829

plltc Ai - Imiw) pr/ol/iW próNumaau w pmtc*fc pr/cfcrop*. ^ - prcttacri pc4i ..wid/rriu’* p/r-tuumlj mafogowo <>ffUUC^O

Stąd całkowita lic/ba A/ kątowych projekcji potrzebna do zebrania informacji w jednym skanowaniu:

(26.2)

n

Ae

y

Ryc. 26.4. Wyznaczanie kąta próbkowania oraz przedziału próbkowania dla SPECT

Układ detekcyjny w czasie jednego obrotu rejestruje od I do 64 warstw w przekroju poprzecznym. Grubości rejestrowanych warstw wynen/ą od około 3 mm do około 12 mm. Przestrzenna zdolność rozdzielcza tomografu SPECT jest zdecydowanie mniejsza niż tomografu KT i zawiera się w granicach (11-15) mm.

26.3. Zdolność rozdzielcza

Powodów małej zdolności rozdzielczej jest wiele, a wynikają one z metody zbierania i rekonstrukcji danych oraz właściwości detektora.

Załóżmy, że radioaktywne źródło punktowe znajduje się na powierzchni kryształu scyntylacyjnego, a po jego drugiej stronic jest umieszczony zespół fotopowiela-

829