Politechnika Wrocławska
Wydział Elektryczny |
Skład grupy:
|
Rok studiów III Studia dzienne Semestr VI Rok akad. |
||
Laboratorium z bezpieczeństwa elektrycznego |
||||
Grupa
|
Temat: Wpływ parametrów elementów sieci pracujących w układzie TN i TT na zagrożenie porażeniowe.
|
Ocena |
||
Data:
|
|
|
1.Cel ćwiczenia
Zbadanie wpływu istotnych parametrów sieci o układzie TN oraz TT na zagrożenie porażeniowe przy dotyku pośrednim
2.Schemat Układu
4.Tabele pomiarowe
Sieć TN
Badanie zagrożenia porażeniowego w przypadku braku ochrony przeciwporażeniowej przed dotykiem pośrednim
Rz = 0
Q1 i QZ1 zamknięte
Lp |
Rs |
ULS, |
ULE, |
|
[k] |
[V] |
[V] |
1 |
0 |
213 |
214 |
2 |
0,5 |
205 |
214 |
3 |
1 |
196 |
214 |
4 |
5 |
146 |
214 |
5 |
10 |
113 |
214 |
6 |
50 |
40 |
214 |
7 |
484 |
3 |
214 |
8 |
1000 |
2 |
214 |
Badanie zagrożenia porażeniowego przy zastosowaniu samoczynnego wyłączania zasilania. Łączniki Q1, QZ1, Q5 i Q8 - zamknięte
Rr = 2 Ω = const.,
Rz = 0,
RdPE = ∞,
RS = 0,
RL / RPE = var
Lp |
ULS |
UN |
IL1 |
RL |
RPE |
RL/RPE |
|
[V] |
[V] |
[A] |
[] |
[] |
|
1 |
106 |
0,15 |
101,3 |
1 |
1 |
1 |
2 |
194 |
0,14 |
19 |
1 |
10 |
0,1 |
3 |
213 |
0,18 |
2,2 |
1 |
100 |
0,01 |
4 |
37,7 |
0,18 |
36 |
5 |
1 |
5 |
5 |
204 |
0,17 |
2,1 |
5 |
100 |
0,05 |
6 |
70 |
0,18 |
14,2 |
10 |
5 |
2 |
7 |
1,9 |
0,14 |
2 |
100 |
1 |
100 |
Rr = 2 Ω = const.,
Rz = 0, RdPE = ∞, RS = 0,5kΩ, RL / RPE = var
Lp |
ULS |
UN |
IL1 |
RL |
RPE |
RL/RPE |
|
[V] |
[V] |
[A] |
[] |
[] |
|
1 |
88 |
0,15 |
101,6 |
1 |
1 |
1 |
2 |
161,8 |
0,18 |
19,2 |
1 |
10 |
0,1 |
3 |
177 |
0,22 |
2,2 |
1 |
100 |
0,01 |
4 |
31,4 |
0,16 |
35,8 |
5 |
1 |
5 |
5 |
170 |
0,15 |
2,2 |
5 |
100 |
0,05 |
6 |
58,1 |
0,17 |
14,4 |
10 |
5 |
2 |
7 |
1,6 |
0,14 |
2,2 |
100 |
1 |
100 |
Q8 - otwarty,
RL = 1Ω = const,
RdPE = var,
RS = 0,
Lp |
ULS |
UN |
IL1 |
Rdpe |
|
[V] |
[V] |
[A] |
[] |
1 |
84,9 |
87,9 |
39,2 |
2 |
2 |
131 |
56,8 |
25,7 |
5 |
3 |
163 |
36 |
16,1 |
10 |
4 |
185 |
16,8 |
8,6 |
20 |
5 |
191 |
12,7 |
6,3 |
30 |
6 |
209 |
4,2 |
2,3 |
100 |
7 |
216 |
0,14 |
0,1 |
Ⴅ |
Q8 - otwarty,
RL = 1Ω= const,
RdPE = var,
RS = 0,5kΩ;
Lp |
ULS |
UN |
IL1 |
Rdpe |
|
[V] |
[V] |
[A] |
[] |
1 |
109,8 |
57,4 |
25,5 |
5 |
2 |
135,9 |
30,4 |
16,2 |
10 |
3 |
156.7 |
14,2 |
8,7 |
20 |
4 |
162,6 |
10,2 |
6,5 |
30 |
5 |
174,4 |
3,6 |
2,2 |
100 |
Sieć TT
RA=var
Rr, R1, R3 =const
Rz=const=0
UL3=napięcie dotykowe
Lp |
Rr |
RA1 |
R2 |
R3 |
R1 |
ULS |
Ul1 |
Ul2 |
Ul3 |
|
[] |
[] |
[] |
[] |
[] |
[V] |
[V] |
[V] |
[V] |
1 |
1 |
2 |
0 |
0 |
1 |
110,2 |
166,4 |
245 |
112 |
2 |
1 |
5 |
0 |
0 |
1 |
117,1 |
179,3 |
178 |
177 |
3 |
1 |
10 |
0 |
0 |
1 |
194,1 |
204,4 |
220 |
220 |
4 |
1 |
20 |
0 |
0 |
1 |
196,8 |
210,3 |
212 |
217 |
5 |
1 |
40 |
0 |
0 |
1 |
204,3 |
211,2 |
218 |
219 |
Rr=var
Rr, R1, R3, Rz=const
UL3=napięcie dotykowe
Lp |
Rr |
RA1 |
R2 |
R3 |
R1 |
ULS |
Ul1 |
Ul2 |
Ul3 |
|
[] |
[] |
[] |
[] |
[] |
[V] |
[V] |
[V] |
[V] |
1 |
2 |
2 |
0 |
5 |
1 |
59 |
115 |
125 |
180 |
2 |
5 |
2 |
0 |
5 |
1 |
39 |
120 |
125 |
115 |
3 |
10 |
2 |
0 |
5 |
1 |
23 |
130 |
125 |
119 |
R3 =var
Rr, R1, R3, Rz=const
Lp |
Rr |
RA1 |
R2 |
R3 |
R1 |
ULS |
Ul1 |
Ul2 |
Ul3 |
|
[] |
[] |
[] |
[] |
[] |
[V] |
[V] |
[V] |
[V] |
1 |
1 |
2 |
0 |
0,5 |
1 |
106 |
158 |
234 |
235 |
2 |
1 |
2 |
0 |
5 |
1 |
76 |
112 |
166 |
168 |
3 |
1 |
2 |
0 |
50 |
1 |
20 |
164 |
243 |
245 |
5.Wnioski
Pomiary napięcia dotykowego dla różnych uszkodzeń, oraz różnych wartości rezystancji stanowiska, przewodów oraz uziemień, pozwalają na dokonanie oceny zagrożenia (czy spełniony jest warunek samoczynnego szybkiego wyłączenia lub czy wartości napięć dotykowych utrzymujące się długotrwale są bezpieczne w danych warunkach).
Dla sieci TN:
wzrost rezystancji stanowiska jak również wzrost liczby uziemień dodatkowych obniża napięcie dotykowe, (dla sieci TT wzrost liczby uziemień dodatkowych daje skutek odwrotny).
stosunek rezystancji przewodów fazowych do rezystancji przewodu ochronnego obniża napięcie dotykowe i prąd zwarciowy przy zerowej rezystancji stanowiska
w przypadku przerwy w przewodzie ochronnym znaczna rezystancja stanowiska zwiększa zagrożenia porażeniem
Dla sieci TT:
wzrost rezystancji przejścia w miejscu zwarcia obniża wartość napięcia dotykowego
.