Pomiary odchyłek geometrycznych; pomiar odchyłki płaskości, Sprawozdania


Wydział Budowy Maszyn i Informatyki Data przeprowadzonych zajęć 02-03-2010

Rok akademicki 2009/2010

Studia: stacjonarne/inż.

Semestr: 4

Kierunek: ZiIP

Grupa: Wtorek - godz. 14.15-16.00

LABOLATORIUM

METROLOGII TECHNICZNEJ

Laboratorium nr 3

Pomiary odchyłek geometrycznych; pomiar odchyłki płaskości

  1. CEL ĆWICZENIA

Celem ćwiczenia było zapoznanie się z budową i przeznaczeniem poziomicy koincydencyjnej, kątowników, liniałów sinusowych oraz zapoznanie się z możliwymi procedurami pomiaru odchyłki płaskości za pomocą mostka i poziomicy koincydencyjnej.

  1. WSTĘP TEORETYCZNY

Liniał sinusowy, sinuśnica - przyrząd pomiarowy do dokładnego pomiaru kątów lub odwzorowania kątów.

Do pomiaru liniałem sinusowym niezbędna jest płaska płyta pomiarowa i płytki wzorcowe. Gdy liniał zostanie umieszczony na płycie pomiarowej, to górna płaszczyzna liniału będzie równoległa do powierzchni płyty pomiarowej. Jeśli jeden koniec liniału będzie uniesiony za pomocą płytek wzorcowych podłożonych pod walec, to znając wysokość stosu płytek można za pomocą funkcji trygonometrycznych wyliczyć kąt pochylenia liniału.

0x01 graphic

Kątownik -wyrób hutniczy, walcowany lub gięty z metalu. Wytwarzany w postaci prostych odcinków. Jego przekrój poprzeczny (profil) tworzy kąt prosty. Rozróżniamy kątowniki równoramienne i kątowniki nierównoramienne.

  1. PRZEBIEG ĆWICZENIA

Wskazania które odczytałyśmy z poziomicy koincydencyjnej umieściłyśmy w tab. 1

Tab.1

Tab.1. Odczyt z poziomicy koincydencyjnej

Punkt Bazowy-

mierzony

Wskazanie

mm/m

Wskazanie

1mm/liniał

(0,1m)

Punkt Bazowy-

mierzony

Wskazanie

mm/m

Wskazanie

1mm/liniał

(0,1m)

1-2

1,965

-0,804

16-17

1,950

-0,805

2-3

1,905

-0,810

17-18

1,938

-0,807

3-4

1,955

-0,805

18-19

1,939

-0,807

4-5

1,980

-0,802

19-20

1,955

-0,805

6-7

1,949

-0,806

21-22

1,952

-0,805

7-8

1,948

-0,806

22-23

1,920

-0,808

8-9

1,940

-0,806

23-24

1,915

-0,809

9-10

1,932

-0,807

24-25

1,939

-0,807

11-12

1,928

-0,808

1-6

9,871

-0,013

12-13

1,929

-0,808

6-11

9,831

-0,017

13-14

1,948

-0,806

11-16

9,78

-0,022

14-15

1,941

-0,806

16-21

9,642

-0,036

Następnie obliczyłyśmy wskazania osi „z” wg schematu

0x01 graphic

Wij - wskazania poziomicy

0x01 graphic

PRZYKŁAD OBLICZEŃ:

0x01 graphic

Później wyznaczyłyśmy płaszczyznę średnią metodą najmniejszych kwadratów.

Najprostszym sposobem wyznaczenia parametrów a, b i c równania płaszczyzny średniej w postaci:

Z= ax + by + c

Dla zarysu zdefiniowanego przez zbiór punktów jest wykorzystanie kryterium najmniejszej sumy kwadratów. Dla płaszczyzn nachylonych pod niewielkim kątem do płaszczyzny xy układu współrzędnych kryterium to ma postać:

0x01 graphic

Gdzie:

0x01 graphic
- współrzędne i- tego punktu;

n- liczba punktów;

a, b, c- parametry równania płaszczyzny średniej;

Wartość parametrów a, b, c równania płaszczyzny wyznacza się jako rozwiązanie następującego układu równań ( liniowych):

0x01 graphic

Rozwiązanie układu jest następujące:

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

gdzie:

0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic

OBLICZENIA:

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Wartość współczynników a, b, c:

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Natomiast odległość punktów od płaszczyzny średniej wyznacza się wg wzoru:

0x01 graphic

PRZYKŁAD OBLICZENIA:

0x01 graphic

Odchyłka płaskości:

0x01 graphic

0x01 graphic

Wszystkie obliczenia umieściłyśmy w tab. 2, obliczenia zostały wykonane w programie Microsoft Excel

Tab.2. Tabela wyników obliczeń.

