metrologia3 1

metrologia3 1




I


lH


--17 J.' OM jjMtWttftPwOgo    /a»pvxu kor>mcrn«

*^<ł .toy wyrwa r x «yM*rd< 3i<? w przoti-nsao co 33196 tło 34.07 Wymaz X u/yi«ł«ny szStowanfc? w czasto monwu powiąjrchni k©s6d. •tetef Wytpkó4Ć ko»fM naloty pCKtoC na rysunku Ko*t»trukcyir>ytn prM/fvizywaT\yti\ dostawcy. ,o.*o-/ucki.-iit-k na vi>AM^anto powimoTt jo*wtó &v w grafucacti O, r -1 mm?

£»> Czy MPWff zastał /wymiarowany prawidłowo? Ewerkuulrio smutny /apjopwtów«C na Oddzielnym rysunku konstnikcy/nym

-' Obliczyć odchyłki wymiaru V

Pokaz3ć sposób sprawdzenia obliczeń

20=140££ - Yf? - 4x10

3. Wyjaśnić różnicę między zamiennością całkowita i częściową. Obliczyć odchyl wymiaru 2 d\a za.WnnoSc* całkowitej i częściej. Przedstawić interpretację graficzną rozkładu odchyWk wymiaru zależnego dla zamienności częściowej.    7 z2 _    *0,12    Qr\ *OjQ9

jf6*0# wymiary 60 i 20 mają rozkład normalny (T 60).    ^    -0.12    -0.09

Porównać wyniki obliczeń.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Slajd15 (25) SPOŁECZEŃSTWO OBYWATELSKIEwskaźnik syntetyczny H 0,93 do 1,17 0 0,6 do 0,93 □ 0
img023 (17) (VI w/Vtfv -•A ^jjp Pod stfi.w KMw ij d-O Hi©™- n9/ błąd    b 11*^4 nySu
22313 WP 1505301 DROGOWSKAZY KARIERY WW«. -pCb jfetel i om [ i±{m i f
Screen ESP m wsibieESP OM FarESP ±
Skanowanie 12 12 17 16 v %oOw±-- ©uldm1’ C -o, A p= I PWs f Pka - &U pU‘-^,l ęklo- ,<L(- <
zintegrowane systemy zarządzania 5 .GA AA- MOVAAA. Cf>OAs %ł CC^4U C^/OM i ę± lAiU-dM WUĄJąUOĄL C
11586 metrologia wyk (17) □ztr 222jc><^ /h *ryh <4^JJi2M3 U _LJ_LJ_L ---}~//Ujź «;£ a ir^ ó
100126943865582513813?8132573 n Egzamin • Sygnały i Systemy ■ 1FD, termin 2 - 17.02.2014 □ ł* iMtu
Om Va
1NTER-CONSULTIN T 22 OLKO ELECTRONICS N 27 OLMEX S.A. A 17 OM Global

więcej podobnych podstron