033

33

lskiej

gjfeu

►

a fi&aiii			%
9	% 9	5r m	9 9
X			i'
» *	i A .
*»■	Mi		m

*

włśM^asacś ^:

ól

Rys. 2.10. Mostek tensometryczny TT 6 B produkcji polskiej

L

nym. Wadą tych mostków jest ograniczenie od góry częstotliwości mierzonych przebiegów, wynikające z faktu, że mierzony przebieg dynamiczny nakłada się jako tzw. fala modulująca na częstotliwość podstawową prądu zasilającego (rys. 2.7). Aby te dwa przebiegi różniły się w sposób dający się rozdzielić, częstotliwość przebiegu mierzonego nie może przekroczyć wartości 0,1 + 0,3 częstotliwości fali nośnej.

Mostki tensometryczne produkowane w kraju (rys. 2.8 + 2.10) umożliwiają pomiar przebiegów dynamicznych o częstotliwości 1+1,5 kHz. Schemat aparatury tensometrycznej pracującej metodą wychyłową pokazano na rys.2.11. ■Działanie podstawowych obwodów tego układu jest następujące [2.6],

Mostek pomiarowy 1 jest zasilany napięciem zmiennym o częstotliwości | nośnej z generatora 2. Podczas pomiaru napięcie zmienne jest modulowane przebiegiem mierzonym i w tej formie podane jest na wzmacniacz 3 (rys. 2.11b). Sygnał po wzmocnieniu (rys. 2.11c) przekazywany jest do detektora 4 sterowanego sygnałem generatora 2. W detektorze fazy częstotliwość nośna zostaje „wycięta" z przebiegu mierzonego, a sygnał mierzony (rys. |2.11d) jest podawany na wskaźnik wychyłowy 5 lub rejestrator 6.

ostek tensomi 4 C produkcj sklej

Aparatura tensometryczna jest wywzorcowana ze względów praktycznych w wielkościach odkształcenia względnego Ł . Mostki przedstawione na rys. '2.8 - 2.10 posiadają zakresy pomiarowe od Ł = O,1%o do C= 10%o . Stwarza to możliwość pomiaru tym samym przetwornikiem bardzo małych i bardzo dużych odkształceń. Przykładowo jeśli sygnał wyjściowy mostka przy maksy-inym odkształceniu przetwornika wyniesie C= 3%° , to możliwy będzie również pomiar przy odkształceniach 30-krotnie mniejszych, przy czym najjurniejsza wartość odkształcenia jaką można odczytać ze wskaźnika wyniesie = 0,004%o (w zależności od klasy aparatury i liczby działek wskaźnika).

/