fi Skaner HEIEI
Siatka: X:
Y:
Pozycja: X:
Pomiar | Kasuj
I* Pomiary autom. Wys. obiektu |200,00
Zapisz bitmapę |
T estowy
Skaner | Defektoskop ] ZR W ] Pomiary 2 • D
Pomiary 3 - D | Raport |