64598 IMAG0769 (2)

64598 IMAG0769 (2)



30


Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych

Przy Kładowy wygląd e kranu, monitora z program em obsługi defektoskopu UMT-11 pokazano na rys 0.7. W dwóch oknach zobrazowane są przebiegł ^próbkowanych sygnałów W.CZ. I M.CZ., poniżej suwaki nastaw oraz struktura "Menu* programu.

6.3 Wzorce

W badaniach ultradźwiękowych powszechnie używa się wzorców do kalibracji aparatury, sprawdzania głowic, porównań, Jtp.

Jako wzorzec rozumiemy element posiadający powierzchnie łub krawędzie będące reflektorami wzorcowymi fał ultradźwiękowych. Reflektor wzorcowy to taki reflektor, który odbija fale ultradźwiękowjBw znany, ściśle określony sposób.

Reflektory we wzorcach dzielimy na :

•    reflektory duże - o wymiarach większych od przekroju wiązki fal ultradźwiękowych

•    reflektory mele - o wymiarach mniejszy cli od przekroju wiązki fal ultradźwiękowych

Wśród wielu wzorców stosowanych w praktyce najważniejsze to:

•    wzorzec kontrolny W1 (PN - 75/M - 70051)

•    wzorzec kontrolny W2 (PN - 75/M - 70054)

•    wzorce mikrosekundowe (PN -75/M - 70050)

•    wzorce schodkowe (np. UNIPAN typ UG-1)

Wzorce W1 i W2 są opracowane przez Międzynarodowy Instytut Spawalnictwa.

6.3.1 Wzorzec W1.

Szkic tego wzorca przedstawiono na rys 6.B. Wykonany Jest ze stali, dla której prędkość fal 5940 m/s. Przeznaczenie reflektorów lego wzorca jest następujące:

•    płaskie powierzchnie A, i A2 odlegle o 25 mm są reflektorami dużymi,-wykorzystywanymi do skalowania zakresu obserwacji (ZO) i wyznaczania parametrów badania dla głowic normalnych

•    plaski powierzchnie Bf| 02 odlegle o 100 mm oraz płaskie powierzchnie C I O odlegle o 200 mm, wykorzystywane są do skalowania ZO dla głowic normalnych

•    plaska powierzchnia E odległa od powierzchni B1 o 91 mm. skalując ZO = (0..91 mm) dla głowicy normalnej fal podłużnych uzyskujemy ZO = (0..50 mm) dla fal poprzecznych (głowic skośnych)

•    dno nacięcia Gt któro z powierzchniami B2 I E tworzy trzy leżące blisko siebie reflektory służące do określania rozdzielczości układu "defektoskop - głowica normalna"

m powierzchnia walcowa F o promieniu R * 100 mm oraz boczne ściany dwóch rowków H w powierzchni A1I A2 przechodzące przez środek krzywizny powierzchni F - zespól łych reflektorów służy do skalowania ZO dla gfowic skośnych i nastawiania czułości defektoskopu pracującego z głowicami skośnymi .

•    walcowa powierzchnia I otworu okrągłego o średnicy 5Q mm. używana Jest między Innymi do pomiaru kąta załamania głowic skośnych


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
IMAG0780 39 Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych Rys. 7.11. Powstawania ach transformowanyc
42653 IMAG0755 (3) 17 Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych W technice ultradźwiękowej jako
IMAG0755 (3) 17 Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych W technice ultradźwiękowej jako materi
59452 IMAG0772 (2) 33 Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych 6.4.2. Zdolność rozdzielczą Jest
IMAG0767 (3) 28 Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych 0.2.2 Defektoskop z przetwarzaniem cyf
IMAG0754 (3) 16 Laboratorium z podstaw badań ultradźwiękowych jak lut wspomniano zjawisko piezoelekt

więcej podobnych podstron