144 9 UKŁADY ZASILANIA TRANZYSTORÓW 9.1. WYBÓR PUNKTU PRACY TRANZYSTORA Przez wybór punktu pracy elementu aktywnego należy rozumieć wybór punktu na jego charakterystyce prądowo-napięciowej lub w polu rodziny charakterystyk, np. kolektorowych lub drenowych. Jak wynika z opisu wielkosygnałowych modeli tranzystorów bipolarnych i unipolarnych, opisanych odpowiednio w rozdz. 4.2 oraz 5.2, dla jednoznacznego określenia punktu pracy tranzystora konieczne jest podanie dwóch wielkości, spośród napięć i prądów opisujących rodziny jego charakterystyk statycznych. W przypadku tranzystora bipolarnego wielkościami tymi są najczęściej prąd kolektora IC i napięcie kolektor - emiter UCE lub napięcie baza - emiter UBE . W przypadku tranzystora unipolarnego są to: prąd drenu ID i napięcie dren - źródło UDS lub napięcie bramka - źródło UGS . Dobór punktu pracy w znacznym stopniu zależy od przeznaczenia i warunków pracy układu. Pod uwagę należy wziąć czynniki związane ze strukturą układu, stawianymi przed nim wymaganiami technicznymi oraz rodzajem użytych tranzystorów. Punkt pracy powinien leżeć w obszarze, w którym tranzystory wykazują liniowe właściwości wzmacniające. Dla tranzystorów bipolarnych jest to obszar pracy aktywnej przy polaryzacji normalnej, dla tranzystorów unipolarnych obszar nasycenia. = - b) a) i i u 0 u 0 Rys.9.1. Dopuszczalne obszary wyboru punktu pracy w polu charakterystyk wyjściowych: a) tranzystora bipolarnego, b) tranzystora unipolarnego Dla każdego tranzystora można wyznaczyć w polu jego charakterystyk wyjściowych dopuszczalny obszar pracy, poza który nie 145 powinien wychodzić chwilowy punkt pracy wyznaczony chwilowymi wartościami prądu i napięcia. Jak pokazano na rys.9.1a, obszar ten dla tranzystora bipolarnego ograniczają linie: - minimalnego prądu kolektora ICmin , poniżej którego tranzystor wchodzi w stan odcięcia (wystąpią wtedy duże zniekształcenia nieliniowe), - maksymalnego prądu kolektora ICmax , powyżej którego pojawiają się zniekształcenia związane ze zmniejszaniem wzmocnienia prądowego β przy dużych prądach, - minimalnego napięcia UCE min = UCEsat (wchodzenie w zakres nasycenia wiąże się z dużymi zniekształceniami nieliniowymi), - maksymalnego napięcia UCE max (ograniczenie wynikające ze zjawiska powielania lawinowego lub zjawiska Zenera), - maksymalnej mocy strat PCmax , wynikającej z możliwości rozproszenia średniej mocy wydzielonej w tranzystorze i maksymalnej temperatury struktury tranzystora. Podobny obszar w polu charakterystyk wyjściowych tranzystora polowego iD = f ( uDS ) przedstawiono na rys.9.1b. Ograniczają go linie: - parabola UDS = UGS - UT rozgraniczająca obszar liniowy (triodowy) od obszaru nasycenia (tylko w obszarze nasycenia tranzystor charakteryzuje się liniowymi właściwościami wzmacniającymi), - minimalnego prądu drenu IDmin , poniżej którego tranzystor wchodzi w stan odcięcia (co wiąże się z dużymi zniekształceniami nieliniowymi), - maksymalnego prądu drenu IDmax , powyżej którego wystąpią zniekształcenia nieliniowe spowodowane różnym nachyleniem charakterystyk wyjściowych (różną konduktancją wyjściową tranzystora), - maksymalnego napięcia UDS max (ograniczenie wynikające z powielania lawinowego nośników w słabo domieszkowanym obszarze podłoża), - maksymalnej mocy strat PDmax , wynikającej z możliwości rozproszenia średniej mocy wydzielonej w tranzystorze. Od wybranego punktu pracy tranzystora zależą prawie wszystkie parametry tranzystora, przy czym zależność ta jest niekiedy bardzo silna. Najczęściej nie jest możliwe uzyskanie dla wybranego punktu pracy wszystkich parametrów zmiennoprądowych o optymalnych wartościach dla zapewnienia stawianych wymagań projektowych takich jak: 146 wielkość wzmocnienia, impedancja wejściowa i wyjściowa, szumy, pasmo przenoszenia, zniekształcenia nieliniowe, moc wyjściowa itp. Na ogół wybór punktu pracy jest kompromisem pomiędzy rozbieżnymi wymaganiami, który najlepiej jest dokonać indywidualnie dla projektowanego układu. 9.2. STATYCZNE I DYNAMICZNE PROSTE ROBOCZE UKŁADÓW WZMACNIAJ CYCH Na rys.9.2a przedstawiono schemat ideowy wzmacniacza w konfiguracji wspólnego emitera , w którym zastosowano najprostszy z możliwych sposobów zasilania tranzystora, przy wykorzystaniu jednego źródła zasilającego i rezystorów (tzw. układ zasilania ze stałym prądem bazy). + a) b) i U Nachylenie i -1 c) U = U U = 0 U R R I I I I I R R U u u 0 0 U U I R U U I R Rys.9.2. Prosty przykład układu zasilania tranzystora bipolarnego: a) schemat ideowy, b) schemat zmiennoprądowy, c) graficzne wyznaczenie punktu pracy Dla układu z rys.9.2a, przy odłączonym od wejścia zmiennoprądowym źródle ig , możemy zapisać następujące równania Kirchhoffa UCC = iCRC + uCE (9.1) UCC = iBRB + uBE (9.2) przy czym występujące w powyższych równaniach wartości chwilowe prądów i napięć oznaczają wartości stałoprądowe w punkcie pracy. 