Ustawienie 1

Ustawienie 2

Pomiar 2

Ustawienie 3.

Ustawienie 1

Ustawienie 2


Pomiar

Cięciwa c

Strzałka s

Promień R

R

1

11,06

0,8

19,51

0,23

2

15,25

1,6

18,96

0,32

3

2,4

2,4

19,37

0,09

Wartości średnie

9,57

1,6

19,28

0,21

Promień średni obliczamy z następujący sposób;

Rśr=0x01 graphic
==19,28mm.

Dokładność pomiaru można wyznaczyć korzystając z metody różniczki zupełniej różniczkując powyższą zależność. Otrzymujemy następującą zależność;

∆R=0x01 graphic
+0x01 graphic

Gdzie; dla mikroskopu znajdującego się w eksploatacji ∆W obliczamy z zależności;

∆W=±(0,0014+1,3×10-6L)mm

Dokładność pomiaru cięciwy ∆c;

∆c=±(0,0014+1,3×10-6c)= ±(0,0014+1,3×10-6·9,57)= ±0,00141mm

Dokładność pomiaru strzałki ∆s;

∆s=±(0,0014+1,3×10-6s)= ±(0,0014+1,3×10-6·1,6)= ±0,00140mm

∆R=0x01 graphic
+0x01 graphic
=0x01 graphic
+0x01 graphic
=0x01 graphic
+0x01 graphic
=0,008mm

Warunek poniższy nie jest spełniony.

|∂Ri|≤∆Ri

  1. Wnioski.

Wyniki są obarczone stosunkowo dużymi odchyłkami. Przyczyny powstania tych odchyłek mogą być;



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Tomek Bodziuch Niezawodnosc, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL, Moje
Funkcja niezawodnosci intenstwnosc uszkodzen i trwalosc, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III
TM III, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL, Moje
Metoda Brinella, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL
Maczek Obrabiarki Projekt, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL, Moje
spaw.-zgrzewanie, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL
organizacja produkcji, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL, Moje
moj projekt, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL
Sprawozdanie spajalnictwo 6, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL
Spawanie met. TIG, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, III rok Mech PL
protokół materiałoznawstwo cw4, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem IV
elektrotechnika ćw2 - pomiary RLC, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, Elektrotechnika - laborato
Pomiary i eksploatacja 5, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
Miernictwo p.5 - pomiar temperatury, Politechnika Lubelska, Studia, semestr 5, Sem V, Nowy folder
skrypt ćw4, Politechnika Lubelska, Studia, Semestr 6, sem VI, VI-semestr, energoelektronika-lab
Pomiary napięć, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem IV
III WYNIKI POMIARÓW, studia mechatronika politechnika lubelska, Studia WAT, semestr 2, FIZYKA 2, LAB

więcej podobnych podstron