CWn12, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe


12. PRZEŁĄCZANIE TRANZYSTORA

BIPOLARNEGO

12.1. Warunki pracy tranzystora jako przełącznika

W układach impulsowych i cyfrowych tranzystory bipolarne pracują zwykle w konfiguracji OE, przełączane z zakresu nasycenia w zakres odcięcia, czyli ze stanu załączenia (ON) w stan wyłączenia (OFF) - i odwrotnie (rys.12.1).

0x01 graphic

W tych warunkach pracy uzyskuje się duże zmiany prądów i napięć na wyjściu tranzystora. Z npK dla obwodu wyjściowego uzyskujemy równanie prądowe dla prostej obciążenia z nachyleniem 0x01 graphic
, naniesionej na charakterystyki wyjściowe iC(uCE, i)

0x01 graphic
(12.1)

Przy właściwie dobranej rezystancji obciążenia RC przejście pomiędzy obu stanami (punktami 1. i 2.) jest kontrolowane przez prąd bazy. Przy prądzie ujemnym -IB2 i ujemnym potencjale bazy złącze emiterowe tranzystora n-p-n jest spolaryzowane zaporowo i tranzystor jest wyłączony (w 2. punkcie pracy płynie tylko prąd rewersyjny kolektora ICEO). Natomiast przy dostatecznie dużym potencjale dodatnim na bazie i prądzie IBA tranzystor wchodzi w zakres nasycenia. W tym zakresie dalsze zwiększenie prądu bazy (do IB1) nie wywołuje znaczących przyrostów prądu kolektora IC, a tranzystor wykazuje zwarcie (załączony klucz). Obserwujemy także spadek współczynnika wzmocnienia prądowego Fsat względem jego wartości w zakresie liniowym: Fsat <F (typowa wartość Fsat10).

W rzeczywistym tranzystorze n-p-n napięcie na kolektorze względem emitera w stanie nasycenia pozostaje dodatnie CEsat 0, a napięcie na kolektorze względem bazy staje się ujemne UCB<0 (bez konieczności zmiany polaryzacji źródła UCC !).Napięcie UCEsat jest sumą algebraiczną źródeł napięciowych obu złącz spolaryzowanych w kierunku przewodzenia (rys.12.1d), nie wynosi zatem więcej niż 200 mV. UCEsat może być wyznaczone z równań Ebersa-Molla

0x01 graphic
(12.2)

Aby to napięcie było jak najmniejsze, a prąd nie zależał od współczynnika wzmocnienia prądowego, tranzystor impulsowy powinien być przesterowany prądem IB1>IBA w zakres nasycenia (rys.12.2). W tych warunkach pracy w rzeczywistych tranzystorach dyskretnych UCEsat może osiągać znaczne wartości, nawet do 0,3 V. Przy znacznych wartościach prądu ICsat bowiem pojawiają się spadki napięć na rezystancjach szeregowych emitera EE­ i kolektora rCC . W ten sposób zamiast zależności (12.2) do oceny wielkości UCEsat można wykorzystać zależność przybliżoną

0x01 graphic
(12.3)

Przesterowanie nastąpi przy prądzie IB1 na tyle dużym, że FIB1>IC1, i wówczas prąd kolektora wyniesie

0x01 graphic
(12.4)

Natomiast prąd kolektora w zakresie odcięcia wynosi

0x01 graphic
(12.5)

Rezystancja w stanie wyłączenia jest więc równa

0x01 graphic
(12.6)

Dynamiczne przełączenia tranzystora ze stanu wyłączenia do załączenia (i odwrotnie) zachodzą według przebiegów czasowych prądów bazy i kolektora przedstawionych na rys.12.2. Na ich podstawie można wyznaczyć cztery podstawowe parametry czasowe przełączeń tranzystora:

- czas opóźnienia td,

- czas narastania tr,

0x01 graphic

Rys.12.2. Odpowiedzi tranzystora na idealny (prostokątny) impuls załączenia i przełączenia ze źródła napięciowego od UF do -UR:

a) - napięcia na złączu emiterowym,

b) - prądu bazy,

c) - prądu kolektora z zaznaczonym ładunkiem przesterowania bazy QS

d) - napięcia na tranzystorze

Suma czasów opóźnienia i narastania jest nazywana czasem włączenia tON tranzystora; tON=td+tr, a suma czasów magazynowania i opadania - czasem wyłączenia tOFF tranzystora; tOFF=tS+tf .