147 Układ równań (9.1, 9.2) możemy rozwiązać graficznie, jak to pokazano na rys.9.1c. Równanie (9.1) jest równaniem tzw. statycznej prostej roboczej w polu charakterystyk wyjściowych iC = f (uCE ) tranzystora, przechodzącej przez punkt pracy ICQ , U i przecinającej oś iC w punkcie UCC RC oraz oś uCE w punkcie UCC . W punkcie pracy spełniona jest relacja UCC = UCEQ + ICQRC (9.3) Jeżeli do wejścia układu zostanie dołączone zmiennoprądowe źródło prądu ig , to układ równań Kirchhoffa (9.1-9.2) obowiązuje dla chwilowych wartości napięć i prądów tranzystora UCC = iCRC + uCE (9.4) UCC = iB - ig RB + uBE (9.5) ( ) przy czym chwilowe wartości napięć i prądów są wynikiem nałożenia składowych zmiennych napięć i prądów na składowe stałe określające punkt pracy tranzystora iB = IBQ + ib (9.6) iC = ICQ + ic  (9.7)  uCE = UCEQ + uce  Na rys.9.2b przedstawiono równoważny schemat zmiennoprądowy rozpatrywanego układu, w którym dla składowych zmiennych obowiązują zależności uce =-icRC (9.8) Podstawiając zależności (9.7) do równania (9.8), otrzymujemy UCEQ 1 iC -- uCE + ICQ + (9.9) RC RC Równanie (9.9) przedstawia tzw. dynamiczną prostą roboczą w polu charakterystyk wyjściowych tranzystora, która przechodzi przez punkt pracy, a jej nachylenie -1 RC odpowiada wypadkowej rezystancji w obwodzie wyjściowym tranzystora dla składowej zmiennej. W rozważanym przypadku obie proste robocze: statyczna i dynamiczna pokrywają się. 148 Aby jednak pokazać różnicę pomiędzy statyczną a dynamiczną prostą roboczą, rozważmy nieco inny układ przedstawiony na rys.9.3a. W układzie tym w obwodzie emitera jest wł ączona rezystancja RE zbocznikowana pojemnością CE tak dobrana, że dla częstotliwości sygnałów przenoszonych przez wzmacniacz jej reaktancja jest pomijalnie mała (kondensator CE stanowi zwarcie). + a) b) i u R i i R i Nachylenie c) -1 + Nachylenie -1 + ( ) Q 1 0 u Rys.9.3. Układ zasilania tranzystora bipolarnego z dwójnikiem R ||C w obwodzie emitera: a) schemat ideowy, b) schemat zmiennoprądowy, c) statyczna i dynamiczna prosta pracy w polu charakterystyk wyjściowych W tym przypadku równanie Kirchhoffa dla obwodu kolektora, przy odłączonym zmiennoprądowym źródle ig , opisuje zależność UCC = iC RC + RE + uCE (9.10) () przy czym iC , uCE są wartościami stałoprądowymi określającymi punkt pracy. Równanie (9.10) opisuje statyczną prostą roboczą przechodzącą przez punkt pracy ICQ , UCEQ i przecinającej oś iC w punkcie UCC RC + RE () oraz oś uCE w punkcie UCC (rys.9.3c). Dla składowych zmiennych rezystancja RE jest zwarta, zatem zmiennoprądowy schemat układu (rys.9.3b) jest identyczny jak w poprzednio rozważanym przykładzie. Zatem dynamiczną prostą roboczą opisuje w tym przypadku również równanie (9.9). Jak pokazano na rys.9.3c, obie proste robocze przechodzą przez punkt pracy 149 o współrzędnych ICQ , i UCEQ , przy czym ich nachylenia wynoszą odpowiednio: statycznej -1 RC + RE , zaś dynamicznej -1 RC . () Jako ostatni przykład rozważymy układ wzmacniający, w którym obciążenie dołączone jest do obwodu kolektorowego tranzystora za pośrednictwem transformatora sprzęgającego (rys.9.4). 2 Prosta statyczna = i nachylenie a) b) 1 ∞ Prosta dynamiczna nachylenie Q u u - + u = 2 Rys.9.4. Wzmacniacz ze sprzężeniem transformatorowym: a) schemat ideowy, b) proste robocze - statyczna i dynamiczna w układzie Jeżeli rezystancja uzwojenia pierwotnego transformatora jest pomijalnie mała, to statyczna prosta robocza przechodzi pionowo przez punkt pracy Q , przecinając oś uCE w punkcie UCEQ = UCC . Dynamiczna prosta robocza przechodzi przez punkt pracy Q , a jej nachylenie -1 R' L odpowiada przetransformowanej rezystancji obciążenia R' = p2RL , przy L czym p jest przekładnią transformatora. Ustalenie wybranego punktu pracy i zapewnienie jego stałości przy zmianach czynników zewnętrznych, takich jak zmiany temperatury, napięć zasilających, czy wymianie elementów wymaga zaprojektowania odpowiedniego układu zasilania i stabilizacji punktów pracy tranzystorów w projektowanym układzie. 9.3. ZASILANIE I STABILIZACJA PUNKTÓW PRACY TRANZYSTORÓW W UKŁADACH DYSKRETNYCH 9.3.1. Układy zasilania tranzystorów bipolarnych Do analizy stałoprądowych warunków pracy w obszarze aktywnym wykorzystamy omówiony w rozdz. 4.2.1 model Ebersa-Molla (rys.9.5) 150 C C C = β +1 α α 0 β 00 ( ) B B B E E E Rys.9.5. Model stałoprądowy tranzystora bipolarnego Zgodnie z rozpływem prądów w tranzystorze otrzymujemy IE = α IE + IC0 (9.11) N IE = β IB + ICE 0 (9.12) N ICE 0 = β + 1 IC0 (9.13) ( ) N IC0 - prąd zerowy kolektora w konfiguracji OB. Zatem (oznaczając β = β0 ) prąd kolektora IC wynosi N IC = β0IB + β0 + 1 IC0 (9.14) ( ) Termiczna zależność koncentracji samoistnych nośników prądu, ruchliwości nośników prądu, współczynnika dyfuzji, czasu życia nośników oraz potencjału Fermiego powodują, że parametry tranzystora zależą od temperatury. Można przyjąć, że termiczne zmiany prądu kolektora wiążą się głównie ze zmianami trzech wielkości: IC0 , UBE i β0 , które zależą od temperatury i które w sposób jawny determinują wielkość prądu kolektora w układzie zasilania tranzystora. IC = f UBE , β0 , IC0 (9.15) () Prąd IC0 tranzystorów krzemowych jest bardzo mały (w temperaturze 25°C rzędu 1nA) i w przybliżeniu podwaja się przy wzroście temperatury o każde 8°C w otoczeniu temperatury 25°C. Napięcie UBE wynosi ok. 0,7V w temperaturze 25°C i maleje ze wzrostem temperatury ok. 2,2mV/°C. Współczynnik β0 rośnie ze wzrostem temperatury i w oparciu o empiryczne zależności można stwierdzić liniowy przyrost β0 z szybkością 1/80°C. 151 Termiczne zmiany wyszczególnionych parametrów tranzystora mogą być opisane przybliżonymi zależnościami analitycznymi IC0 T ≈ IC0 25 C ⋅ 2∆T 8 C (9.16) ( ) ( ) V UBE T ≈ UBE 25 C - 0,0022∆T (9.17) ( ) ( ) C ∆T  β0 T ≈ β0 25 C ⋅1+ (9.18) ( )   ( )  80 C Zmiany β0 , UBE , IC0 mogą wynikać nie tylko ze zmiany temperatury, ale również z rozrzutu produkcyjnego parametrów. Szczególnie