Punkt

0x01 graphic
Xi

Yi

Zi

di

Punkt

0x01 graphic
Xi

Yi

Zi

di

1

0

0

0

-0,008

14

300

200

-2,452

0,004

2

100

0

-0,804

-0,005

15

400

200

-3,258

0,005

3

200

0

-1,614

-0,009

16

0

300

-0,052

0,007

4

300

0

-2,419

-0,007

17

100

300

-0,857

0,008

5

400

0

-3,221

-0,003

18

200

300

-1,664

0,008

6

0

100

-0,013

0,002

19

300

300

-2,471

0,007

7

100

100

-0,819

0,003

20

400

300

-3,276

0,009

8

200

100

-1,625

0,003

21

0

400

-0,088

-0,008

9

300

100

-2,431

0,004

22

100

400

-0,893

-0,007

10

400

100

-3,238

0,003

23

200

400

-1,701

-0,008

11

0

200

-0,030

0,007

24

300

400

-2,510

-0,011

12

100

200

-0,838

0,005

25

400

400

-3,317

-0,011

13

200

200

-1,646

0,004

Σxi 2 =15000000

yi =5000

n=25

Wc =4.625*10^10

Σxi yi =1000000

Σxi zi =-12280

W=6.25*10^12

Σxi=50000

Σyi zi =-8357

Wa =-5.04075*10^10

Σ yi2=1500000

Σzi=-41.237

Wb =-1.37*10^9

Klasa płyty wg normy PN - ISO 8512-1:1998

Narysował mi taką tabelkę :

Kl. dokładności płyty

C1

C2

0

0,003

2,5

1

0,006

5

2

0,012

10

3

0,024

20

t = c1*l + c2

t - tolerancja całej powierzchni roboczej płyty pomiarowej

l - długość nominalna przekątnej płyty

c1 i c2 - są stałe dla danej klasy dokładności płyty

l = 707

t = 0,003*707+2,5=4,621μm

t = 0,006*707+5=9,242μm

t = 0,012*707+10=18,484μm

t = 0,024*707+20=36,968μm

Tabela do wykresu:

0

100

200

300

400

0

-0,008

0,002

0,007

0,007

-0,008

100

-0,005

0,003

0,005

0,008

-0,007

200

-0,009

0,003

0,004

0,008

-0,008

300

-0,007

0,004

0,004

0,007

-0,011

400

-0,003

0,003

0,005

0,009

-0,011

0x01 graphic

  1. WNIOSKI:

Wykonanie pomiarów wymagało dużej ilości czasu, z wykresu można wywnioskować, że powierzchnia płyty traserskiej w rzeczywistości nie jest idealnie płaska. Klasa dokładności płyty wg PN - ISO 8512-1:1998 to 2 klasa dokładności



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Pomiar promieni krzywizny soczewki plasko- w p, Sprawozdania - Fizyka
Odchyłki kształtu, Sprawozdania
Pomiar napięcia powierzchniowego, Sprawolki
,miernictwo L,PRZETWORNIKI CYFROWO –ANALOGOWE POMIARY, WŁAŚCIWOŚCI, ZASTOSOWANIA sprawozdanie
WYZNACZANIE FUNKCJI TERMODYNAMICZNYCH REAKCJI Z POMIARÓW SEM OGNIWA, sprawozdanie SEM
pomiar chropowatości powierzchni sprawozdanie
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, miernictwo3-Marek, SPRAWOZDANIE
Laboratorium z techniki łączenia, Pomiar prędkości łuku, Sprawozdanie z ˙wicze˙ laboratoryjnych tech
Pomiar pośr rezystancji, Sprawolki
Metoda pomiaru przyspieszenia ziemskiego, Sprawozdania - Fizyka
pomiar współczynnika strat sprawozdanie
cw1-obwody pradu stalego pomiar rezystancji, Elektrotechnika, Sprawozdania elektrotechnika, Sprawozd
Pomiar prędkości światła, Sprawozdania - Fizyka
Pomiar Pojemności Kondensatora, Sprawozdania - Fizyka
Ćwiczenie M 6 Pomiar Natężenia Oświetlenia Sprawozdanie
Odchyłki płaskości
Pomiar napięć stałych, sprawozdania
Pomiar pojemności kondensatora (2), Sprawozdania - Fizyka
Odchylka plaskosci 2

więcej podobnych podstron