Badanie parametrów kondensatorów i cewek, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium


0x01 graphic
Konrad Szafrański Grzegorz Łaszkiewicz Wrocław 27.01.2000r.

Ćwiczenie nr 1

Badanie parametrów kondensatorów i cewek

mostkami prądu zmiennego.

1. Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z parametrami oraz obsługą fabrycznych mostków prądu zmiennego. Pomiary wartości pojemności kondensatorów , indukcyjności cewek przy prądzie zmiennym oraz odczytanie wartości współczynnika stratności .

2.Spis przyrządów:

-kondensator C1 - 0,5 μF

-kondensator C2 - 1,0 μF

-kondensator C3 - 2,1 μF

-kondensator C4 - 10 μF

Niedokładność mostka E314: zakr. 0.01¸111mF 0.1% ± 1 działka

zakr. 0.01mH¸1.11H 0.2% ± 1 działka fn = 1000 Hz

Niedokładność mostka E315A: zakr. 0.001pF¸99.99nF ± 0.1% ± 3 cyfry

zakr. 0,1pF¸0,9999μF ± 3% ± 3 cyfry

zakr. 1,000 do 9,999 μF ± 0.3% ± 3 cyfry

fn = 1000 Hz ± 2 Hz

Niedokładność E318: zakr. do 1mF : ±0,2% Cx+0,02%CZ

do 10mF: ±0,3% CX+0,02%CZ

3.Program ćwiczenia:

3.1Pomiar parametrów kondensatorów mostkami E315A , E314 .

3.2Pomiar parametrów indukcyjności dekadowej mostkiem E314.

Schemat blokowy mostka transformatorowego E 315:

0x01 graphic

Układ do pomiaru wartości elementów LC:

0x01 graphic

4. Tabele pomiarowe:

Mostek E314:

Automatycznie

Ręcznie

tgα

ΔCA

ΔCR

CA± ΔCA

CR± ΔCR

C1

440,5nF

440,7nF

0,002

0,5 nF

0,5 nF

440,5±0,5nF

440,7±0,5nF

C2

905,6 nF

905,8 nF

0,009

1 nF

1 nF

906±1 nF

906±1 nF

C3

2,284 mF

2,285 mF

0,014

0,003 mF

0,003 mF

2,284±0,003 mF

2,285±0,003 mF

C4

9,837m

9,839 mF

0,013

0,001 mF

0,001mF

9,837±0,001 mF

9,839±0,001 mF

CA - wartość zmierzona automatycznie

CR - wartość zmierzona ręcznie

Błąd bezwzględny pomiaru pojemności

0x01 graphic

E 318:

Tabela pomiarowa:

CX [mF]

tgα

ΔCX[mF]

CX±ΔCX[mF]

C1

0,6394

0,08

0,001

0,639±0,001

C2

0,9029

0,0742

0,002

0,903±0,002

C3

2,295

0,0154

0,007

2,295±0,007

C4

9,860

0,0194

0,02

9,86±0,02

Przykładowe obliczenia:

0x01 graphic

Mostek E 315A:

Tabela pomiarowa:

Cx [mF]

tgα

ΔCX[mF]

CX±ΔCX[mF]

C1

0,440

0,016

0,01

0,44±0,01

C2

0,9068

0,0066

0,03

0,91±0,03

C3

2,286

0,0087

0,01

2,29±0,01

C4

9,860

0,0224

0,03

9,86±0,03

Przykładowe obliczenia:

0x01 graphic

5. Wnioski

Pomiary wykonane przez nas nie różniły się znacznie od siebie.

Pomiar wykonany mostkiem transformatorowym E315A jest obarczony nieznacznie większym błędem niż pomiar mostkiem czteroramiennym E314, ale wartości uzyskane w pomiarach są prawie identyczne. Świadczy to o małej różnicy błędów pomiarów obu mostkami.

Z wyników pomiarów wyraźnie widać rozbieżność pomiędzy wartością zmierzoną a wartością nominalną kondensatorów. Jest to wynikiem niedokładnego wykonania kondensatorów tych samych typów, a także istnienia niewielkiej pojemności wejściowej przyrządów (zazwyczaj wielkość ta jest pomijalnie mała).

Niestety na pozostałe pomiary nie wystarczyło nam czasu i nie mogliśmy potwierdzić założeń teoretycznych.

Nie policzyliśmy błędów indukcyjności nastawionej gdyż wzorzec dekadowy nie miał podanej swojej klasy dokładności.

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Badanie czujników ciśnienia, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
pom nap okr zm 1, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
pom mocy ukl trojfaz, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
pom czestot, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Wzmacniacz pomiarowy[2], Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
WPROWAdzenie, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Inteligentne przyrządy pomiarowe, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
pom nap okr zm a, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Błędy graniczne przyrządów pomiarowych, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Pomiary rezystancji [2], Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Identyfikacja właściwości dynamicznych termometrów elektrycznych, Informatyka, Podstawy miernictwa,
Sprawdzenie przyrządów pomiarowych, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Podstawowa aparatura pomiarowa [2], Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
przetworniki CA, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Statystyczna analiza wyników pomiarów, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Podstawowa aparatura pomiarowa, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
WZMACNIACZ POMIAROWY, Informatyka, Podstawy miernictwa, Laboratorium
Pomiar parametrow kondensatorow i cewek mostkami pradu zmiennego

więcej podobnych podstron