2012 05 25 29 14

wego zawierającego eto działek elementarny cii o wartości 10 um każda* Wzożec ten umieszcza się na stoliku pomiarowym podwójnego mikroskopu w takim położeniu, aby kreski jego po-działki były równoległe do nici pajęczej ustawionej pionowo w okularze, prqy czym w celu zabezpieczenia się przed przypadkową zmianą jego położenia, spoczywająca na stoliku dolna powierzchnia wzorca powinna być przyklejona do niego cienką warstwą wazeliny* Następnie należy zmierzyć odległości kresek ograniczających m działek elementarnych, notując wskazania i b2 głowicy okularowej w punktach krańcowych. Liczba m zależy od powiększenia V w obiektywie, przy czym zwykle przyjmuje się: m = 100 przy V = 60x m — 90 przy V = 30x m * 40 przy V = 14x m = 20 przy V = 7* Wartość współczynnika k oblicza się ze wzoru: k - ,^10 x * / 6 / (b2 - bj uane charakterystyczne dla podwójnego mikroskopu Tablica 3*
Zakres pomiar* L ttax IZB	Sposób obróbki powierzchni.	powię kszenie obie ktywu	Całko wite powię kszenie	Odl. prze dnu od obiektywu w mm	9 i pola widzenia w mm	Klasa chro powa tości
5-1^5	Dokładne toczenie diamentem. Dokładne szlifowanie* Docieranie• Dogładzanie•	60 x	520 x	0,03 x	0,3	9-10
1,5-5,0 5,0-15	Dokładne toczenie* Dokładne szlifowanie* Bardzo dokładne wiercenie* Rozwlercanie.	30 x	260 x	0.1	0,6	7- 9
	Toczenie* Fre zowanle• Dokładne wiercenie* Szlifowanie»	14 x	120 x	2,0	1,3	5- 7
15-50	Zgrubne toczenie* Zgrub, frezowanie. Zgrub.szlifowanie•	7 x	60 x	8,0	2,5	4- 6