P1100167

gdzie>• - głębokość* wsunięcia klina, cm; K - siała klina, którą wyznacza się rymcntaluie

H™**’¹    («|

i oznace wzrost absorbancji przy przesunięciu klina o I cm. Urządzenie to umiesz^ się w niezbyt dokładnych przyrządach.

ł(L	i^1		i
	m u 1

Rys. 15.19. Klin szary

- strumień , promieniowania wchodzącego, $ - strumką promieniowania wychodzącego / - klin szary, 2 - nic bująca axfr klina, x - grubość wantwy absorbującej khea szarego, y - głębokość wsunięcia klina

Przesłona szczeliny. Urządzenie to zmniejsza ilość energii promienistej w taki sposób, że ogranicza przekrój wiązki promieni. Należy do nich na przykład prze. słona kwadratowa, składająca się z dwóch segmentów a i b z prostokątnymi wycję. darni, które przesuwają się względem siebie w jednej płaszczyźnie (rys. 15JO). Przesuw odbywa się za pomocą śruby mikromctrycznej, której bęben jest wyskalo* wany w wartościach absorbancji lub transmitancji. Intensywność promieniowania

Rys. 15.20, Przesłona kwadratowa (Auberta) 1,2 - szczeki przesłony, 3 - bęben pomiarowy, którym się steruje śrubę mikrometryczną, d - przekątna otworu przesłony

przechodzącego przez szczelinę równa się kwadratowi przekątnej d kwadratowego otworu, leżeli przekątna maksymalnego otworu jest </₀, a odpowiadający mu maksy, matny strumień promieniowania - to absorbancja spowodowana przesłoną o przekątnej d jest wyrażona wzorem

*-I|$-2u£    (15.32)

Powyższa zależność jest prawdziwa przy założeniu, że przechodzący strumień promieni świetlnych jest jednorodny. Maksymalna dokładność nastawienia przesłony występuje przy absorbancji w granicach 0,8-0,9.

Do przesłon szczeliny należy również przesłona grzebieniowa, którą stosuje się głównie w spektrofotometrii w podczerwieni.

Sektor wirujący skłuda się z dwóch równych oluą^cb tarcz, z których każda ma dwa wycięcia po 90*. Przez ich wzajemny obrót można w sposób ciągły zmieniać kąt otworu w granicach 0-90“ (rys. 15.21). Wią/ka promieni pada prostopadłe aa

płaszczyznę -sektora i wskutek jego obrotu jest przerywana. Sektor nic osłabia strumienia promieniowania, ale ekspozycję. Fotoclcktrycznc wskaźniki, ta które pada promieniowanie pulsujące, dają prąd pulsujący, który można wzmacniać. Absor-bancja wywołana sektorem jest określona równaniem

(15.33)

gdzie et — kąt otworu sektora.

Polaryzacyjne urządzenie osłabiające składa się z dwóch połączonych ze sobą pryzmatów polaryzacyjnych, które można obracać względem siebie na wspólnej osi. Przy ich obrocie w zakresie 0 90° absorbuncja zmienia się od Odo nieskończoności. Absorbancję określa wzór

A m |g *<> - -Igcos²*    (15.34)

gdzie * — kąt między dwiema polaryzacyjnymi płaszczyznami.

16. EMISYJNA ANALIZA SPEKTRALNA W ZAKRESIE WIDM OPTYCZNYCH

16.1. WSTĘP I POJĘCIA PODSTAWOWE

Spektralna analiza emisyjna jest nctrdą fizyczną stosowaną do określenia jakościowego i ilościowego składu próbek w wyniku odpowiedniego wykorzystania promieniowania Wysyłanego przez atomy i jeny danego pierwiastka. Aby atomy wysyłały promieniowanie charakterystyczne dla nich, muszą być doprowadzone do stanu wzbudzonego popr/ez dostarczenie odpowiedniej ilości energii w płomieniu, w łuku elektrycznym lub wskutek elektrycznego wyładowania iskrowego.