O.12.3, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, fizyka


Pracownia Zakładu Fizyki Technicznej Politechniki Lubelskiej

Nazwisko i imię Huk Tomasz

studenta:

Symbol grupy

MD 103.1c

Data wykonania ćwiczenia:

Symbol ćwiczenia:

O.12.3

Temat zadania:

Wyznaczanie charakterystyki prądowo-strumieniowej

fotoogniwa.

Zaliczenie:

Ocena:

Data:25,11,99

Podpis

  1. Tabela pomiarów.

S = 86,5 100x01 graphic
m0x01 graphic
r = 0,25 m

U [V]

I [A]

P [W]

0x01 graphic
[lm]

I0x01 graphic
[0x01 graphic
A]

7,4

1,225

9,065

0,64411

0,82

7,2

1,20

8,64

0,61391

0,80

7,0

1,20

8,4

0,59686

0,75

6,8

1,175

7,99

0,56773

0,72

6,6

1,15

7,59

0,53931

0,68

6,4

1,125

7,2

0,51159

0,64

6,2

1,125

6,975

0,49561

0,60

6,0

1,10

6,6

0,46896

0,54

5,8

1,075

6,235

0,44303

0,50

5,6

1,05

5,88

0,41780

0,46

5,4

1,025

5,535

0,39329

0,38

5,2

1,00

5,2

0,36948

0,30

5,0

1,00

5,0

0,35527

0,22

  1. Obliczenia.

P= U 0x01 graphic
I P-moc [P]=W

P0x01 graphic
= 7,4V 0x01 graphic
1,225A = 9,065W U-napięcie [U]=V

I-natężenie [I]=A

0x01 graphic
[0x01 graphic
]=lumen

0x01 graphic
-strumień świetlny padający na fotokomórkę

k=0,00155 wat/lumen dla światła o długości fali 0x01 graphic
555 nm [r]=m

r- odległość fotokomórki od żródła światła r=25cm=0,25m

S - powierzchnia przesłony

0x01 graphic
=0x01 graphic
=0x01 graphic
7446,398 0x01 graphic
0x01 graphic
= 0,64411 lm

  1. Krótka teoria.

0x08 graphic

Zasada budowy i działania fotoogniwa.

W ogniwie fotoelektrycznym mamy do czynienia z tzw. zjawiskiem fotowoltaicznym, które powstaje na granicy pomiędzy metalem a półprzewodnikiem pod wpływem promieni świetlnych. Dla przykładu omówimy tutaj budowę fotoogniwa miedziowego, którego schemat przedstawia powyższy rysunek Składa się z płytki wykonanej z czystej miedzi pokrytej

przeźroczystą dla światła cienką półprzewodzącą warstwą tlenku miedziowego. Od góry jako druga elektroda nałożona jest siatka z miedzi lub innego metalu. Jeśli połączymy siatkę B z płytką P przez elektrometr EL to wskaże on przepływ prądu o natężeniu If. Na granicy Cu - Cu20 powstaje warstwa zaporowa, która ma właściwości przepuszczania elektronów w kierunku: od tlenku miedziowego do miedzi. Wyzwolone pod wpływem światła z Cu20 elektrony przebywają warstwę zaporową i przechodzą do płytki miedzianej ładując ją ujemnie jednocześnie tlenek miedziowy i elektroda zewnętrzna (siatka) ładują się dodatnio. Tym samym w czasie oświetlania fotoogniwa powstaje na jego elektrodach różnica potencjałów, która jest podtrzymywana kosztem energii padających kwantów światła.

