HD sprawko, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Metody badan, metody badań wyrobów i procesów, Odlewnictwo


Metody badań wyrobów i procesów - laboratorium

TPM2/2

Piotr Przybył

Weronika Moniuszko

Michał Dymek

Tomasz Izydorczyk

Arkadiusz Dąbek

Kamil Fuz

Temat:

Nowoczesna metoda badania zjawisk termomechanicznych materiałów na formy odlewnicze poddanych szokowi cieplnemu (Hot Distortion +)

Data wykonania ćwiczenia:

04.04.13r

Prowadzący:

prof. dr hab.inż. Z. Ignaszak

Ocena:

HOT DISTORTION - w metodzie tej najważniejszym badanym aspektem jest odpowiedź danego materiału na zadany mu szok cieplny - np. jaka jest rozszerzalność cieplna czy termoplastyczność. Materiały formierskie są poddawane podczas procesu zalewania wysokotemperaturowym zjawiskom, które mogą powodować naruszenie ich struktury - dlatego też powinny one być odporne na zmiany mechaniczne i termiczne.

Badania HD wykonuje się na przyrządzie DMA - próbka zostaje umieszczona na stojaku tuż nad palnikiem. Na próbce umieszczony jest czujnik przemieszczeń, dzięki któremu znamy zachowanie się próbki w procesie nagrzewania. Metoda HD została poszerzona o badanie zmian temperatury próbki - od dołu mamy kamerę termiczną a od góry pirometr (kamera nie jest tak dokładna je pirometr, ponieważ jest umieszczona pod kątem - nie można jej umieść docelowo pod próbką, gdyż tam właśnie umieszczony jest palnik).

W typowej aparaturze DMA próbka powinna być nagrzewana przez lampę halogenową jednak jest to rozwiązanie mało dokładne: próbka podczas ogrzewania osypuje się i zakrywa lampę halogenową co w jakiś sposób fałszuje wyniki pomiarów.

Próbka podczas nagrzewania uplastycznia się, a przez to ugina (dlatego badamy przemieszczenie), jednakże tuż przed zerwaniem (pęknięciem) staję się na tyle lekka, że pod wpływem temperatury unosi się.

W metodzie tej nie obciążamy próbki - jest ona obciążona własnym ciężarem.

Przebieg ćwiczenia:

  1. Umieszczenie próbki w stojaku

  2. Umieszczenie palnika w odpowiednim miejscu

  3. Zamocowanie kamery, pirometru i czujnika przemieszczeń

  4. Ustawienie odpowiednich parametrów dla narzędzi pomiarowych (częstotliwość zapisu danych, zakres pomiarowy)

  5. Uruchomienie zapisu pomiaru (w programie kamery, pirometru i czujnika)

  6. Włączenie palnika i obserwacja zachowania próbki

  7. Wyłączenie aparatury po pęknięciu próbki

  8. Analiza wyników

PODSUMOWANIE - metoda HD daje nam bardzo dokładny obraz tego jak materiał reaguje na szok termiczny. Dzięki temu wiemy jakie naprężenia występują w materiale podczas zalewania formy, jaka jest prognoza stref zagrożonych pęknięciem. Stan materiału formy wpływa w dużym stopniu na jakość odlewu. W próbie tej możemy zbada takie aspekty jak: temperatura spiekania, wskaźnik ogniotrwałości, straty prażenia, przepuszczalność. Na parametr HD wpływa gatunek osnowy, ale i stan powierzchni ziaren.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Udarność sprawko, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Metody badan, metody badań wyrobów i
udarnosci hofman, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Metody badan, metody badań wyrobów i
OP, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Miut
Wozniak-oprzyrzadowanie - ściąga, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Miut, archiwa, MiUT I
sciaga wozniak1, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Miut, archiwa, MiUT II
pytania EiUA 1 - poprawione, MiBM Politechnika Poznanska, VI semestr TPM, Elementy i ukladay automat
sprawko Hofman Varilock, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Systemy Narzędziowe
sprawko 3 hofman, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Systemy Narzędziowe
KONWENCJA BERNEŃSKA, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej,
Pojęcia, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej, wojtysiak,
Rodzaje utworów chronionych prawem autorskim, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona
Utwory pracownicze, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej,
najważniejsze podmioty, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektual
OWI full test, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej, wojty
1.abcd, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelektualnej, wojtysiak, O
ZAS PRZYWIL KOMUNIKACYJNEGO, MiBM Politechnika Poznanska, VII semestr TPM, Ochrona Własności Intelek

więcej podobnych podstron