57 (269)

112

Krzysztof Widnnka

Przykład

Określić powierzchnię i dlugaić względną fazy węglikowej v stali narzędziowej stopowej do pracy na zimno X210Cr12 wg PN RN ISO 4957:2004 w stanic ulepsz on/m cieplnie i oszacować błąd pomiaru.

Rys. 8 3 Mikrostruktura stali X2IOCrl 2 w stanie ulepszonym cieplnie (pow. 400x)

Na fotografię mikrostruktury stali (rys. 8.3) wykonaną przy powiększeniu 400x naniesiono sieczne o długości 70 mm i obliczono liczbę przeciętych cząstek węglików na kaZdcj siecznej. Wyniki zestawiono. w postaci rozkładu empirycznego, w tabeli 8.2.

Tabela 8.2. Rozkład liczby przeciętych węglików na jednej siecznej

l.iczba przeciętych cząstek c,	0	1	2	3	4	5
Liczność siecznych k,	5	20	34	14	13	14	-M ■ i
	0	20	72	42	52	70	£V.-256 i
kfi,^1	0	20	136	126	208	350	IW-M0 i

-256-2.56; N, = -ffi- . 14.63 100    ^L 70/400

63_

10} 400

S 0,91u_o

dla poziomu ufności (rozkład normalny) I - o “0.95; u, « 1.96. stąd

Ąff_L)sin

Metalografia ilościowa

113

S(Sy) a4.t,7Ss7,l

Sy » 58,5 mm²/mm^ł S[L_a)= *1,78 = 5,6

dla

L_a =45.9 mm/mm^: 8.4. Określanie liczby i wielkości ziaren

Ocena wielkości ziarna w praktyce metalograficznej jest bardzo popularna. Przy określaniu wielkości ziarna podaje się zwykle następujące parametry: średnią powierzchnię przekroju ziarna a, jej odwrotność, czyli średnią liczbę ziaren na jednostkę powierzchni N_A, średnią średnicę płaskiego ziarna obliczaną jako , numer ziarna wg PN-66/H-04507 oraz średnią cięciwę ziarna 1. Ocena wielkości ziarna polega najczęściej na wyznaczeniu średniej liczby ziaren N_A na powierzchni jednostkowej, która służy do określenia pozostałych wymienionych parametrów. W jednofazowej strukturze między liczbą/^ płaskich ziaren na powierzchni 1 mm² szlifu a ich średnią powierzchnią przekroju a zachodzi zależność

N_A =    I/mm²

a

Jeżeli w strukturze występuje kilka faz, to podana zależność przyjmuje następującą postać

10*

N_a -~^Vy, 1/mm² a

gdzie Vy- udział objętościowy ziaren badanej fazy w jednostce objętości stopu (wielkość bezwymiarowa).

Do określania średniej liczby płaskich ziaren N_A na powierzchni szlifu najczęściej stosuje się następujące metody: porównawczą, Jeffriesa, punktów węzłowych i piani-metryczną.

8.4.1. Metoda porównawcza

Metoda porównawcza oceny średniej powierzchni ziarna a lub średniej liczby ziaren Ną na powierzchni jednostkowej jest powszechnie stosowana w metalograficznej