Zjawisko fotoelektryczne wewnętrzne. Fotoelementy pólprzewodnikowe.

przenikliwe promieniowanie świetlne może wyzwalać w kryształach wolne elektrony i dziury. to znaczy nośniki prądu. Zjawisko to nazywamy efektem fotoelektrycznym wewnętrzym w odróżnieniu od zjawiska fotoelektrycznego zewnętrznego, które zachodzi na powierzchni ciał. Uwolnione fotoelektrony, znajdując się w polu elektrycznym, przyczyniają się do powstawania fotoprzewodnictwa. Powstawanie swobodnych elektronów albo dodatnich dziur pod wpływem absorbowanego promieniowania zachodzi we wszystkich krysztalach będących izolatorami czy półprzewodnikami. W diamencie, który jest dobrym izolatorem, zjawisko fotoelektryczne zachodzi przy naświetlaniu kryształu promieniowaniem ultrafioletowym. W' kryształach krzemu i germanu oraz w selenie wywołuje je światło widzialne; niektóre związki, jak np. PbS uzyskuja przewodnictwo już pod wpływem podczerwieni.

Na zasadzie efektu fotoeIektrycznego wewnętrznego w pólprzewodnikach działają fotokomórki, tzw. zaporowe oraz fotoogniwa. Działanie fotokomórki zaporowej... W ciemności opór płytki półprzewodnikowej jeśt tak duży, że praktycznie prąd w obwodzie nie płynie. Oświetlenie płytki wytwarza w niej nośniki prądu, to jest swobodne elektrony i dziury; opór płytki, znacznie spada tak, że przyłożone do końców płytki napięcie elektryczne powoduje przepływ prapdu w obwodzie.

Fotoogniwo jest to urządzenie

przetwarzające energię świetlną na elektryczną. rys 70.1 przedstawia schematycznie przekrój fotoogniwa, tzw. miedziowego. Podstawowym materiałem jest tu tlenek miedzi Cu2O. Jest to półprzewodnik typu P, wykazujący przewodnictwo dziurowe. Nośnikami prądu są w nim zatem dziury, swobodnych elektronów natomiast prawie nie ma. Na płytkę miedzianą jest naniesiona warstwa

stwa Cu20, na którą jest napylona cienka warstwa metaiu np.: platyny, złota, srebra czy miedzi. Przypuśćmy, że warstwy, z których składa się fotoogniwo nie stykają się ze sobą. Wówczas każda z nich jest elektrycznie obojętna. W płytce z miedzi elektrony swobodne są rozłożone ze stałą gęstością, w warstwie Cu20 tak samo równomiernie są rozłożone dziury, a w warstewce Cu - swobodne elektrony {rys. '. ~.2). Jeżeli warstwy te zetkniemy ściśle ze soba, jak

to ma miejsce w przypadku fotoogniwa; to wskutek ruchu ładunków część elektronów z warstewki Cu przedyfunduje do Cu2O i na odwrót , pewna ilość dziur z Cu20 do warstewki Cu.

Wskutek tego na granicy obu warstw w warstewce Cu

gromadzi się ładunek dodatni, w warstwie Cu2O zaś ładunek ujemny. Te ładunki powierzchniowe wstrzymują dalszą dyfuzję dziur z warstwy Cu20 i elektronów z warstewki Cu.Podobna sytuacja będzie zachódżić na granicy warstwy Cu20 i plytki Cu. Powyższą sytuację przedstayia rys.

. : 3. W dolnej części te

go rysunku pokazano rozkład potenejału elektrycznego w trzech omawianych powyżej obsza

rach. Wskutek dyfuzji

elektronów z warstwy miedzi do warstwy Cu20 ' oraz dziur w kierunku odwrotnym, warstwy miedzi mają potenejał dodatni względem warstwy Cn20.

