69045 skanuj0452

obliczenie określa pewien udział S_x w natężeniu całkowitym, które wyznacza się doświadczalnie

*=*Jl*i

i

przy czym suma obejmuje różne krystality i różne długości fali.

Obliczmy dla krystalitu otoczonego całkowicie przez wiązkę padającą, scharakteryzowanego przez funkcję o postaci [J^(H) • JS?f(H)]. Oznaczmy przez dr* == v*dhdkdl element objętości sieci odwrotnej. Z rysunku 4.43 wynika, że

przy czym do* oznacza powierzchnię przekroju odpowiadającą przecięciu dr* przez sferę Ewalda, dat* jest grubością dr* w kierunku prostopadłym do powierzchni kuli taką, że dot*da* = dr*.

W metodzie obracanego kryształu czas dt zetknięcia się dr* ze sferą jest równy dt = 2d<x*/cosm26

przy czym co oznacza prędkość kątową obrotu kryształu wokół osi prostopadłej do płaszczyzny, w której znajduje się S₀ i S (a więc i H). Natężenie całkowite można więc wyrazić wzorem

S?³r² r [e² • r~²-p] [F(H) F*(H)] [J?,(H) • J2?(H)] ^20 dr*

lub także

Si = — • A³ ■    • s²■ F(H) • F*(H) • z;* [[[ (H)(H)

co sin 2u    «JJ«J

gdyż spośród funkcji H tylko funkcja £?i{H) zmienia się bardzo szybko przy małych przemieszczeniach H. Jak wiemy (s. 422), ostatnia całka jest równa N_i9 liczbie komórek elementarnych krystalitu i. Wreszcie, ponieważ v* = l/v (v — objętość komórki elementarnej) i ponieważ V_if objętość krystalitu = N_xv

P

sin 26

przy czym V oznacza objętość kryształu otoczonego przez wiązkę padającą.

Odbiciem całkowitym nazywa się niekiedy wielkość #co/J°, która zależy tylko od 2 i od kryształu, nie zaś od czynników doświadczalnych, jakimi są 1° i co.

Należy także podkreślić, że natężenie całkowite nie zależy już od odległości r między kryształem a detektorem, że jest proporcjonalne do pierwiastka z długości fali i do kwadratu efektywnej liczby elektronów przypadających na jednostkę objętości, którą reprezentuje \F\/v, a także rośnie proporcjonalnie do objętości kryształu. Natężenie S ma wymiar

454