Obraz (6)

-większa moc (energia) jest wydzielana wewnątrz obudowy komputera i w związku z tym większa jest temperatura pracy układów elektronicznych.

-utrudnione jest dołączanie do przyrządu pomiarowego sond i innych zewnętrznych urządzeń. Ad. 2

Konstrukcja drugiego rodzaju ma następujące zalety:

większa elastyczność w zwiększaniu liczby bloków i rozszerzaniu funkcji przyrządów, poprawa warunków pracy bloków pomiarowych

Wadami tej konstrukcji są:

- mniejsza szybkość transmisji danych , dłuższy czas oczekiwania wyższy koszt budowy systemu pomiarowego

Autonomiczne systemy pomiarowe

Komputery w przyrządach i systemy pomiarowe mogą być wykorzystywane zarówno do przetwarzania danych pomiarowych jak i do sterowania pracą danego systemu.

Wartości błędów w tych systemach są funkcją:

1.    Stosunku okresu próbkowania do okresu mierzonego sygnału.

2.    Współczynnika wypełnienia mierzonego sygnału .

3.    Okresu próbkowania.

4.    Opóźnienia mierzonego sygnału względem początku okresu próbkowania.

5.    Współczynnika nierówno mierności próbkowania.

Perspektywy dalszego rozwoju elektronicznych systemów pomiarowych.

1.    Wykorzystanie nowych technologii półprzewodnikowych umożliwiających wykonanie układów monolitycznych (procesor) o coraz większym stopniu scalenia , dzięki czemu realizacja zadanych funkcji wymaga coraz mniejszej liczby elementów.

2.    Wprowadzenie cyfrowej kalibracji i automatycznej korekcji wyników pomiarów.

3.    Wprowadzenie atestowania i autodiagnostyki zwiększa to pewność działania przyrządu i łatwość dokonywania ewentualnych napraw.

4.    Rozwój metod pomiarowych do tej pory niemożliwych do realizacji

5.    Rozwój interfejsów, obserwuje się dwa przeciwstawne kierunki, pierwszy wynika z konieczności szybkiego przesyłania dużych strumieni informacji i prowadzi do rozwoju interfejsów równoległych, dmgi uwarunkowany jest ekonomicznie i doprowadził do rozwoju interfejsów szeregowych .

6.    Poprawa parametrów metrologicznych systemów pomiarowych i przyrządów pomiarowych.

Analiza uzyskanych wyników Błędy pomiarów

Wartość określona pomiarem wyrażona konkretną liczbą jednostek , różni się od wartości prawdziwej tej wielkości.

Różnice między wartością wielkości określonej pomiarem czyli X, a wartością wielkości mierzonej Xo nazywa się błędem bezwzględnym pomiaru E=X-Xo

Błąd ten może mieć wartość dodatnią jak i ujemną