Politechnika Wrocławska
|
|
|
Laboratorium Pomiarów Elektrycznych |
||
Wydział Elektryczny
|
Błędy przypadkowe, ocena niepewności A i B |
|
Cel ćwiczenia;
Celem ćwiczenia była ocena niepewności typu A i B.
Schematy układów pomiarowych;
Schemat układu dla pomiaru okresomierzem
Generator
T
Spis Przyrządów;
Okresomierz PFL /kz: T ± (0,02%Ti + 5 cyfr), q(t) =
Tabela pomiarów;
Lp |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
Ti [ms] |
10,0872 |
10,0901 |
10,0890 |
10,0904 |
10,0902 |
10,0951 |
10,0954 |
10,0906 |
10,0974 |
10,1108 |
10,1106 |
10,1176 |
10,1190 |
10,1103 |
|
Lp |
Ti |
|
( |
LP |
Wynik |
|
1 |
10,0890 |
-0,0100 |
0,00009917 |
|
10,0990 |
|
2 |
10,0901 |
-0,0089 |
0,00007847 |
|
|
|
3 |
10,0902 |
-0,0088 |
0,00007671 |
|
|
|
4 |
10,0904 |
-0,0086 |
0,00007325 |
|
|
|
5 |
10,0906 |
-0,0084 |
0,00006986 |
|
|
|
6 |
10,0951 |
-0,0039 |
0,00001489 |
|
|
|
7 |
10,0954 |
-0,0036 |
0,00001266 |
|
|
|
8 |
10,0974 |
-0,0016 |
0,00000243 |
T = 10,0990 ± p = 0,95; n = 12 |
|
|
9 |
10,1103 |
0,0113 |
0,00012863 |
|
|
|
10 |
10,1106 |
0,0116 |
0,00013553 |
|
|
|
11 |
10,1108 |
0,0118 |
0,00014023 |
|
|
|
12 |
10,1176 |
0,0186 |
0,00034751 |
|
|
|
78 |
121,188 |
0 |
0,00117933 |
|
Obliczenia
Obliczenie wartości średniej
Obliczenie niepewności typu A
Obliczenie niepewności typu A średniej
Obliczenie niepewności typu B średniej
Obliczenie niepewności typu C wartości średniej
Obliczenie niepewności typu A i B dla wartości średniej
Obliczenie niepewności relatywnej A i B.
Wykres
Wykres punktowy wyników pomiarów
Wnioski
Z błędami przypadkowymi mamy do czynienia zawsze. Wynikają one z różnych przypadkowych i nie dających się uwzględnić czynników takich jak; wahania temperatury, ruch powietrza w pobliżu przyrządu pomiarowego lub drgania wywołane przejściem osoby w pobliżu przyrządu pomiarowego. O istnieniu błędów przypadkowych świadczy niepowtarzalność wyników pomiaru jednej i tej samej wielkości. Błędy przypadkowe redukuje się poprzez wielokrotne powtarzanie pomiaru , im więcej zrobimy pomiarów, wartość średnia będzie bardziej dokładnie opisywać wielkość mierzoną.