36

36



0

§17

Wybór wysokości fotografowania

1.    Wysokość fotografowania oblicza się dla ustalonej zaprojektowanej skali zdjęć i wybranego obiektywu wg zależności

W-fM,

2.    Wysokość lotu określa się względem średniej płaszczyzny obszaru fotografowania H».

1)    Dla terenów płaskich średnią płaszczyznę określa się dla całego rejonu:

H* = 1/2- (H_+H-)

t

0

0


gdzie u__Hń - ekstremalne wysokości w terenie odczytane z map.

2)    Dla terenów pofałdowanych wysokość lotu określa się oddzielnie dla każdego szeregu zdjęć. Średnią płaszczyznę obszaru określa się wg. wzoru: H. - H„, - 1/3- (tL,.- H„)

3.    W projekcie lotu podaje się wysokość fotografowania W. wysokość absolutną lotu W„ odniesioną do poziomu morza oraz wysokość lotu odniesioną do wysokości lotniska WM:

-    wysokość absolutna lotu:    4, = W + H„

—    wysokość lotu odniesiona do wysokości lotniska: Ww « W + H„ - Hw

¥

¥


§18

Wybór pokrycia podłużnego zdjęć

1.    Pokrycie podłużne określa pokrycie między sąsiednimi zdjęciami w szeregu i wyrażane jest w procentach. Projektowane zasadnicze pokrycie podtużne zdjęć lotniczych dla opracowań stereoskopowych wynosi standardowo p„ = 60%.

2.    Przy fotografowaniu terenów pofałdowanych pokrycie podłużne należy zwiększyć o wfiływ rzeźby terenu. Projektowane pokrycie wyniesie:

p[%] = P„[%] + 50^[%]

gdzie: p0 - zasadnicze pokrycie i(p0 = 60 %) ?

iH - maksymalne deniwelacjewystępujące w szeregu liczone względem średniej płaszczyzny danego szeregu.

3.    W przypadku fotografowania kamerą na podwieszeniu bez stabilizacji, projektowane pokrycie podłużne należy zwiększyć o:

1) 2% dla kamer szerokokątnych,

2)    4 % dla kamer normalnokątnych.

4. W szczególnych przypadkach pokrycie podłużne zdjęć może odbiegać od standardowego. Może to mieć miejsce w przypadkach:

1) zwiększonego pokrycia do około 70% w przypadku fotografowania miast

36


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
S6300316 (2) 4. Parcie poziome zasypki. Wartość sit normalnych oraz momentów od poziomego oblicza si
AnalizaFinansowaTeoriaPrakty6 Teoria i praktyku wuilizy finansowej e przetkiybiorsiwie Wskaźniki ob
3. Projektowanie wysokości fotografowania •    Wysokość fotografowania określa się
W projekcie nalotu fotogrametrycznego podaje się dodatkowo: • Wysokość absolutną lotu: H o = W + Hir
Pr» ruch X 4_Q (d2 - Jeżeli otrzymamy / Wysokość Hn nakrętki oblicza się z warunku
Energia, praca, moc 4. Z biurka o wysokości 80cm zsunął się ołówek, oblicz szybkość ołówka w chwili
Jak oblicza się maksymalną wysokość pozaodsetkowych kosztów kredytu: n/R * 30%) liczba dni w rokuMPK
t jt±>Bfi Wysokość HN nakrętki oblicza się z warunku nieprzekraczania dopuszczalnych
•w przypadku gdy powierzchnia projektowana jest płaszczyzną poziomą, jej wysokość oblicza się ze wzo
02 2 O 12. Czterochlorek węgla wznosi się w rurce kapilarnej o średnicy 0,04 cm na wysokość 1,7 cm.
1 Pu nkty: Pewien roztwór wodny w rurce kapilarnej wznosi się na wysokość 0 00278 m. Obliczyć promie

więcej podobnych podstron