skanuj0001(5)

skanuj0001(5)



V ^jćd^o ^

Uc

Aj XffT‘ ~    ((ż. Cj. fhr -f h~^7 Cj 4?.A.' J


■o


j?7$ d    f*Ł>k LSC/L'y

" (O, 03/ W/s +" QjG4% <J-’^^\) ój X - C, o f %    ’ 0/266    -^


zs_



^ jCji - c 0 i /i


&5>c; t £ O, Oj? 1) £]/"[

c_ - l i. dt>L /c*.d/tosiu


3

J

- ć,

ci% - 4b

Tj

4^H


- 'LI%1

Qfir4r~~£&)    1>


£>    33^

4 o.ł?^{v3


= <?,    7 r*o


Uc


*2,13 ci


f


)    / <* Sc


% % * t ±3ly

Xm


<0( Cq-1


9 2ćć

*V0%

3g

hz

\ f~~


-1——r


s' * y -


O, 00 cl


o, 224

<kfts ?


v %


L..,l


1^1‘Ulć    yeHc

\Jfi -


3 r

K - flT?|gg I H Wi/łi/K




Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
skanuj0018 I k.<~Cje t <->    + /< UC Cj ci 4) rusu/i 6di swh&A#- rys
Skanuj10006 .cydlio. oxb cA^aj(K ^cd^^c    jo ^jim^h„ «    ^ —.
55618 skanuj0018 I k.<~Cje t <->    + /< UC Cj ci 4) rusu/i 6di swh&A
skanuj0010 (10) [n ^eck^Aj £■ rfcMOn /    " dLU^epo o^-Ou.Hu krdc o pn<A1Lqai
skanuj0017 f .QtQ.fr iMfUJ m MąiMLa&M ~j—— rn~H i_ UU LI
skanuj0053 (39) Gi . 2:
00338 ?79650d4af41fcdcb3a1354afe938a8 Optimizing Defect Levels and Losses from Gage Errors 341 di =
skanuj0020 (243) Uc&tó/i ck>vjuo^caX?-uv>ęWuftO,
skanuj0022 (198) o, i O" <**■ 4    AbtO • Aj Łfc C, C, • J.    
IMGF79 <ta<SL UiyycJU^C, UoOvo(iŁvt.»a.<WL ( 2    focX &aa&_uć&

więcej podobnych podstron