m4

■ Upi >ł« * lina _(/

HH UHłlltf tiplUC pp

III tt

J

Wf^fteyiA vnp6kzynrnkicm ulamanii ggkli względem powielą

ft. MtuAtłHy* wykonania pomiarów

I, HhI jpi płytki plasko-równolcglc g różnych materiałów i starannie je octy ,

1 Bk mikrometry c/aą zmierzyć grubość płytek </. Pomiary powtórzyć 10 razy ^ (mmi I i różnych miejscach w okolicy skrzyżowania narysowanych linii), i fr/yfuttiWtś mikroikop do pomiaru | ustawić zwierciadło tak, aby pole v, , aiiMom

| fmieiuć lp| na stoliku mikroskopu. Pokręcając śrubą przesuwu pionowego &, hM | takiej odległości, aby widoczna była ostro kreska naiysowana ^ pimwr/i Um płytki. Uwaga: ostrość należy dokładnie ustawić na powierzchnię, r₄ ’ literuje iąktc*ka

I Kręcąc toubą znajdującą się na stopce czujnika dołączonego do mikroskopu ustawić wsi czujnika |1 okolicy lmm. Wartość tę zapisać w tabeli.

1 Obniżyć obiektyw (podnieść stolik!) tak, aby otrzymać ostry obraz kreski znajdującej gp|[ powierzchni płytki (uwaga: ostrość należy dokładnie ustawić na powierzchnię ia HH H H| Zapisać wskazanie czujnika dj.

I. ?omluy powtórzyć dziesięciokrotnie. Obliczyć pozorną grubość płytki d’-(h-di I. Powtórcyt pomiary 417 dla drugiej płytki.

Tteatepomtert***

Materiał \    |

rr^ii

! i iii

d,

d,

11

\±u(n)l