Literatura podstawowa | |
1 |
Zbiór podstawowych przepisów: -Ustawa z dnia 30 czerwca 2000 r. Prawo własności przemysłowej (tekst jedn.: Dz. U. z 2003 r, Nr 19, poz. 1117 z późniejszymi zmianami), -Ustawa z dnia 4 lutego 1994 r. O prawie autorskim i prawach pokrewnych Dz. U. Nr 80 z 2000 r. (tekst jedn. Dz. U. z 2006 r.. Nr 90, poz. 631 z późniejszymi zmianami), -Rozporządzenie Prezesa RM z dnia 17 września 2001 r. w sprawie dokonywania i rozpatrywania zgłoszeń wynalazków i wzorów użytkowych (Dz.U. z 2001 r.. Nr 102, poz. 1119 z późniejszymi zmianami) |
2 |
Kostański P.. Żelechowski Ł.. ..Prawo własności przemysłowej". Warszawa 2014 |
3 |
Barta J., Markiewicz R., ..Prawo autorskie", Wolters Kluwer, Warszawa 2008 |
Literatura uzupełniająca | |
4 |
Pyrża A. (red.) ..Poradnik wynalazcy". Urząd Patentowy RP. Warszawa 2009 |
5 |
Kotarba W., ..Zarządzanie wiedzą chronioną w przedsiębiorstwie", ORGMASZ, Warszawa 2001 |
6 |
Vall du M., ..Prawo patentowe". Wolters Kluwer, Warszawa 2008 |
Macierz efektów kształcenia | |||||
Efekt kształcenia |
Odniesienie danego efektu kształcenia do efektów' zdefiniowanych dla całego programu (PEK) |
Cele przedmiotu |
Treści programowe |
Metody dydaktyczne |
Metody oceny |
EK1 |
FiR 1P_W01 |
C1.C2 |
W1-W2, W3-W4, W7, W8, W9, W10, Wll, W12 |
1,2,3 |
Ol |
EK2 |
FiR 1P_W01 |
C3 |
W6, W13, W14 |
1,2,3 |
Ol |
EK3 |
FiR 1P W01 |
C2, C3 |
W3, W4, W5 |
1,2,3,4 |
Ol |
EK4 |
FiR 1PJJ01 |
Cl |
W1-W2, W7-W8, Wll |
1,2,3,4 |
Ol |
EK5 |
FiR 1P U01 |
C2 |
W5 |
2,3,4 |
Ol |
EK6 |
FiR 1 P_K01 |
C3 |
Wl, W2, W3, W4, W7, W8, W13, W14 |
1,2,3,4 |
Ol |
Metody i kryteria oceny | ||
Symbol metody oceny |
Opis metody oceny |
Próg zaliczeniowy |
Ol |
Zaliczenie pisemne z wykładu |
100% |
Autor programu: |
dr Joanna Sitko, mgr Tomasz Milczek |
Adres e-mail: | |
Jednostka organizacyjna: |
Katedra Organizacji Przedsiębiorstwa |
12