yyt
Metod ii
spektralna
S łablłc* 19.1. Porównanie wnlilycajrt parametrów niektórych metod analitycznych
Przyrząd
Próbka
nrwda L |
zakres pomiaru |
Br,n““ dokładnoSC l oznacza Ino- *• |
minimalny era* pomiaru! * |
I 1 |
wzbudzenie termiczne lub elektryczne; analiza promieniowania widzialnego i nadfioletowego |
Z-nieograniczone; poszczególne, także w mieszaninie |
0,1-100 5-10% ppm |
S.10-* do 250 |
1 jB? A 3 do 30 powierzchnlu 1 stałych i substancji, | roztwór |
minimalna objętość . I próbki cm1
Emisyjna foto- wzbudzenie w pló-
metrfa płomieniowa! mieniu; analiza promieniowaniu nadfioletowego i J widzialnego
Atomowa spektrofotometria absorpcyjna
Rentgenowska
spektrometria
fluorescencyjna
I Elektronowa mikroanaliza
Spektrometria
Augera
I'ot ociekł ronowa iprktrometria
/ ■» 3
10
15
roztwór
10“ »
I—
wzbudzenie promie-1 Z ? 3 niowaniem UV poszczególne i VIS; analiza pro- i w mieszaninie mieni owa Ilia UV I VIS
10
15 | roztwór
JO
- J
wzbudzenie pierwotnym promieniowaniem rentgenowskim: analiza promieniowania rentgenowskiego
wzbudzenie promieniowaniem fi; aoa-
nia rcntgcłtowskic ISO
wzbudzenie pierwotnym promieniowaniem rentgenowskim: analiza promieniowania fi
wzbudzenie promieniowaniem rentgenowskim; analiza promieniowa fi
Z>9
mieszaninie
Z > 3
poszczególne i mieszaninie
źf - nieograniczone; poszczególne i w mieś taninie
liza promieniowa- poszczególne i w
1 |
| |
20-200 | |
Ppm | |
I _ | |
0.01 0,1 | |
PPm. | |
pomiar |
1-5% 1 |
Powierzchni | |
1 5 pm* | |
“tt-H |
--- |
I Ppm Ipóttfotoiowu
/
10
lO
100
i
\
powierzchnia
5-10“*
30 |
| substancji |
io-» |
sutych (100 | ||
[ nm*> | ||
powierzchnia | ||
i substancji |
10* •• | |
30 |
stałych (iOnrr.*) i | |
1 powierzclniia |
J | |
20 |
subsJancji |
10 10 |
i stałych <1 nni*> | ||
. |
—-1 | |
substancje | ||
J20 |
stałe, gazy |
10-* |
--— |
- - - - — •: |