Sprawozdanie 44, egzamin, laborki


Jonasz Załęski 25.10.2006

150301

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA

INSTYTUT FIZYKI

Sprawozdanie z ćwiczenia nr 44

Temat: Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury.

Cel ćwiczenia: Pomiar rezystancji metalu i półprzewodnika w funkcji temperatury oraz wyznaczenie temperaturowego współczynnika rezystancji metalu i szerokości przerwy energetycznej w półprzewodniku.

Opis układu pomiarowego.

0x01 graphic

W ćwiczeniu użyto Multimetrów typu 1331 oraz 1321.

Opis ćwiczenia i wyniki pomiarów

W temperaturze pokojowej (21,3C), rezystancja wynosiła odpowiednio:

półprzewodnik - 0,913 k

metal - 0,109 k

Poprzez stopniowe zwiększanie napięcie zasilania grzejnika za pomocą autotransformatora, powodowano wzrost temperatury w sposób przedstawiony w tabeli. Pomiar wykonywano co 5C.

Wzrost temperatury

Temperatura

Metal (Pt)

Stop półprzewodnikowy (NTC 21)

T [°C]

R [k Ω]

R [k Ω]

21,3

0,109

0,913

25

0,11

0,87

30

0,112

0,77

35

0,114

0,641

40

0,116

0,516

45

0,118

0,453

50

0,12

0,386

55

0,121

0,32

60

0,124

0,259

65

0,125

0,214

70

0,127

0,191

75

0,129

0,165

80

0,131

0,137

85

0,133

0,111

Po wyłączeniu autotransformatora, włączono wentylator w komorze pomiarowej. A od temp 50C włączono dodatkowo chłodzenie wodne.

Spadek temperatury

Temperatura

Metal (Pt)

Stop półprzewodnikowy (NTC 21)

T [°C]

R [k Ω]

R [k Ω]

21,3

0,109

0,913

25

0,11

0,87

30

0,112

0,77

35

0,114

0,641

40

0,116

0,516

45

0,118

0,453

50

0,12

0,386

55

0,121

0,32

60

0,124

0,259

65

0,125

0,214

70

0,127

0,191

75

0,129

0,165

80

0,131

0,137

85

0,133

0,111

Obliczenia

Tabela wyników obliczeń

NTC - 210

Pt

Temp [C]

Temp [K]

R [kΩ]

∆R [kΩ]

1000/T

ln R

R [kΩ]

∆R [kΩ]

21,3

294,45

0,913

0,0018

3,40

6,82

0,109

0,00022

25

298,15

0,87

0,0017

3,35

6,77

0,11

0,00022

30

303,15

0,77

0,0015

3,30

6,65

0,112

0,00022

35

308,15

0,641

0,0013

3,25

6,46

0,114

0,00023

40

313,15

0,516

0,0010

3,19

6,25

0,116

0,00023

45

318,15

0,453

0,0009

3,14

6,12

0,118

0,00024

50

323,15

0,386

0,0008

3,09

5,96

0,12

0,00024

55

328,15

0,32

0,0006

3,05

5,77

0,121

0,00024

60

333,15

0,259

0,0005

3,00

5,56

0,124

0,00025

65

338,15

0,214

0,0004

2,96

5,37

0,125

0,00025

70

343,15

0,191

0,0004

2,91

5,25

0,127

0,00025

75

348,15

0,165

0,0003

2,87

5,11

0,129

0,00026

80

353,15

0,137

0,0003

2,83

4,92

0,131

0,00026

85

358,15

0,111

0,0002

2,79

4,71

0,133

0,00027

80

353,15

0,116

0,0002

2,83

4,75

0,132

0,00026

75

348,15

0,124

0,0002

2,87

4,82

0,13

0,00026

70

343,15

0,135

0,0002

2,91

4,91

0,128

0,00026

65

338,15

0,151

0,0003

2,96

5,02

0,126

0,00025

60

333,15

0,17

0,0003

3,00

5,14

0,124

0,00025

55

328,15

0,198

0,0004

3,05

5,29

0,122

0,00024

50

323,15

0,234

0,0005

3,09

5,46

0,12

0,00024

45

318,15

0,263

0,0005

3,14

5,57

0,118

0,00024

40

313,15

0,293

0,0006

3,19

5,68

0,117

0,00023

35

308,15

0,344

0,0007

3,25

5,84

0,114

0,00022

30

303,15

0,43

0,0009

3,30

6,06

0,112

0,00022

25

298,15

0,559

0,0011

3,35

6,33

0,11

0,00022

20

293,15

0,773

0,0016

3,41

6,65

0,108

0,00021

Obliczenie temperaturowego współczynnika oporności

0x01 graphic

Obliczenie błędu temperaturowego współczynnika oporności

0x01 graphic

Obliczenie szerokości przerwy energetycznej

k - stała Boltzmanna, k = 1,38*10-23 [J/K]

R - rezystancja półprzewodnika w danej temperaturze

T - temperatura

Eg = 1,00912*10 -19 [J] = 0,631[eV]

Obliczenie błędu ∆Eg

0x01 graphic

Eg = 0,0056[eV]

Wnioski

W doświadczeniu temperaturą odniesienia była t = 21,3*C (taka temperatura panowała w pomieszczeniu laboratoryjnym).

Na błędy pomiarowe w tym ćwiczeniu mogło mieć wpływ kilka czynników, takich jak:

- niedokładność odczytu wartości temperatury z termometru,

-wpływ rezystancji przewodów i połączeń;

- opóźnienie odczytu rezystancji względem odczytu temperatury (szczególnie dla półprzewodnika).

- w mniejszym stopniu błędy użytych mierników cyfrowych;

Wyniki otrzymane w doświadczeniu potwierdzają wzrost rezystancji metali wraz ze wzrostem temperatury oraz jej spadek dla półprzewodników. Różnice między ogrzewaniem i schładzaniem dla metalu są prawie niezauważalne. Dla półprzewodnika są za to bardzo znaczące. Można powiedzieć, że wyniki otrzymane podczas nagrzewania są dokładniejsze, ponieważ temperatura zmieniała się dużo wolniej w porównaniu do ochładzania.

4



Wyszukiwarka