P1100172

dy/i<uych Jfnii w widmie (na przykład w większości z.wykfych analiz iloSdowycf.). Rejestrujące fotometry sq z zasedy dogodniejsze do pomiaru zbioru bardzo bliskich linii spektralnych lub pasm cząsteczkowych. Rejestrujący zapis daje dobre wskszaoia łfosunków intensywności poszczególny eh linii lub linii kolejnych, blisko siebie położonych.

1 SPEKTRALNA ANALIZA JAKOŚCIOWA

Podstawą jakościowej analizy* spektralnej jest zdolność każdego pierwiastka do emisji w siacie wzbudzonym widma charakterystycznego, złożonego z okrcśfc-aych linii ściśle zdefiniowanych długościami fal. O składzie atomowym można vi$c wnioskować ca podstawie obecności lub nieobecności linii w widmie.

Może się zdawać, te do stwierdzenia obecności pierwiastka wystarczy tylJco jedna i to dowolna linia, jeżeli jej długość fali jest dokładnie określona. W rzeczywistości tak nie jest, ponieważ dyspersja J i ni owa i zdolność rozdzielcza przyrządu jest ograniczona. Wskutek spektralnego" poszerzenia linii może wystąpić wzajemne pokrywanie się bardzo Niskich linii, chodzi o tzw. koincydencję. Ze względu na to. aby stwierdzenie jakościowe pierwiastka było pewne, należy w widmie znaleźć co najmniej trzy jego linie. Najczęściej są to tzw. linie ostatnie, które występują jeszcze w widmie, jeżeli zawartość pierwiastka w próbce obniża się do granicznych slęlcft (często poniżej 10 ~ ³ %). Linie ostatnie mają zwykle najniższe potencjały wzbudzenia. Ich znaczenie w analizie jakościowej jest oczywiste, ponieważ jedynie obecność linii ostatnich w widmie świadczy o występowaniu w próbce pierwiastków o małych stężeniach.

Wykrywalność spektralnej analizy emisyjnej jest duża i zależy cd rodzaju pierwuiseków, sposobu wzbudzenia, typu przyrządu spektralnego, sposobu rejestracji onuc od całkowitego składu próbki.

Najprostszy sposób analizy jakościowej opiera się na zastosowaniu widm porównawczych. Polega on na tym, że nsd albo pod widmem próbki fotografuje się" widmo czystych substancji chemicznych, spektralnie znanych. Na podstawie analitycznych linii w widmach porównawczych można bez trudu zidentyfikować je w widmie próbki o nieznanym składzie lub rzadziej ocenić tylko linie brakujące, Częściej w analitycznej praktyce przeprowadza się analizę za pomocą atlasu linii spektralnych. Powiększoną część dwóch widm — widmu żelaza (jako wzorca porównawczego) i widma próbki wyświetla się na ekranie spektroprojcktora. W atlasach widm na poszczególnych kartach są przedstawione odpowiednie zakresy widma żelaza w takim powiększeniu, w jakim otrzymuje się widmo żelaza obserwowane na ekranie spektroprojcktora. Oprócz tego w atlasie nad widmem żelaza są zaznaczone również pozycje najważniejszych linii spektralnych poszczególnych pierwiastków (rys. 16.5). Wyświetlone widmo żelaza sfotografowane na be danym spektrogramie utożsamia się z widmem żelaza odpowiedniej karty atlasu tak, aby linie się nawzajem pokrywały. Jeżeli linie w widmie nieznanej próbki leżą w miejscach wyznaczonych w atJasie, można je przypisać odpowiadającym im pierwiastkom.

Przy dokładnych pomiarach długość fal linii można wyznaczyć z tzw. równania interpolacyjnego Hart manna

CoJ Co i Oi; Cd! Ca| Ca    ni¹' f-* c* _r t I .. I

fwt tl^lrfifl &    *# || 8ei

38$J    3100

Rys. 16.5. Obraz karty z atlasu linii spektralnych

W bliskości linii mierzonej (A,) wybiera się w widmie żelaza dwie linie o znanych długościach fali (Aj i A^) i mierzy ich wzajemne odległości (a, b na rys. 16.6). Po podstawieniu do równania (16.11) oblicza się nieznaną długość fali i w tablicach linii spektralnych znajduje, jakiemu pierwiastkowi ona cdpowiada.

	a	PriLka
	6		łtorac |7>)

Av    A,

Ryl. 16.6. Określenie długości fali przez interpolację Uniową

215