skanuj0011 (253)

■ „. ^.:v^^_y>:_r.-,v_;^^^ ^ / -

ŹVŻ?£'’ fój wy**c<4 p5-aj rU zzisży «f ww czymić**' gdyż miarą fawor danego anąfiiu jest pele pcs/erzchnl poi ^cam "r &'c^pcr*ć^

■) sprzwr.ośćkdunrty<d¥ciraicę.Tfaznejr*ifcżyodciśrtenteg=zur*vqścaj(fckcfcjmny

b) Tvybćr5?szu rodnego w GCzieźy od rodzaju z^osewanego delt^dcra ^ Cb3 stwierdzenia są pr^wdzwe

ci) Cha stwierdzeń}* są fałszywa

57.0ę^praw*tó¥^ Jft

^ Qj a) Deryw-alyzację analfcóww GC detonuje *ę pod kątem 2a$*ceowanla detektora 1 Idnośd arafitu

b) finłti* tec*nlką GC rr.cżna poddać skladnW lotne I składniki ulegające przemianie w hne sktadnM lotne pc

c) Mtfiae techniką GC można poddać tytko skladnSd tóne w temperaturze zfcGźcnej do temperatury pokqcMrej

aektromajnes

*^■*80, w. (Waj^kte^i r-^, i, _2Łst0COrtr,., CłynnilMm ^pływi^m a, nz^j^ y

*> cę4rcno^{R)_TCatwau

b) cfcKnojćefBkfcSupcćstjK^o

... ‘ P^U

e) c*iew#cdpc-dedds5₍pop,-av>oe

d) oblewo^oAledziriessijKp.Twne I '^w;^Nff*'^fe bi«9nąc*B0 w łWtai odmicpn^m od Hen«*u' M;

a) spektrom ttnl w* podcz erwieni (R)

b) neWomebli C) techftkachluarescenoMnych d) dwódizwwtechn*

48. Podstawą analizy jakościowej w GC jest

a) kształt piku

b) wysekość piku G) czas retencji

lącsna hfamazja

50. Podtfcwą anaUzyfakoScmrej »• nacje*

d) Wszys&le w stwierdzenia są poprawę

c) Cfcaww stwierdzenia są poprawne G> Cba ww stwierdzenia są felszywe 69. T«inooUt*rani« kcłumnj do GCjad podyMcaranr.

a) ksztafi piku

b) powierzchnia piku

C czas retencji

i^czna hfcrmacja z ww danych

€^/j\ ⁵¹ -PodrtawB analizy iloidowqVHPLCj«^

^N‘*“"^ ^a) kształt piku

wyookoćć piku

!• Podstawą analizy Rcddowoj w GC jest

a) ksztal piku

d) wysokość piku 54. Podstawą analizy \bśckr^ w CZE jei

39. Techniką ełełdroanałityczną, w której stosie sę wstępne zatkanie anałitówjest

Polarografia

%) b.;

c) Konduktom etrsa

d) W każdej z ww technik tężenie anaiitćw jest warunkiem wstępnym datszej artaii2y

40. Długość taił A * 2S0 nm promieniowania elektromagnetycznego odpowiada fczbafaiowa [cm'¹}:

•m 42. Do przyspieszani a Jenów w standardowym spektrometrze mas duży: ^ a a) Póle elektryczne

(S) powierzchnia piku c) czas retencji

a) ksztaft piku

b) powierzchnia piku Q^, c) cza₃ re(enqi

*0 ksztaj piku

b) powierzchnia piku

c) czas ret on 4aX wysekoćć piku

I ^ Wy***# płku w technikach ctrcnafajrafScznych zźety od: ^ zawartość and2u

a) Foćtźayą rozdzielenia tidalrAb* w WimnlakapilamĘ ]«i zrtóniccwany czas oddziafywia z wwnęłrzr; stfadritówwsględwn pcW-rzchni kolumny czas....(razdziełar.la/reiencji?)Jest cłużtzy

b) Cłrcmaiogrsm zawiera informację j3kcśc»ov/ą I Ilościową o próbce badanej przy czym podstawą oceny Jako] rozdzielanych składników

VV/7nagan!ami w aspekcie kaEbracjl tego urządzenia Zper*niebem lotności sHadiika o najwyższej temperaturze wrzenia Cbydwcma ww czynnikami hny czynnik jest istełny w tym przypa<Sru 60. Regulacja dśr^a w kckmrfe do GC Jest uwarunkowana:

e) W/maganismśw aspekcie kaSbracjl tego urządzania b) Zapewnieniem mozSwie wysekiej rozddefczośd kefumny Cbydwcma ww czynnikami d) boy czynnik jest tu istotny

38. Długość «U * 300 nm promionłwartj ^aldrcmaenałjcznoso odpoałada częstość dcołT0 [Hz = »'t

^a> *^,o'’^KWz .,..... }\ “ Zo&io^hs

— 2><ZO &C2Ć3 n

Y-Ź*\QŚ

Wcttemperometria Inwersyjna

4~ £so-io~³ ^

⁸ 2.5x10*

(l) a z ww cdpcwfedzf .-ucjcsl poprawna gdyż pqęde liczby felcwej odnosi się do zakresu podczerwieni 41. Analizę prćbki stałej bez pctrztfcy jej roztwarzania można wykonać techniką: s) FAAS b) GFAAS

O' ^c) Rucrescenq2 rentgenowska d) E>womaz wwtechrtk

b> Pd e magnetyczne

c) Pde elektryczne I magnetyczne

d) Kcmorajcrizacyjna, w którą elektrony lub Inne cząsiki bombardujące nadają analłtcrr. energię kir.etyczj^

| 43. Przed pomiarem abscrbancjl prćbkJ wspektrofotemetrze (Spekołu) należy. £ Ó^~

. a) . Nastewłćtransmiłancjęna 100% dJarozpuszczainkaiub odnoćnSca .

tly

Vj b) Na 0^ dla rczpuszczadnika lub odnośnika Na 100% względem rnzłwcru badanego d) Na 0% wzglr<iern roztworu badanego 44. Stała tf wo wzorze Farada/a = kxQ* odniesionym do reakcji Me⁴¹ + ni^{1 =} Me, ckreśia wartość Bczhową