P1100255

f g

To równanie stosuje się do obliczania skal i tablic refraktometrów.

Jol wiele typów refraktometrów, które różnią »ią kątem łamiącym a pijar ^ pomiarowego, wartością współczynnika załamania A', konstrukcją urządzenia. 4, mierzenia kątów i źródłem stosowanego promieniowania. Najbardziej znane « refraktometry: Pulfriebn. Abbego i zanurzeniowy.

25.4. REFRAKTOMETRIĄ RÓŻNICOWA I AUTOMATYCZNA REJESTRACJA WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA

Do wyznaczania małych zmian współczynnika załamania stosuje się rcfrjJa. inctrię różnicową. Wykonuje się wówczas pomiary 7 dokładnością U3-I0"^łj^ noslck współczynnika załamania.

Stosuje się przy tym specjalne urządzenie, w którym mierzy się najpierw ery* rozpuszczalnik, w stosunku do którego mierzy sic różnicowo współczynnik 2*1. mania podanej substancji.

Zn pomocą automatycznie rejestrujących refraktometrów można w ciągły mierzyć współczynnik załamania.

25.5. ZASTOSOWANIE REFRAKTOMETRII

Wynik pomiaru współczynnika załamania w praktyce stosuje śię jako kr; terium czystości substancji. Ilościowo można pomiar współczynnika nkem wykorzystać do analizy mieszanin dwu- lub trójskładnikowych, o ile mianu jeszcze jakąś wartość fizyczną, np. gęstość, napięcie powierzchniowe, iepkość. itń dielektryczną itd. Mieszaniny dwuskładnikowe nie za\vs/c spełnizją zależność i-ni ową i dlatego na podstawie pomiarów wyznac/a się krzywą wzorcową lub uliiu tablicą, aby można było określić wynik analizy

W ten sposób można analizować wodne roztwory alkoholi,¹ cukrów, glktną, kwasów, wodorotlenków, soli itp. Dane o trójskładnikowych układach ptzefo;-wia się za pomocą trójkątów Gibbsu.

25.6. INTERFEROMETRIA 25.6.1. Zasada

W interferometrii mierzy się małe zmiany współczynnika załamania. Metci u wykorzystuje zjawisko interferencji światła. Interferencja poleca na nakłada* się dwóch wiązek promieni pochodzących z tego samego źródła — promiesos h herentsc (spójne). Jak widać z rys. 25.4 promieniowanie źródła dzielone jest p* dwa zwierciadła na dwie wiązki promieni. W miejscach, gd/tc promienie imetkt

fl

B C

R,ł. 25.-1 Schemat powstawania prążków Interferencyjnych, I - MUlo monochromatyczne i kehcrccira: 2,2' - fcwicreśadła; A - dróg* l\»l przed intcrfereńejii (o,ó„ 6_:. c„ r,, d„ d, - fiakry. w których obserwuje się intcrferenclę); B - fale po interferencji; C - piątki in-jako falc elektromagnetyczne. spotykają się zachodzi między nimi interferencja, która powoduje Je następuje wzmocnienie lub osłabienie icb natężenia. Jeżeli spotyka ją tę dwie fale w fazie, to ponieważ różnica ich dróg (x₂-x,) równa się całko-

witej liczbie fal, amplitudy dodają się i powstaje promieniowanie o dwukrotnie

większym natężeniu (punkty o, e_t i c>). Różnica dróg, dla której interferencja jest maksymnlnn, określona jest wzorem

(25.15)

udzie: N - liczba całkowita, zwana rzędem maksimum; A — długość fali promieniowaniu.

W punktach ó_s i b₂ dochodzi do spotkania fal w przeciwnych fazach, wówczas amplituda jest równa zeru i promieniowanie wzajemnie się znosi. Warunek nuci-mlaego natężenia przy interferencji jest następujaw

0

rrj

o

lp 2S.5. Schemat prążków interferencyjnych » interferometrze: a) pole widzenia dli sWttu.n-terno dużej różnicy współczynników załamania, b) dla małej różnicy współczynników zahmsrua,

c) po skompensowaniu

9 - prątek należący do zerowego rzędu; /,/' - prążki pierwszego rzędu; ijt - prążki drogiego rzędu

381