4130649134

Załącznik nr 3 do SIWZ

Sprawa Nr: NA-P/ 22 /2009

PARAMATRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Nazwa i adres Wykonawcy:.......................................................................................................

Nazwa i typ (producent) oferowanego urządzenia:

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA -MINIMALNE WYMAGANIA TECHNICZNE Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja systemu skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym spektrometrem rentgenowskim (EDX), Systemem Cryo i aparatem do suszenia w punkcie krytycznym

Lp.	Parametry wymagane:	Parametry oferowane:
Mikroskop skaningowy SEM z wyposażeniem
1	Mikroskop powinien być uniwersalnym, sterowanym cyfrowo, wysokorozdzielczym instrumentem najnowszej generacji, z katodą wolframowa, możliwością o rozbudowę o LaB6 i z możliwością pracy w warunkach zmiennej próżni w komorze.
2	Mikroskop powinien umożliwiać - badanie powierzchni różnorodnych materiałów, w tym uwodnionych, nieprzewodzących i silnie odgazowujących -w stanie naturalnym i bez wstępnego preparowania.
3	- pracę w warunkach wysokiej i niskiej próżni. Wartość niskiej próżni powinna wynosić co najmniej 3000Pa. Wymagany jest także układ pracujący z różnymi gazami roboczymi, w tym z parą wodną.
4	Napięcie przyspieszające powinno być nastawiane w sposób płynny w zakresie od 0,2 - 30 kV
5	Zdolność rozdzielcza powinna nie mniejsza niż: a)    3,0 nm przy 30 kV w trybie wysokiej próżni (SE) b)    20nm przy lkV (SE, wysoka próżnia) c)    lOnm przy 5kV(SE, wysoka próżnia d)    5nm przy 30 kV w trybie niskiej próżni. (BSD)
6	Zakres powiększenie powinien wynosić od 5-l.000.000x
7	Prąd próby (probe current) ustawiany w zakresie od 1 pA do 5pA
8	Mikroskop powinien być wyposażony w co najmniej następujące detektory a)    Detektor SE do pracy w trybie wysokiej próżni b)    - Detektor SE do pracy w niskiej próżni c)    - Detektor 5QBSD do pracy w wysokiej i niskiej próżni