12.2. Równanie kontrolne ładunku bazy

Wprowadzenie tranzystora n-p-n w stan nasycenia oznacza, że potencjał na bazie jest większy niż na kolektorze, a więc nastąpiło odwrócenie polaryzacji złącza kolektorowego w kierunku przewodzenia. W tym stanie kolektor, podobnie jak emiter, wstrzykują z obu stron elektrony do bazy. Analizując napływ i rozkład ładunku nadmiarowych elektronów w bazie (rys.12.3), założymy, że QB jest ładunkiem dla pracy normalnej aktywnej, natomiast ładunek QS powstaje po zmianie polaryzacji złącza kolektorowego. Za przeciąganie sygnału prądowego (rys.12.2c) odpowiada właśnie ładunek nadmiarowy QS, nazywany także ładunkiem magazynowania.

0x01 graphic

Rys.12.3. Ładunki nadmiarowe w obszarze bazy tranzystora pracującego w stanie nasycenia

Ładunek QB wypełnia objętość o powierzchni bocznej trójkąta o wysokości nB(0) (rys.12.3), przekroju początkowym A i podstawie o szerokości bazy xB - a zatem wynosi

0x01 graphic
(12.7)

Prąd kolektora IC jest proporcjonalny do QB ze stałą 1/F

0x01 graphic
(12.8)

i jest prądem dyfuzyjnym, który przy liniowym rozkładzie elektronów w bazie i uwzględnieniu zależności (12.7) wynosi

0x01 graphic
(12.9)

Stąd stała

0x01 graphic
(12.10)

- jest czasem przelotu nośników mniejszościowych przez bazę, a jej odwrotność jest podstawowym składnikiem częstotliwości odcięcia tranzystora w konfiguracji OB: 0x01 graphic
.

Przy pracy normalnej aktywnej tranzystora w konfiguracji OE w warunkach stacjonarnych wielkość ładunku QB jest kontrolowana przez prąd bazy IB

0x01 graphic
(12.11)

gdzie BF - kolejna stała czasowa. Z zależności (12.8) i (12.10) łatwo wyznaczyć współzależność pomiędzy obiema stałymi czasowymi

0x01 graphic
(12.12)

Stała czasowa BF określa czas przywracania równowagi procesów iniekcji i rekombinacji nadmiarowych elektronów w bazie tranzystora n-p-n, tworzących prąd ­InE-InC oraz dziur iniektowanych z bazy do emitera jako prąd IpE. Dynamikę tych procesów opisuje równanie kontrolne ładunku bazy tranzystora

0x01 graphic
(12.13)

Prąd bazy większy od wartości

0x01 graphic
(12.14)

wprowadza tranzystor w stan nasycenia, w którym prądem od strony kolektora podtrzymywany jest w bazie ładunek dodatkowy QS. Wpływ tego prądu na całkowity prąd bazy dopiszemy do równania kontrolnego (12.14) - w ten sposób otrzymując równanie kontrolne ładunku dla stanu nasycenia:

0x01 graphic
(12.15)

Po przełączeniu prądu bazy z IB1 na -IB2 najpierw zanika ładunek QS, ale ładunek QB pozostaje niezmienny; czyli dQB/dt=0 w okresie czasu od 0+ do tS. Jeżeli przyjmiemy, że prąd IBA=QB/BF wprowadza tranzystor w nasycenie, to jego stan równowagowy w okresie przed przełączeniem (t=0-) jest opisany warunkami dQB/dt=0 i dQS/dt=0. Zatem w stanie nasycenia z równania (12.15) pozostaje tylko