du ży rozrzut produkcyjny może posiadać współczynnik β0 . Np. w katalogach dyskretne tranzystory tego samego typu są najczęściej dzielone na grupy, zależnie od wielkości wzmocnienia prądowego β0 , ze względu na bardzo duży rozrzut technologiczny tego parametru, zawieraj ący się nawet w granicach 30...300. Przyrost prądu kolektora, wywołany przyrostami poszczególnych wielkości β0 , UBE , IC0 , możemy wyznaczyć w postaci różniczki zupełnej prądu IC , określonego wzorem (9.15) ∂ IC ∂ IC ∂ IC dIC ≈ dβ0 + dUBE + dIC0 (9.19) ∂ β0 ∂ UBE ∂ IC0 Pochodne cząstkowe w równaniu (9.19) są funkcjami układowymi obwodów zasilania tranzystorów i określa się je mianem współczynników stabilizacji prądu kolektora w następujący sposób: ∂ IC ∆IC SI =≈ (9.20) ∂ IC0 ∆IC0 ∂ IC ∆IC SU =≈ (9.21) ∂ UBE ∆UBE ∂ IC ∆IC Sβ = ≈ (9.22) ∂ β0 ∆β0 Zatem równanie (9.19) możemy zapisać w postaci ∆IC ≈ SI∆IC0 + SU∆UBE + Sβ∆β0 (9.23) Dla tranzystorów krzemowych często pomija się współczynnik stabilizacji SI ze względu na bardzo małą wartość prądu zerowego IC0 tranzystora i pomijalną wartość składnika S ∆ I . 152 Układ zasilania tranzystora jest tym lepszy, im mniejsze zapewnia współczynniki stabilizacji prądu kolektora, wtedy bowiem, nawet duże zmiany ∆IC0 , ∆UBE , ∆β0 (odpowiadające dużym zmianom temperatury) wywołują niewielki przyrost prądu kolektora. Jednym z najprostszych układów zasilania tranzystora jest rozważany wcześniej układ zasilania stałym prądem bazy, którego schemat ideowy powtórzono na rys.9.6. U U R R I β0I I 0 I Rys.9.6. Układ zasilania stałym prądem bazy i jego model dla składowej stałej Ze schematu na rys.9.6 otrzymujemy U -U U I = ≈ ≈ const (dla U >> U ) (9.24) R R Z zależności (9.24) wynika nazwa układu. Wykorzystując zależności (9.14, 9.24) oraz równanie Kirchhoffa dla obwodu kolektorowego układu z rys.9.6, otrzymujemy współrz ędne punktu pracy tranzystora UCC - UBE UCC IC = β0 + β0 + 1 IC0 ≈ β0 ( ) (9.25) RB RB UCE = UCC - ICRC W układzie tym nie ma żadnych możliwości optymalizacji wartości elementów układu polaryzacji, gdyż dla zadanego punktu pracy ( IC ,UCE ) i napięcia zasilania UCC wynikają jednoznacznie określone wartości elementów RB , RC , które są konsekwencją równań określających punkt pracy. Wartości współczynników stabilizacji w tym układzie są duże, zatem punkt pracy jest silnie uzależniony od parametrów tranzystora. Lepsze własności stabilizacyjne posiada układ zasilania stałym prądem emitera (rys.9.7). 153 C I 0 α I 0 B I R E -U R -U Rys.9.7. Układ zasilania stałym prądem emitera i jego model dla składowej stałej Ze schematu przedstawionego na rys.9.7 otrzymujemy UEE - UBE UEE IE = ≈ ≈ const (dla UEE >> UBE ) (9.26) RE RE Z zależności (9.26) wynika nazwa układu. Uwzględniając β0 IC = IE + IC0 (9.27) β0 + 1 z równań (9.26) i (9.27) otrzymujemy β0 UEE - UBE UEE - UBE UEE IC = + IC0 ≈ ≈ (9.28) β0 + 1 RE RE RE W podobny sposób można obliczyć napięcie UCE UCC + UEE = ICRC + UCE + IE RE (9.29) Z równań (9.27), (9.29) otrzymujemy   β0 + 1 β0 + 1 UCE = UCC + UEE - IC RC + RE + IC0RE ≈ β0  β0 (9.30)   ≈ UCC + UEE - IC RC + RE () Jest to równanie statycznej prostej pracy w polu charakterystyk wyjściowych tranzystora. Równania (9.28), (9.30) określają współrzędne punktu pracy i można z nich jednoznacznie wyznaczyć RC i RE przy zadanych UCC , UEE . Wszystkie współczynniki stabilizacji: S , S , Sβ (które można wyznaczyć z równania (9.28), obliczając pochodne cząstkowe kolejno względem IC0 , UBE i β0 ) mają mniejsze 154 wartości niż w przypadku układu za stałym prądem bazy. Stabilizacja punktu pracy jest tym lepsza, im R jest większe. Układ zasilania ze sprzężeniem kolektorowym został przedstawiony na rys.9.8. Sprzężenie zwrotne napięciowe realizowane przez rezystor RF stabilizuje zmiany napięcia UCE . Jeżeli zmaleje prąd kolektora IC , to zmaleje spadek napięcia na rezystorze RC , równy IC + IB RC , wzrośnie napięcie UCE , zatem wzrośnie napięcie na () rezystorze RF ( IBRF = UCE - UBE ), wzrośnie prąd bazy IB , wzrośnie prąd kolektora IC , co zwrotnie spowoduje zwiększenie spadku napięcia na rezystorze RC , czyli zmniejszenie napięcia UCE . Na tym polega stabilizująca rola sprzężenia zwrotnego. W rezultacie UCE wzrośnie mniej niż w układzie bez sprzężenia. Sprzężenie zwrotne jest tym silniejsze i stabilizacja punktu pracy lepsza, im warto ść RF jest mniejsza. U U R C I R R R β0I I 0 = I I = β0 +1 I ( ) 0 U U B U E Rys.9.8. Układ ze sprzężeniem kolektorowym i jego model dla składowej stałej Dla układu z rys.9.8 otrzymujemy RC β0IB + IB + ICE 0 + RF IB + UBE = UCC (9.31) () IC - ( ) β0 + 1 IC0 IB = (9.32) β0 Stąd β0 UCC - UBE + IC0 β0 + 1 RC + RF () ( )( ) IC = (9.33) RF + β0 + 1 RC ( ) UCE + IC + IB RC = UCC (9.34) () Korzystając z zależności (9.32) i (9.34) otrzymujemy równanie statycznej prostej obciążenia w polu charakterystyk wyjściowych. 