Jeżeli przez cienka warstewkę Cu pada na ogniwo promieniowanie 0 odpowiedniej długości fali, w pólprzewodniku Cu2O na granicy z warstewką Cu po

wstają dziury i swobodne elektrony, co narusza dotychczasową równowagę dyfuzyjną. Flektrony pod wpływem granicznego skoku potencjału przechodżą z warstwy Cu20 do warstewki Cu i po przewodniku zamykającym obwód dostają się do płyty Cu. Zwiększenie ilości elektronów w płytce Cu obniża jej potencjał, co powoduje zmniejszenie skoku potenejału na granicy warstwy Cu20 i płyty Cu. Umożliwia to przechodzenie elektronów z płyty Cu do warstwy Cu2O (rys. .4). W ten sposób zamyka się obwód prądu. W warstwie Cu2O elektrony rekombinują z dziurami, ale działające .wciąż promieniowanie wytwarza nowe pary dziura-elektron, co powoduje stały przepływ prądu elektrycznego. W ten sposób energia promieniowania zamienia się bezpośrednio na energię prądu elektrycznego.

Fotoogniwa znalazły szerokie zastosowanie w światłomierzach fotograficznych. Baterie fotoogniw stanowią również często źródło zasilania mechanizmów uruchamiających aparaturę w sztucznych satelitach i pojazdach kosmicznych.

4.Schemat ćwiczenia i opis wykonania.

Układ pomiarowy zestawiamy wg. Schematu:

0x08 graphic

Zestaw doświadczalny do pomiaru czułości fotoogniw.

z0x01 graphic
- zasilacz stabilizowany prądu stałego,

V-woltomierz 0 - 10 V,

A-amperomierz 0 - 5 A,

Ż- żarówka 6V / 20W,

F-fotoogniwo w osłonie (o powierzchni okienka S),

EL- elektrometr,

r- odległość między żarówką a fotoogniwem.

Źródło światła i fotoogniwo umieszczamy na ławie optycznej w odległości

r0x01 graphic
0,25m. Zakres elektrometru dobieramy tak, aby można było mierzyć maksymalne natężenie prądu dawanego przez fotoogniwo. Napięcie zasilania żarówki zmieniamy przy pomocy pokrętła zasilacza Z granicach od 6,6 V do 5,4 V co 0,2 V, mierząc za każdym razem natężenie prądu płynącego przez żarówkę (amperomierz A) oraz natężenie prądu dawanego przez fotoogniwo (elektrometr EL). Stosowanie szerszych przedziałów zmian napięcia na żarówce oświetlającej nie jest wskazane ze względu na to, że zbytnio zmieni się skład widmowy emitowanego przez nią promieniowania.

5.Opracowanie wyników pomiarów.

a) błędy przypadkowe

lp

x0x01 graphic
=0x01 graphic

[lm]

y0x01 graphic
=I0x01 graphic

[0x01 graphic
]

x0x01 graphic
=0x01 graphic

[lm0x01 graphic
]

x0x01 graphic
y0x01 graphic
=0x01 graphic
I0x01 graphic

[lm 0x01 graphic
]

w0x01 graphic

a

[0x01 graphic
]

b

[0x01 graphic
]

y0x01 graphic
=ax+b

[0x01 graphic
]

0x01 graphic
y=y0x01 graphic
-y

[0x01 graphic
]

(0x01 graphic
y0x01 graphic
)=(y -y)0x01 graphic

[0x01 graphic
]