0x01 graphic
(12.16)

czyli

0x01 graphic
(12.17)

To ostatnie równanie zapisane jako 0x01 graphic
jest warunkiem początkowym dla ogólnego rozwiązania równania kontrolnego (12.16) w postaci

0x01 graphic
(12.18)

Zgodnie z definicją tS, po tym czasie znika ładunek nadmiarowy QS z obszaru neutralnego bazy, a tranzystor pracuje na granicy zakresu normalnego z prądem IC1 i wzmocnieniem F. Jeżeli więc przyrównamy ten ładunek do zera: QS(t=tS)=0, to uzyskamy wyrażenie na ts

0x01 graphic
(12.19)

Obserwując zatem przy pomocy oscyloskopu impulsy na tranzystorze (rys.12.2) z czasem ts, możemy wyznaczyć na podstawie powyższej zależności parametr S. W katalogach tranzystorów impulsowych podawane są wartości parametru materiałowego s oraz wielkość prądu bazy IBA, przy której dany typ tranzystora wchodzi w stan nasycenia. Wartości B1 i IB2 zależą od parametrów źródła przełączającego tranzystor.

Jeżeli tranzystor załączymy impulsowym napięciem prostokątnym u>>UBE(ON)>0 w chwili t= 0, to popłynie przez niego prąd kolektorowy, który po pewnym czasie osiągnie stałą wartość IC (rys.12.4). W okresie t>0 prąd w układzie zewnętrznym bazy wynosi

0x01 graphic
(12.20)

Z drugiej strony prąd bazy w tranzystorze jest opisany równaniem kontrolnym (12.13), które z powyższym warunkiem początkowym dla t>0 ma rozwiązanie szczególne

0x01 graphic

0x01 graphic
(12.21)

Jednakże z zależności (12.8) mamy, że IC=QB//F, zatem także

0x01 graphic
(12.22)

zaś uwzględniając, że F =BF/F otrzymamy dalej

0x01 graphic
(12.23)

Wykres tej zależności przedstawia rys.12.4b. Zauważmy, że iC(∞C= FIB, oraz że przy t=BF prąd kolektora osiąga 63% swojej wartości końcowej. Stąd mamy prosty sposób na wyznaczenie średniego czasu życia nośników mniejszościowych w obszarze neutralnym bazy. Jeżeli bowiem odwrócimy zależności w wyrażeniu (12.23), to czas będzie funkcją prądu kolektora

0x01 graphic
(12.24)

stąd dalej

0x01 graphic
(12.25)

oraz

0x01 graphic
(12.26)

Czas narastania sygnału tr wynosi zatem

0x01 graphic
(12.27)

Kondensator C zwierający rezystor RB w obwodzie bazy skutecznie przyśpiesza reakcję prądową tranzystora bipolarnego. Można wykazać, że przy progowym wysterowaniu tranzystora, gdy

RBC = BF (12.28)

to odpowiedź tranzystora też będzie progowa.

12.3. Przebieg ćwiczenia

Podczas ćwiczenia badamy parametry impulsowe tranzystora BC107(n-p-n) sterowanego dużymi sygnałami przełączającymi w obszarze pracy normalnej (w trybie prądowym) oraz sygnałami przełączającymi tranzystor pomiędzy zakresami odcięcia i nasycenia (w trybie nasycenia).

Badania w obszarze aktywnym przeprowadzamy w układzie pomiarowym zmontowanym według rys.12.5.