155  β0 + 1 IC0  ( ) UCE + IC + RC = UCC (9.35)    β0  Zależności (9.33) i (9.35) określają współrzędne punktu pracy tranzystora. Inny sposób wykorzystania ujemnego sprzężenia zwrotnego do stabilizacji punktu pracy przedstawiono na rys.9.9 w układzie potencjometrycznym ze sprzężeniem emiterowym. Jest to podstawowy sposób zasilania tranzystora w układach dyskretnych, zawieraj ących jedno źródło napięcia zasilającego. a) b) R tw. Thevenina R U = U I R R = + = R I Rys.9.9. Potencjometryczny układ za sprzężeniem emiterowym (a) i jego równoważny układ z zastępczym źródłem Thevenina (b) Korzystając z zasady Thevenina, układ ten możemy przekształcić w równoważny układ ze sprzężeniem emiterowym i z dwoma źródłami zasilania (rys.9.9b). Sprzężenie zwrotne prądowe realizowane przez RE stabilizuje zmiany prądu IE . Jeżeli zmaleje prąd emitera IE , to zmaleje spadek napięcia na rezystorze RE , zatem wzrośnie napięcie UBE , wzrośnie prąd bazy IB , co zwrotnie spowoduje wzrost prądu emitera IE . W rezultacie prąd emitera IE zmaleje mniej niż w układzie bez sprzężenia zwrotnego. Dla układu z rys.9.9b możemy zapisać równania UBB = IBRB + UBE + IE RE   IC = β0IB + β0 + 1 IC0 (9.36) ( )   IE = IB + IC  z których możemy wyznaczyć prąd kolektora UBB ( - UBE β0 + IC0 RB + RE β0 + 1 ) ( )( ) IC = (9.37) RB + β0 + 1 RE ( ) 156 Wykorzystując równania (9.36) oraz równanie Kirchhoffa dla obwodu kolektorowego UCC = ICRC + UCE + IE RE (9.38) otrzymujemy     β0 + 1 β0 + 1 UCE = UCC + IC0RE - IC RC +RE (9.39)      β0   β0  Jest to równanie statycznej prostej obciążenia w polu wyjściowych charakterystyk IC UCE . ( ) Korzystając z zależności (9.20-9.23) i (9.37) łatwo można wykazać, że stabilizacja poprawia się, gdy stosunek RB RE → 0, gdy stabilizowany jest prąd emitera. Jednak, gdy wartość RE jest zbyt duża, to napięcie zasilania musi być duże oraz pogarsza się stabilizacja napięcia UCE albo, przy tym samym stopniu stabilizacji napi ęcia UCE rezystancja RC musi być mała (straty wzmocnienia). Przyjmując: IC0 = 0, β0 + 1 ≈ β0 i UCC = const , możemy napisać UCE = UCC - IC RC + RE (9.40) () -∆UCE = RC + RE ∆IC (9.41) () Bezpieczniej jest zamienić równanie (9.41) na nierówno ść -∆UCE ≥ RC + RE ∆IC (9.42) () ∆UCE RC + RE ≤ (9.43) ∆IC Zbyt mała wartość rezystancji RB ogranicza wzmocnienie dla składowej zmiennej ze względu na silne tłumienie wejścia tranzystora. Wpływ rezystancji RE na parametry robocze wzmacniacza (wzmocnienie napięciowe i impedancję wejściową) dla składowej zmiennej można znacznie zmniejszyć poprzez zastosowanie kondensatora blokującego. Tak więc, przy wyborze wartości RE , RB należy się kierować kompromisem pomiędzy warunkami stabilizacji prądu IC , napięcia UCE , wielkością napięcia zasilającego UCC i wzmocnieniem układu. Najlepsze własności stabilizacyjne ma układ z dwoma źródłami zasilania (w tym układ ze stałym prądem emitera). Moc pobierana ze źródeł zasilania w tym przypadku jest z reguły mniejsza ni ż 157 w przypadku układu z jednym źródłem. Natomiast wadą jest konieczność stosowania dwóch źródeł zasilania. Zadawalające efekty daje zastosowanie układu ze sprz ężeniem emiterowym, kolektorowym i z obydwoma naraz. Jednak że w układzie ze sprzężeniem kolektorowym stabilizacja zależy od rezystancji RC , zatem układ ten jest trudniejszy do realizacji. Ze wzgl ędów stabilizacyjnych najgorsze własności ma układ ze stałym prądem bazy. Układ zasilania stałym prądem emitera, charakteryzujący się najkorzystniejszymi właściwościami stabilizacyjnymi, najłatwiej jest zrealizować w postaci źródła prądu stałego w obwodzie emitera. Przykład realizacji prostego źródła stałoprądowego w technice elementów dyskretnych i jego schemat zastępczy przedstawiono na rys.9.10. a) I = I b) I = I c) E I g I C U U I R g U I R g α I U R R ≈ B' r -U -U Rys.9.10. Źródło prądu stałego: a) z diodą Zenera, b) z uziemioną bazą, c) zmiennoprądowy schemat zastępczy źródła Wykorzystując prawo Kirchhoffa w układzie na rys.9.10a, mo żemy wyznaczyć prąd wyjściowy źródła UZ + UD - UBE UZ IO = IC = α IE ≈ ≈ (9.44) 0 RE RE W układzie występuje wzajemna kompensacja napięcia UBE z napięciem UD diody D włączonej szeregowo z diodą Zenera, w tym również temperaturowych zmian tych napięć. W układzie na rys.9.10b, z uziemioną bazą dla prądu stałego, prąd źródła wynosi UEE - UBE β0 UEE - UBE IO = IC = α IE = ≈ (9.45) 0 RE β0 + 1 RE Różniczkowa rezystancja wyjściowa źródła, wyznaczona w oparciu o małosygnałowy schemat zastępczy na rys.9.10c, wynosi Ucb' 11 ro ≈ ≈ ≈ (9.46) Ic gcb' + gec gec 158 Przedstawione źródło prądowe posiada dużą rezystancję wyjściową, której przybliżona wartość jest taka, jak tranzystora w konfiguracji z uziemioną bazą. Przedstawiony układ źródła prądowego jest dobrym przykładem wskazującym na możliwość wykorzystania elementów nieliniowych do kompensacji wpływu temperaturowych zmian wybranych parametrów tranzystora. Liniowe obwody zasilania, tj. obwody zawieraj ące wyłącznie liniowe rezystory, zapewniają stałość punktu pracy rzędu kilku - kilkunastu % przy zmianach temperatury w przedziale 20-40 °C. W układach wymagających znacznie większej stałości prądu - rzędu 1 - 0,01% stosuje się obwody zasilania z elementami nieliniowymi. Przykładem układów o tak dużych wymaganiach stałości prądu w spoczynkowym punkcie pracy mogą być źródła prądowe zasilające stopnie wzmacniacza o sprzężeniach galwanicznych (np. we wzmacniaczu operacyjnym), prądowe źródła referencyjne itp. W nieliniowych obwodach zasilania wykorzystuje si ę ogólną zasadę kompensacji zmian parametrów stabilizowanego elementu zmianami parametrów innego elementu o bardzo podobnych wła ściwościach. Na rys.9.11 przedstawiono układ z potencjometrycznym zasilaniem bazy i sprzężeniem emiterowym oraz z kompensacją zmian napięcia UBE . +U R R I I I I β + R U = ≈ β 1 U R Rys.9.11. Układ zasilania z diodową nU kompensacją zmian napięcia U n U -U Zakładając, że prąd bazy jest pomijalnie mały w porównaniu do pr ądu dzielnika: