Badanie metalograficzne mikroskopowe- najprostszy sposób prowadzenia obserwacji pod kątem wykrycia wad, rozkładu znieczyszczeń oraz określenia struktury materiału(stale, żeliwa, surówki, stopu).
parametry mikroskopu metalograficznego
max. powiększenie: 50x - 2000x
użyteczne powiększenie: 500A* - 1000A* (powiększenie jakie jest w stanie widzieć ludzkie oko)
* A - (apertura numeryczna) A=n*singamma
n-współczynnik załamania światła
gamma-kąt apertury obiektywu
zdolność rozdzielcza: d=lambda/A
Przygotowanie próbki (wycinanie-inkludowanie-szlifowanie-polerowanie/trawienie)
pobranie- próbki są pobierane z miejsc charakterystycznych ze względu na warunki pracy lub warunki technologiczne dla pełnego i poprawnego obrazu struktury gdzie stwierdzono cechy szczególne(miejsca wytrąceń, obrobień cieplnych) lub wystąpienia wad strukturalnych(odwęglenia, pęknięcia)
wycinanie- za pomocą cienkich tarcz szlifierskich pod intensywnym schładzaniem wodą dla uniknięcia przegrzania powodującego miejscowe zmiany struktury, bądź wycinamy elektro-iskrowo lub elektro-chemicznie; wykonuje się zgłady(próbki) o wymiarach od 1-3cm^2, mniejsze inkluduje się.
inkludowanie- zatapianie prubki w żywicach epoksydowych lub metalach niskotopliwych
szlifowanie- za pomocą tarcz szlifierskich chłodzonych wodą dokonuje się wstępnego wyrównania zgładu, następnie używając papierów ściernych od najwyższej grubości ziarna(180,240) a kończąc na papierze o granulacji ziarna (1000, 1200); przy każdej zmianie papieru o mniejszym ziarnie zmieniamy kąt szlifowania o 90 stopni
2. aberracja sferyczna - to cecha soczewki polegająca na różnym ogniskowaniu czyli ze w zaleznosci od miejsca padania fali swietlnej na soczewke zmienia się jej załamanie (gdyż soczewka im dalej od osi tym bardziej jest zakrzywiona) a co za tym idzie, zmienia się jej ogniskowa.
Aberracja sferyczna zalezy od materiału soczewki oraz jej rozmiaru.
Efektem tego rodzaju aberracji jest spadek ostrości obrazu w całym polu widzenia.
3. obserwacja w polu jasnym - charakteryzuje się tym iż po przejściu przez obiektyw promienie świetlne padają na płaszczyznę próbki prostopadle do osi optycznej mikroskopu, a promienie odbite wpadają z powrotem do obiektywu. Ponieważ obraz jest jasny metoda ta jest nazywana obserwacja w polu jasnym.
Obserwacja w polu ciemnym - Obserwacja w polu ciemnym polega na skierowaniu promieni świetlnych na powierzchnie obiektu z pominięciem soczewki obiektywu. w polu ciemnym promienie świetlne przechodzą przez PIERŚCIENIOWĄ PRZYSŁONĘ i odbijają się od PIERŚCIENIOWEGO PŁASKIEGO ZWIERCIADŁA umieszczonego na obrzeżach płytki. następnie z pominięciem soczewki odbijają się od parabolicznego zwierciadła i padają na próbkę. Odbite od próbki promienie przechodzą przez obiektyw do okularu.
Badanie tego typu metoda pozwala na uzyskanie w przyliżeniu negatywu obrazu jaki otrzymujemy przy metodzie w polu jasnym.
Metoda obserwacji w świetle ukośnym polega na mimośrodowym usytuowaniu przysłony oświetlacza tak aby obiekt był oświetlany pod kątem co powoduje powstanie cieni które zaś uwydatniają relief powierzcni próbki. Ta metoda pozwala nam na ujawnienie różnicy wysokości szczegółów strukturalnych.