1 5(2)

ŁASKIEJ

POMIAR PARAMETRÓW JEDNOFAZOWEJ MIKROSTRUKTURY PŁASKIEJ

METODY POMIARU PARAMETRU N_A -

^AGH METODA JEFFRIESA □ METODA JEFFRIESA

❖    Na obraz mikrostruktury płaskiej (na matówce mikroskopu lub na zdjęciu) nanosi się obszar pomiarowy T o polu A(T), mm²,

❖    Na ogół T Jest KWADRATEM lub KOŁEM,

❖    Pomiar polega na oddzielnym zliczaniu ziam należących całkowicie do TI złam przeciętych przez T,

□    N_w - liczba złam wewnątrz T,

□    N_b - liczba ziarn przeciętych przez brzeg T

❖    Liczba złam wT,^|

N = N_w + cN_b + o)

z, u - to współczynniki zależne od kształtu I rozmiarów T

w zależności od kształtu T rozróżnia się dwa warianty metody Jeffrtesa: wariant z kołem I wariant z kwadratem