I1 ≈ I2 oraz przyjmując IE ≈ IC , ze schematu na rys.9.11 otrzymujemy nUD + I2R2 = UBE + IE RE ≈ UBE + ICRE   UCC - nUD (9.47)  I2 =  R1 + R2  Z układu równań (9.47) możemy wyznaczyć IC 159 RUCC + nUDR1 - () R1 + R2 UBE 2 IC = (9.48) RE R1 + R2 () Warunek pełnej kompensacji zmian napięcia UBE możemy wyznaczyć z przyrównania do zera pochodnej dIC dT = 0, czyli dUD nR1 - ()dU R1 + R2 BE = 0 (9.49) dT dT Jeżeli dioda i tranzystor są wykonane w podobnym procesie technologicznym (dioda zrealizowana jako tranzystor w poł ączeniu diodowym) i pracują w tej samej temperaturze, to dUD dT ≈ dUBE dT (9.50) i warunek pełnej kompensacji ma postać R2 nR1 - () R1 + R2 = 0 , czyli = n - 1 (9.51) R1 Najczęściej stosuje się dwie diody ( n = 2 ) i wówczas R1 = R2 . Rozważany wcześniej układ źródła prądu stałego na rys.9.10a jest układem stabilizacji z jedną diodą (n = 1) i R2 = 0. 9.3.2. Układy zasilania tranzystorów unipolarnych Tranzystor MOSFET z kanałem zubożanym może pracować zarówno ze wzbogacaniem jak i ze zubożaniem. Jednakże praca ze wzbogacaniem odbywa się dla małego przedziału wartości napięcia bramka - źródło UGS . Dlatego podstawowym zakresem pracy tych tranzystorów jest praca ze zubożaniem. Tranzystory te z kanałem n pracują w obszarze nasycenia przy ujemnych wartościach napięcia UGS i dodatnich wartościach UDS , natomiast z kanałem p gdy polarność wspomnianych napięć jest zmieniona, tj. gdy napięcie UGS jest dodatnie a UDS jest ujemne. Otrzymanie napięć o podanej polarności umożliwia układ z dwoma źródłami zasilania (rys.9.12). Prąd bramki IG tranzystorów MOSFET jest rzędu pikoamperów i jego wpływ w obwodzie polaryzacji można pominąć. Przy takim założeniu układ z rys.9.12a opisują zależności =-UGG - IDRS UGS (9.52) U = UDS + ID RD + RS () DD  160 +U -U a) b) R R I I U > 0 U < 0 U < 0 U > 0 I = 0 I = 0 U I = I U I = I R R R R -U +U Rys.9.12. Układ z dwoma źródłami zasilania tranzystora MOS z kanałem zubożanym: a) typu n, b) typu p Natomiast układ z rys.9.12b, zgodnie z zastrzałkowanymi kierunkami prądów i napięć, opisuja równania UGS = UGG + IDRS  (9.53) U =-UDS + ID RD + RS () DD  Należy zaznaczyć, że w obu układach na rys.9.12 zaznaczono fizyczne kierunki przepływu prądów drenu ID . W obu układach zastosowano w obwodzie źródła rezystor RS stabilizujący (podobnie jak rezystor RE w obwodzie emitera) punkt pracy tranzystora o współrzędnych IDQ , UDSQ . Problem stałości punktu pracy wiąże się z rozrzutem technologicznym wartości napięcia odcięcia UP i prądu nasycenia IDSS (dla tranzystorów z kanałem zubożanym) napięcia progowego UT i współczynnika KW L (dla tranzystorów ' z kanałem wzbogacanym) oraz wpływem temperatury na te parametry. Termiczna zależność ruchliwości nośników prądu w kanale oraz napięć UP i UT są głównym czynnikiem temperaturowych zmian prądu drenu. Istnieje jednak taka wartość prądu drenu, przy której wpływy te kompensują się. Prąd ten nosi nazwę prądu autokompensacji. Wadą przedstawionych na rys.9.12 układów polaryzacji tranzystora jest konieczność zastosowania dwóch źródeł zasilania i to odmiennej polarności. Wady tej pozbawiony jest układ zasilania z automatyczną polaryzacją bramki zrealizowany w oparciu o układ z rys.9.12, w którym UGG = 0. Bramka jest nadal polaryzowana spadkiem napięcia na rezystorze RS . Wtedy układ z rys.9.12a nazywamy układem zasilania z automatycznym minusem UGS =-IDRS (9.54) 161 a z rys.9.12b, układem zasilania z automatycznym plusem UGS = IDRS (9.55) Jedno źródło zasilania jest także wykorzystywane w układzie potencjometrycznym przedstawionym na rys.9.13. -U +U a) b) R R R I I U > 0 U < 0 U I = I U I = I R R R R Rys.9.13. Potencjometryczny układ zasilania tranzystora MOSFET z kanałem zubożanym: a) typu n, b) typu p Układ z rys.9.13a opisują równania R2 U = UDD - IDRS  GS R1 + R2 (9.56)  UDD = UDS + ID RD + RS ()  natomiast układ z rys.9.13b R2 U =- UDD + IDRS  GS R1 + R2 (9.57)  UDD =-UDS + ID RD + RS ()  Układy te dają większą swobodę doboru punktu pracy. Tranzystory złączowe JFET, (które pracują za zubożaniem) mogą być zasilane przez omówione układy - tranzystor JFET z kanałem typu n przez układy z rys.9.12a, 9.13a, a tranzystor z kanałem typu p, przez układy z rys.9.12b, 9.13b. Tranzystory MOS z kanałem wzbogacanym w obszarze nasycenia wymagają napięć UGS i UDS o jednakowych znakach, z kanałem typu n - dodatnich, z kanałem p - ujemnych. Pod tym względem są one podobne do tranzystorów bipolarnych. Tranzystor z kanałem wzbogacanym typu n może być zasilany przez układ z rys.9.12a, w którym w miejsce źródła zasilania ( -UGG ) zastosujemy źródło ( +UGG ) oraz przez układ z rys.9.13a. Rezystancje w obu układach muszą być tak dobrane, aby napięcie bramka - źródło było dodatnie. Analogicznie tranzystor z kanałem wzbogacanym typu p może być zasilany przez układ z 162 rys.9.12b, w którym w miejsce źródła zasilania ( +UGG ) zastosujemy źródło ( -UGG ) oraz przez układ z rys.9.13b. Rezystancje w obu układach muszą być tak dobrane, aby napięcie bramka - źródło było ujemne. 