1

0,64411

0,82

0,4149

0,5248

1

0,808

-0,025

0,000625

2

0,61391

0,80

0,3769

0,488

1

0,756

-0,056

0,003136

3

0,59686

0,75

0,3562

0,45

1

0,726

-0,022

0,000484

4

0,56773

0,72

0,3223

0,4104

1

0,675

-0,043

0,001849

5

0,53931

0,68

0,2908

0,3672

1

0,625

-0,053

0,002809

6

0,51159

0,64

0,2617

0,3264

1

1,746

-0,316

0,576

-0,063

0,003969

7

0,49561

0,60

0,2456

0,294

1

0,543

-0,057

0,003249

8

0,46896

0,54

0,2199

0,2538

1

0,509

-0,031

0,000961

9

0,44303

0,50

0,1963

0,22

1

0,459

-0,005

0,000025

10

0,41780

0,46

0,1745

0,1922

1

0,413

-0,046

0,021642

11

0,39329

0,38

0,1547

0,1482

1

0,375

-0,005

0,000025

12

0,36948

0,30

0,1365

0,111

1

0,341

0,041

0,001681

13

0,35527

0,22

0,1262

0,077

1

0,308

0,088

0,007744

0x01 graphic
=

=6,59293

0x01 graphic
=7,41

0x01 graphic
=

=3,4554

0x01 graphic
=

=3,953350

0x01 graphic
=13

Wartość a i b wyliczamy metodą wyznaczników Cramera : . 0x01 graphic
=0,098381

D = 0x01 graphic
=(13 3,45- 6,593 6,593)[lm0x01 graphic
] = 1,454 lm0x01 graphic

a = 0x01 graphic
= 1,746 0x01 graphic

b = 0x01 graphic
= - 0,316 0x01 graphic

Błędy którymi są obarczone a i b obliczamy stosując wzory na średnie odchylenia standardowe0x01 graphic
.

Gdzie n - liczba pomiarów

0x01 graphic
+ b- y0x01 graphic
= 0x01 graphic
- y

0x01 graphic
a =0x01 graphic
= 0x01 graphic
0,280 0x01 graphic

0x01 graphic
b = 0x01 graphic
0x01 graphic
= 0,1449 0x01 graphic

Interesujące nas równanie prostej zapiszemy w postaci

y = (a0x01 graphic
0x01 graphic
a)x+(b0x01 graphic
b)

I0x01 graphic
= (1,746 0x01 graphic
0,281) 0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic
+(-0,316 0x01 graphic
0,145) 0x01 graphic

0x08 graphic

b) Błąd względny maksymalny - metoda różniczkowa

0x01 graphic
(K) =0x01 graphic
=0x01 graphic
+0x01 graphic
+0x01 graphic
+0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic
(K) =0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic
- błąd bezwzględny pomiaru napięcia wynikający z niedokładności woltomierza.

0x01 graphic
- błąd bezwzględny pomiaru napięcia prądu spowodowany niedokładnością odczytu.

0x01 graphic

0x01 graphic
- błąd bezwzględny pomiaru natężenia wynikający z niedokładności amperomierza.

0x01 graphic
- błąd bezwzględny pomiaru natężenia prądu spowodowany niedokładnością odczytu.

0x01 graphic

0x01 graphic
- błąd bezwzględny pomiaru napięcia wynikający z niedokładności woltomierza.

0x01 graphic
- błąd bezwzględny pomiaru napięcia prądu spowodowany niedokładnością odczytu.

0x01 graphic
r = 2 mm

0x01 graphic
=0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0,0375 V 0x01 graphic
V

0x01 graphic
=0x01 graphic
=0x01 graphic
V

0x01 graphic
= 0x01 graphic
=0x01 graphic
A 0x01 graphic

0x01 graphic
= 0x01 graphic
= 0x01 graphic

0x01 graphic
=0x01 graphic
=0x01 graphic
=0,020x01 graphic
A 0x01 graphic
= 20x01 graphic
0,020x01 graphic
= . =0,040x01 graphic
A

0x01 graphic
= 0x01 graphic
=0x01 graphic
= 0,020x01 graphic
A

0x01 graphic
(K) = 0x01 graphic

0x01 graphic
(K) = 0,0533 + 0,0625 + 0,0196 + 0,016 = 0,1514

i wyrażając w procentach :

0x01 graphic
0,1514 100% = 15,14%

błąd bezwzględny maksymalny wynosi :

0x01 graphic
K =0x01 graphic
K0x01 graphic
= 0,1514 1,746 = 0,2643

wynik pomiaru zapiszemy :

K = (K0x01 graphic
0x01 graphic
0x01 graphic
)

n = (1,746 0x01 graphic
0,2643)

1,4812 < n < 2,0103

1

6

0x01 graphic



Wyszukiwarka