24822

24822



Tematyka wykładów:

■    Podstawowe pojęcia metrologiczne

■    Jednostki miar i ich powiązanie (układ SI)

■    Wzorce jednostek miar

■    Błędy i metody pomiarów

■    Niepewność pomiarowa i jej wyznaczenie

■    Sygnały i ich przetwarzanie

■    Przyrządy pomiarowe i ich właściwości

■    Opracowanie wyników pomiarów

■    Zasady prowadzenia eksperymentów



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Plan wykładu Podstawowe pojęcia związane ze sterowaniem i systemami wbudowanymi. Mikrokontrolery
Treść kursu: Kurs zawiera wykłady o podstawowych pojęciach i twierdzeniach rachunku prawdopodobieńst
POLITECHNIKA GDAŃSKA mArchitektura systemów wbudowanych Treść wykładu: • Podstawowe pojęcia
Tematyka wykładów: ■    Podstawowe pojftia metiologkine •
Ekonomika i organizacja produkcji Wykład 2. Podstawowe pojęcia ekonomiczne godziny: 1-2 1
19.    Treści kształcenia: Wykład: Podstawowe pojęcia, określenia i prawa z zakresu:
Pomiary elektryczne w obwodach prądu stałego: Podstawowe pojęcia metrologii: pomiary, metody pomiaro
wykład6 PODSTAWOWE POJĘCIA GIS W Języku potocznym 016 jest najeżęśclej postrzegany jako oprogramowa
Politechnika WrocławskaPlan wykładu 1.    Podstawowe pojęcia ekonomiczne: 1. 1.
Tematyka wykładów Podstawowe definicje i prawa chemiczne. Typy reakcji chemicznych. Budowa
DSC00286 (17) Tematyka wykładów Podstawy prawa. Geneza prawa żywnościowego. Istota i zadania prawa
Program wykładów 1.    Podstawowe pojęcia automatyki 2.
Program wykładu 1-4 1.    Podstawowe pojęcia automatyki •
I Politechnika WrocławskaZAKRES WYKŁADU Podstawowe pojęcia i prawa mikroekonomiczne. w 2 Podstawowe

więcej podobnych podstron