9.4. ZASILANIE I STABILIZACJA PUNKTÓW PRACY TRANZYSTORÓW W UKŁADACH SCALONYCH 9.4.1. Ogólna charakterystyka obwodów zasilania w układach scalonych Technologia monolityczna stwarza idealne warunki dla wyeksponowania w układzie korzystnych właściwości elementów wytwarzanych na płytce półprzewodnika w tym samym procesie technologicznym. Należy tu przede wszystkim wymienić duże podobieństwo tranzystorów, zbliżoną temperaturę złącz, współbieżne zmiany parametrów tranzystorów oraz rezystancji przy zmianach temperatury otoczenia. W układach monolitycznych występują też inne ograniczenia niż w układach dyskretnych. W technologii kładów bipolarnych zakres wartości rezystancji jest ograniczony do kilkudziesięciu kΩ (20kΩ - rezystory bazowe), a ponadto rozrzuty wartości rezystancji są duże (15% – 30%). W technologii unipolarnej prawie wogóle nie stosuje się rezystorów, przy czym są one zastępowane źródłami prądowymi lub układami „luster prądowych” w obwodach polaryzacji prądem stałym oraz są stosowane jako obciążenia dynamiczne dla składowych zmiennych. Nie ma możliwości realizacji kondensatorów o pojemności przekraczającej kilkadziesiąt pF, dlatego układy wielostopniowe są z reguły układami o sprzężeniach galwanicznych bez kondensatorów separujących i odsprzęgających. W układach tych szczególnego znaczenia nabiera stałość punktów pracy tranzystorów, gdyż ich zmiany są wzmacniane w kolejnych stopniach. Ze względu na bezpośrednie sprzężenia, często zachodzi potrzeba stosowania układów przesuwania poziomu napięcia. Stabilizację punktów pracy zapewnia się przez powszechne stosowanie kompensacji nieliniowej, która jest znacznie ułatwiona dzięki zbliżonej temperaturze tranzystorów i dużemu podobieństwu ich charakterystyk. W monolitycznej technologii bipolarnej (z wyjątkiem tzw. komplementarnej technologii bipolarnej z izolacją tlenkową) charakterystyki i parametry tranzystorów p-n-p są gorsze (np. β0 = 10 ) 163 niż tranzystorów n-p-n (np. β0 = 40 - 200), dlatego ogranicza się ich stosowanie. W układach monolitycznych praktycznie nie ma możliwości wykonania elementów indukcyjnych. Ze wszystkimi elementami układu scalonego związane są bierne i czynne elementy pasożytnicze, skąd konieczność stosowania elementów o wartościach typowych, a nie minimalnych i maksymalnych. 9.4.2. Podstawowe bloki w układach zasilania i stabilizacji punktów pracy tranzystorów bipolarnych 9.4.2.1. Źródła stałoprądowe - lustra prądowe Na rys.9.14 przedstawiono typowy sposób zasilania tranzystora T , stosowany w bipolarnych układach scalonych. +U R R I I I T1 I I T2 Rys.9.14. Przykład zasilania tranzystora U w bipolarnych układach scalonych Tranzystor T chociaż pracuje w połączeniu diodowym, to jest nadal elementem aktywnym, ponieważ znajduje się na granicy obszaru aktywnego (UCB = 0 ). Tranzystory T i T pracują przy tym samym napięciu UBE , mają takie same prądy baz IB1 = IB2 = IB , a tym samym również takie same prądy kolektorów IC1 = IC2 = IC . Dla układu z rys.9.14 można zapisać zależności UCC = IRR + UBE (9.58) IR = IC1 + 2IB = IC + 2IB Rozwiązując układ równań (9.58) ze względu na I , otrzymujemy UCC - UBE UCC - UBE IC IC = - 2IB = - 2 (9.59) R R β0 Jeżeli UCC >> UBE , β0 >> 2 , to wzór (9.59) upraszcza się do postaci 164 UCC IC ≈ (9.60) R Zatem współrzędne punktu pracy tranzystora T określają zależności UCC  IC2 = IC ≈  R (9.61)  RC   UCE 2 = UCC - IC2RC ≈ UCC1-     R  Ponieważ temperaturowe zmiany rezystancji RC i R w układzie scalonym mogą być współbieżne (temperaturowy współczynnik stosunku RC R jest bardzo mały), zatem punkt pracy tranzystora T nie zależy od zmian temperatury, a jedynie od różnicy parametrów tranzystorów T i T . Ten prosty sposób wymuszania prądu jednego tranzystora przez drugi stanowi podstawę realizacji źródeł stałoprądowych w układach scalonych. Schemat ideowy najprostszego, a przy tym podstawowego źródła stałoprądowego z tranzystorami bipolarnymi przedstawiono na rys.9.15. I I = I I T1 I I T2 U Rys.9.15. Podstawowe źródło U stałoprądowe - lustro prądowe Zakładając, jak poprzednio, identyczność tranzystorów oraz pomijając wpływ napięcia UCE 2 tranzystora T na jego prąd kolektora w obszarze aktywnym możemy napisać 2IC1 IC1 + IB1 + IB2 = IC1 + 2IB = IO + = IREF (9.62) β0 stąd otrzymujemy IREF IO = = IC1 (9.63a) 1+ 2 β0 Jeżeli β0 >> 1, to IO ≈ IREF (9.63b) Prąd wyjściowy źródła IO jest równy w przybliżeniu prądowi odniesienia IREF , wymuszonemu przez źródło odniesienia (ang. 165 reference current). Ten rodzaj źródła stałoprądowego nosi nazwę zwierciadła prądowego, lub lustra prądowego (ang. current mirror). Wpływ napięcia UCE 2 na prąd źródła określimy na podstawie charakterystyki wyjściowej tranzystora T (rys.9.16) i 2 B ( ) 2 2 A = 0 ( ) 2 2 0 U 2 u 2 U Rys.9.16. Wpływ napięcia na prąd źródła Przy zmianie napięcia UCE 2 zmienia się prąd kolektora IC2 wskutek zjawiska modulacji szerokości bazy    UBE UCE 2 IC2 = IS exp 1- (9.64)     ϕT  U  A Korzystając z proporcji możemy napisać IC2 UCE 2 IC2 UCE 2 = 0 ( ) () = (9.65) U + UCE 2 U A A Czyli 2 IO = IC2 UCE 2 = IC2 UCE 2 = 0 1+ (9.66) ( ) ( ) UCE     U  A Ze względu na różne napięcia UCE tranzystorów, również prądy ich kolektorów nie są jednakowe ( IC1 ≠ IC2 ). Zakładając równość prądów przy zerowym napięciu UCE , stosunek tych prądów wynosi UCE 2 1+ IC2 U UCE 2 A = ≈ 1+ (9.67) IC1 1+ UCE1 U A U A Różniczkowa rezystancja wyjściowa źródła wynosi ∆uCE 2 U + UCE 2 U A A ro == ≈≈ rec (9.68) ∆iC2 IC2 UCE 2 IC2 UCE 2 ( ) ( ) 166 W lustrze prądowym istnieje możliwość wymuszenia w drugim tranzystorze prądu różnego od prądu odniesienia. Zaleta ta jest bardzo ważna ze względów praktycznych. Jeżeli powierzchnia złącz emiter - baza tranzystorów T i T w układzie z rys.9.15 są różne i wynoszą odpowiednio S1 i S2 , to stosunek