4130648655

2. Edytor schematów - formułowanie prostych układów elektronicznych i... 13

-    Name - RC

-    Sweep Type - Decade

-    Start Value - 1

-    End Value - lOmeg

-    Pts/Decade - 20

PA RAM ETER S:    rq

Rys.2.11. Zmodyfikowany schemat analizowanego układu

Rys.2.12. Okno dialogowe programu Schematics do deklaracji parametrów globalnych

Ustawienia powyższe oznaczają, że przeprowadzona zostanie analiza stałoprądowa, w której przemiatana będzie wartość parametru globalnego RC w zakresie od 1 O. do 1 MH, przy czym przemiatanie będzie realizowane logarytmicznie, a obliczenia będą wykonywane w każdej dekadzie dla 20 wartości tego parametru.

Po wykonaniu obliczeń pojawi się okno programu PROBE. W celu uzyskania wykresu zależności i_c (RC) należy:

a)    Wybrać jako zmienną wykreślaną na osi pionowej „IC(Q 1)”,

b)    W oknie dialogowym, pokazanym na rys.2.9 zaznaczyć Scalę - Log, dzięki czemu uzyska się skalę logaryczniczną na osi X.

Parametryzacja wartości elementów układu może być również wykorzystana do wyznaczania rodzin charakterystyk układów elektronicznych. Przykładowo, dla rozważanego układu z rys.2.11 można wyznaczyć charakterystyki i_c(E_c) dla wybranych wartości rezystancji RC. W celu przeprowadzenia takiej analizy należy w Setupie zaznaczyć 2 rodzaje analiz -DC Sweep oraz Pammetric. Potem należy ustawić następujące parametry analizy stałoprądowej (DC Sweep) w oknie dialogowym pokazanym na rys. 2.6:

- Swept Var. Type - Yoltage Source,