strona109

5.2. PARAMETRY FALISTOŚCI I CHROPOWATOŚCI 109

a)

A/W

b)

c)

d)

RYS. 5.2

Profile chropowatości

'V\~Aay»4

5.2. Parametry falistości i chropowatości

Znormalizowane parametry falistości i chropowatości określa się za pomocą rzędnych profilu prostopadłych do linii średniej m_w (rys. 5.3).

Falistość powierzchni jest to zbiór okresowo powtarzających się nierówności powierzchni o dużym stosunku odległości między wierzchołkami do ich wysokości (co najmniej 40); chropowatość powierzchni jest to zbiór nierówności powierzchni o stosunkowo małych odległościach między wierzchołkami. Falistość i chropowatość powierzchni określa się jako odchylenia profilu zaobserwowanego od linii średniej m_w (o kształcie profilu nominalnego), dzielącej rozważany profil w ten sposób, że suma kwadratów odległości punktów profilu od tej linii w przedziale odcinka elementarnego (l_w dla falistości oraz /,. dla chropowatości) jest minimalna (rys. 5.3 i 5.4).

Mikrogeometrię powierzchni można dodatkowo opisać jakościowo, dodając kierunkowość jej struktury, zależną od śladów obróbki (rys. 5.6).

Falistość powierzchni (zgodnie z normami PN-74/M-04255, PN-89/M-04256/04 i PN-EN ISO 4287:1999°) w przedziale odcinka elementarnego /„, określają następujące parametry:

• maksymalna wysokość profilu falistości W_m (Wz)^2>- odległość między linią wzniesień a linią wgłębień profilu falistości lub suma wysokości największego wzniesienia profilu W_p (Wp)²⁾ i głębokości najniższego wgłębienia profilu W_v (Wv)²⁾ -rys. 5.3a;

¹¹ Norma PN-EN ISO 4287:1999 charakteryzuje odcinek elementarny o długości l_r, L równy 1/5 długości odcinka pomiarowego (/„), wprowadza zmiany w oznaczeniach parametrów chropowatości i falistości (tabl. 5.1), charakteryzuje nowy parametr Rt oraz zmienia interpretację parametru Rz.

²¹ Parametry falistości i chropowatości określone przez aktualną normę PN-EN ISO 4287:1999 (tabl. 5.1).