0x01 graphic

Przede wszystkim ustalamy punkt pracy na prostej obciążenia z rezystancją RC=R1=100 , tak aby prąd stały kolektora wynosił 2 mA. Dla tego punktu pracy określamy wartość współczynnika wzmocnienia prądowego F, mierząc z kolei prąd bazy. Następnie tranzystor pobudzamy impulsami napięciowymi z generatora fali prostokątnej o częstotliwości 200 kHz tak regulując amplitudę impulsów, aby Ic=1 mA (amplituda). W tym stanie pracy tranzystora obserwujemy na oscyloskopie przebiegi czasowe prądu kolektora i wartości napięcia resztkowego uCE(t).

Na podstawie odrysowanych z oscyloskopu przebiegów należy określić tryb przełączeń oraz wyznaczyć ich czasy narastania tr, opadania tf oraz parametr ON według zależności (12.27).

Teraz zmieniamy wartość rezystancji obciążenia wstawiając rezystor R1=2 k oraz zmniejszamy częstotliwość fali prostokątnej do 50 kHz. Ponownie regulujemy prąd kolektora amplitudą fali, tak aby znowu Ic= 1 mA. Po wyregulowaniu szkicujemy przebiegi impulsowe prądu kolektora i wyznaczamy ich parametry czasowe. Porównujemy wartości tych parametrów z wynikami poprzednich analiz.

Przełączanie pomiędzy zakresami nasycenia i odcięcia obserwujemy na układzie zmontowanym według rys.12.6. Aby zaobserwować przełączanie w trybie nasycenia należy przesterować tranzystor dużymi impulsami prądowymi.

0x01 graphic

Generator fali prostokątnej powinien pracować przy f= 500 kHz. Po uzyskaniu na tranzystorze przebiegów prądów i napięć charakterystycznych dla tego trybu (patrz rys.12.2) szkicujemy uzyskane na oscyloskopie przebiegi na wzajemnie zorientowanych osiach czasu i wyznaczamy parametry czasowe impulsów przełączających.

Rys.12.6. Układ do obserwacji przełączania pomiędzy zakresami nasycenia i odcięcia.

Zwrócić uwagę na warunki pomiarów; aby były one bez znacznych obciążeń i sprzężeń, używamy w tym celu oznaczonych sond pomiarowych.

Stałe czasowe obliczamy posługując się zależnościami z analizy ładunkowej przełączeń. W tym celu konieczne jest jeszcze wyznaczenie współczynnika wzmocnienia prądowego przy pracy inwersyjnej R. Współczynnik mierzymy w układzie pomiarowym przedstawionym na rys.12.7. jako relację prądów iE/iB przy IE=10 mA.

0x01 graphic

Rys.12.7. Układ do wyznaczenia współczynnika wzmocnienia prądowego przy pracy inwersyjnej R

Następnie tranzystor przenosimy do układu pomiarowego z kluczowanym źródłem prądowym (KZP w module TM3), zmontowanego według rys.12.8.

0x01 graphic

Właściwe warunki pomiaru wymagają równych amplitud prądowych impulsów sterujących w obwodzie bazy. Regulując potencjometrami z boku modułu ustalamy amplitudy na IB1=IB2= 1 mA przy częstotliwości 500 kHz generatora zewnętrznego, sterującego źródłem KZP. Z uzyskanych w tych warunkach pracy tranzystora przebiegów czasowych, obserwowanych na oscyloskopie, należy wyznaczyć parametr s według zależności (12.19).

Rys.12.8. Tranzystor przełączany kluczowanym źródłem prądowym

1

92



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
SPIS-i-ORG 05, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CW-OZNA, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn14, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn7, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWp13, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CW7, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWL8, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CW15Ub, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWpp15, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn15, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
Cwn9VEE, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CWn9, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
CwS1, 3 semestr, Przyrządy Półprzewodnikowe
Przyrządy półprzewodnikowe (2)
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 5 , LABORATORIUM FIZYCZNE
Materiałoznawstwo, Badanie właściwości materiałów i przyrządów półprzewodnikowych, POLITECHNIKA LUBE
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 1 , Pomiar pierwszy

więcej podobnych podstron