prądów kolektorów tych tranzystorów jest równy stosunkowi powierzchni ich złącz emiterowych. Zatem IC1 S1 = (9.69) IC2 S2 Ponieważ IC1 IC2 IC1 = IREF - IB1 - IB2 = IREF - - (9.70) β0 β0 to po podstawieniu (9.69) do (9.70), otrzymujemy S2 S1 IO = IC2 = IREF (9.71) 1+ S2 S1 1+ β0 Jeżeli S1 = S2 to wzór (9.71) przyjmuje postać (9.63), natomiast gdy β0 >> 1+ S2 S1 , to S2 IO ≈ IREF (9.72) S1 S2 S1 S2 Wyrażenie 1+ S2 S1 ≈ S1 nazywa się wzmocnieniem lustra 1+ β0 prądowego. Na rys.9.17 przedstawiono zespół luster prądowych, w którym ten sam prąd odniesienia wymusza jednocześnie, zgodnie z zależnością (9.72), ustalone prądy wyjściowe w wielu tranzystorach. I I1 I2 I3 I I T1 T2 T3 T N T I NI Rys.9.17. Zespół luster prądowych Załóżmy, dla uproszczenia rozważań, że wszystkie tranzystory są jednakowe (mają tę samą powierzchnię złącza emiterowego). Wtedy, zgodnie ze schematem, otrzymujemy 167 IREF = IC + N + 1 IB (9.73) ( ) Stąd IREF I1 = I2 = = IN = IO = (9.74) N + 1 1+ β0 Dla dużych wartości β0 i niezbyt dużej liczby N wszystkie prądy wyjściowe są w przybliżeniu równe IREF . Zróżnicowanie tych prądów otrzymujemy przy różnych powierzchniach złącz emiterowych. W przypadku zastosowania tranzystorów p-n-p o małej wartości β0 ( β0 ≈ 10 ), albo przy połączeniu razem zbyt dużej ilości baz tranzystorów realizujących zespół luster prądowych pojawiają się coraz większe różnice pomiędzy prądem odniesienia IREF , a prądem wyjściowym. Na rys.9.18. przedstawiono zmodyfikowany układ źródła stałoprądowego - lustra prądowego o zmniejszonym wpływie prądów baz. I I 3 T3 I = I I I 3 T1 I I Rys.9.18. Źródło stałoprądowe - T2 lustro prądowe o zmniejszonym U wpływie prądów baz Prądy emitera i bazy tranzystora T wynoszą IC1 + IC2 2 IE 3 = IB1 + IB2 = = IO (9.75) β0 β0 IE 3 2 IB3 = = IO (9.76) β0 + 1 β0 β0 + 1 ( ) Po zsumowaniu prądów w węźle kolektora tranzystora T otrzymujemy 2 IREF - IC1 - IO = 0 (9.77) β0 β0 + 1 ( ) Stąd 168 IREF IO = (9.78) 2 1+ β0 β0 + 1 ( ) Nawet dla małych wartości β0 , warunek β0 β0 + 1 >> 2 jest spełniony, ( ) a tym samym prąd wyjściowy IO niewiele różni się od prądu odniesienia IREF . Podobne właściwości do opisanych wyżej posiada źródło prądowe - lustro prądowe Wilsona (rys.9.19), w którym relację pomiędzy prądem wyjściowym IO a prądem odniesienia IREF opisuje identyczna zależność jak (9.78). I I r T3 U T1 T2 U Rys.9.19. Lustro prądowe Wilsona Ze względu na kaskodowe połączenie tranzystorów T i T , lustro prądowe Wilsona posiada znacznie większą dynamiczną rezystancję wyjściową niż układy z pojedynczymi tranzystorami. Rezystancja ta wynosi U ro ≈ β0 A (9.79) 2IO Ponadto lustro prądowe Wilsona charakteryzuje się lepszymi właściwościami częstotliwościowymi (szerokopasmowymi), w porównaniu do innych luster prądowych. Ogólną metodą zapewniającą zwiększenie rezystancji wyjściowej źródła stałoprądowego - lustra prądowego jest budowanie układów kaskodowych. Podstawowy układ kaskodowego lustra prądowego przedstawiono na rys.9.20. Tranzystor T pracuje, podobnie jak tranzystor T , przy napięciu UCB = 0 . Dynamiczna rezystancja wyjściowa tego tranzystora, równa rce4 = U IC4 ≈ U IO , wnosi ujemne sprzężenie zwrotne prądowe A A szeregowe w obwodzie emitera tranzystora T , powodując znaczne zwiększenie wypadkowej dynamicznej rezystancji wyjściowej układu do wartości 169 U ro ≈ β0 A (9.80) IO I I r T1 T2 U T 3 T4 Rys.9.20. Kaskodowe źródło U stałoprądowe- lustro prądowe Dzięki tak dużej wartości dynamicznej rezystancji wyjściowej prąd wyjściowy źródła nie ulega zmianie pod wpływem zmieniającego się napięcia na wyjściu. 9.4.2.2. Stałoprądowe źródła odniesienia Omówione w poprzednim rozdziale źródła stałoprądowe, nazywane równocześnie lustrami prądowymi, rozważano głównie pod kątem dokładności, z jaką wymuszany jest prąd wyjściowy IO przez prąd odniesienia IREF . Nie zajmowano się natomiast, w jaki sposób wytworzyć prąd odniesienia o małej wrażliwości na zmiany napięcia zasilającego i temperatury. W przypadku realizacji stałoprądowych źródeł odniesienia podstawową sprawą jest stabilizacja napięciowa tak, aby wyjściowe prądy odniesienia były niezależne od napięć zasilających. Na rys.9.21 przedstawiono proste przykłady takich źródeł, w których występuje jednak słaba zależność prądu wyjściowego od napięcia zasilającego. +U +U a) b) I I T1 I T1 T2 U T2 T3 2U R U R Rys.9.21.Źródła stałoprądowe niezależne od napięcia zasilania Zaniedbując prąd bazy tranzystora T , dla obu układów można napisać 170 UBE ϕT I1 IO ≈ = ln (9.81) R2 R2 IS Ponieważ prąd I1 zależy od napięcia UCC UCC - 2UBE I1 = (9.82) R1 zatem prąd źródła pośrednio jest logarytmiczną funkcją napięcia zasilania. Na podstawie zależności (9.81), (9.82) możemy wyznaczyć wrażliwość IO prądu na zmiany napięcia UCC UCC  ∂ IO  ϕT IO   SU = = (9.83) CC IO  ∂ UCC  IOR2   Wadą układów z rys.9.21 jest silna zależność napięcia UBE od temperatury. Dla oceny wrażliwości źródła na zmiany temperatury definiuje się temperaturowy współczynnik względnej zmiany prądu źródła.   ∂ IO 1 T ∂ IO 1 IO 1   TW IO == = ST (9.84) ( )IO ∂ T T IO  ∂ T T    Współczynnik TW wyraża się w jednostkach 10 /°C lub w ppm/°C. Analizowany układ charakteryzuje się dość dużą wrażliwością IO na zmiany UCC , wynoszącą ok. 0,035, oraz dużym współczynnikiem TW IO , który można oszacować ok. -1100 ppm/°C. ( ) Lepszym rozwiązaniem jest źródło stałoprądowe przedstawione na rys.9.22, nazywane źródłem Widlara. +U R I I I I I T1 T2 U U R Rys.9.22. Stałoprądowe źródło Widlara Stosując prawo Kirchhoffa, otrzymujemy 171 IC1 IO UBE1 - UBE 2 - IOR2 = ϕT ln - ϕT ln - IOR2 = 0 (9.85) IES1 IES 2 Jeżeli tranzystory są jednakowe, to IES1 = IES 2 i wtedy ϕT IC1 IO = ln (9.86) R2 IO Zakładając: IB1, IB2 << IC1 oraz UBE1 << UCC możemy wyznaczyć przybliżoną wartość prądu kolektora IC1 UCC - UBE1 UCC IC1 ≈ I1 = ≈ (9.87) R1 R1 Podstawiając (9.87) do (9.86), otrzymujemy ϕT UCC IO ≈ ln (9.88) R2 IOR1 Jak wynika z równania (9.85) spadek napięcia IOR2 jest równy różnicy UBE1 - UBE 2 , co oznacza, że nawet przy stosowaniu niezbyt dużych wartości R2 prąd IO może być mały. Jest to właściwość źródła Widlara, wykorzystywana zawsze, gdy wymagany jest mały prąd źródła. Prąd źródła IO jest logarytmiczną funkcją napięcia zasilania UCC (rów.9.88), a jego wrażliwość na zmiany temperaturowe jest mniejsza niż w układzie z rys.9.21. Na rys.9.23 przedstawiono stałoprądowe źródło odniesienia z samoczynną polaryzacją napięciem U , w którym prądy wyjściowe są całkowicie niezależne od napięcia zasilającego (ang. self - biasing U reference) [22]. +U ϕ I a) b) I = ln R I T5 T6 R T4 I D P I R I D D I T1 I = I I D T2 T3 D R 0 I Rys.9.23. Stałoprądowe źródło odniesienia z samoczynną polaryzacją napięciem : a) schemat blokowy, b) charakterystyka przejściowa 172 Układ ma dwa wyjścia: jedno typu emisyjnego, w którym prąd źródła wypływa od dodatniego bieguna napięcia zasilania oraz drugie typu absorbcyjnego, w którym prąd źródła wpływa do masy układu (ang. current source / sink). Tranzystory T , T tworzą układ jak na rys.9.21b, zatem prąd kolektora IC1 dany jest wzorem (9.81). Lustro prądowe złożone z tranzystorów T , T wymusza równość prądów IC1 = I1. Rozwiązaniem obu równań, jak to przedstawiono graficznie na rys.9.23b, jest punkt P, lub punkt znajdujący się w początku układu współrzędnych (czyli IC1 = I1 = 0 ). Aby wyeliminować możliwość ustalenia się niepożądanego punktu pracy, przy IC1 = 0, układ posiada specjalne zabezpieczenie z diodami D -D (tranzystory w połączeniu diodowym), którego zadaniem jest spowodowanie przepływu prądu przez rezystor R wówczas, gdy IC1 = 0. Z chwilą, gdy osiągnięty zostanie właściwy punkt pracy P, dioda D spolaryzowana jest zaporowo i układ zabezpieczający zostaje odłączony od reszty układu. 9.4.2.3. Źródła napięcia odniesienia Źródła napięcia odniesienia (ang. voltage references) powinny posiadać małą rezystancję wyjściową oraz powinny być niewrażliwe na zmiany napięcia zasilania i temperatury. W przypadku realizacji tych źródeł głównym zadaniem jest stabilizacja temperaturowa. Kosztem rezygnacji z bardzo małej rezystancji wyjściowej wymaga się, aby temperaturowy współczynnik napięcia odniesienia TW UREF był ( ) mniejszy niż 100 ppm/°C. Proste przykłady źródeł napięciowych, przedstawione na rys.9.24, ilustrują jedynie metody ustalania napięcia wyjściowego o zmniejszonej wrażliwości na zmiany napięcia zasilania, bez stabilizacji temperaturowej. Napięcie na wyjściu oraz dynamiczna rezystancja wyjściowa układu z rys.9.24a wynoszą UREF = UZ + UBE (9.89) ∂ UZ ∂ UBEϕT ro =+ = rz + (9.90) ∂ I ∂ I I Napięcie UBE na tranzystorze T w połączeniu diodowym o ujemnym współczynniku temperaturowym częściowo kompensuje temperaturowe zmiany napięcia UZ o dodatnim współczynniku temperaturowym. 173 +U +U +U a) b) c) I I I U U U I T1 DZ R I T2 I T1 R U T1 TN Rys.9.24. Proste przykłady źródeł napięciowych: a) z diodą Zenera, b) o napięciu wyjściowym , c) mnożnik Źródło napięciowe na rys.9.24b posiada napięcie wyjściowe UREF = NUBE (9.91) oraz dynamiczną rezystancję wyjściową ∂ UBE ϕT ro = N = N (9.92) ∂ I I Wadą tego układu jest bardzo duża wartość temperaturowego współczynnika napięcia wyjściowego ∂ UREF ∂ UBE mV = N ≈ -2N (9.93) C ∂ T ∂ T Rys.9.24c przedstawia alternatywne rozwiązanie, nazywane mnożnikiem UBE , w którym przy pominięciu prądu bazy w stosunku do prądu dzielnika ( I1 ≈ I2 ), otrzymujemy R2 UBE = UREF R1 + R2 Stąd   R1 UREF = 1+ UBE (9.94)   R2   Dynamiczna rezystancja wyjściowa źródła wynosi R1 R1 + R2 ro = + (9.95) β0 gmR2 Na rys.9.25 przedstawiono źródło napięcia odniesienia z temperaturową kompensacją napięć UZ i UBE [22]. 174 + U I T1 U T2 U R U D U R Rys.9.25. Źródło napięcia T3 odniesienia z temperaturową U kompensacją napięć i Napięcie wyjściowe źródła wynosi R1 2R2 ( 2 UREF = UBE + UZ - 3UBE = (9.96) ()R R2R2 RUZ +R1 +-R2 )UBE + 1 Zaniedbując wpływ temperaturowego współczynnika stosunku rezystorów R1 R2 na napięcie wyjściowe, warunek kompensacji otrzymuje się, przyrównując do zera pochodną dUREF dT , czyli dUREF R2 dUZ R1 - 2R2 dUBE = + = 0 (9.97) dT R1 + R2 dT R1 + R2 dT Z równania (9.97) otrzymujemy warunek kompensacji dUZ R1 = 2 +dT (9.98) dUBE R2 dT Zakładając typowe wartości dUZ dUBE =+3 mV C oraz =-2 mV C dT dT otrzymujemy R1 / R5 = 05, U = UZ / 3 (9.99) , REF W technice układów monolitycznych bardzo często wykorzystuje się ogólną zasadę realizacji źródła napięcia odniesienia polegającą na kompensacji ujemnego temperaturowego współczynnika napi ęcia UBE 175 przez dodatni współczynnik napięcia ϕT . Zasadę tę zilustrowano schematem blokowym na rys.9.26 [22]. I T U U + U = U + Kϕ Kϕ ϕ Generator K ϕ Rys.9.26. Ogólna zasada realizacji źródła napięcia odniesienia typu band - gap Napięcie odniesienia U jest równe U = U + Kϕ (9.100) Warunek kompensacji otrzymuje się, gdy dU dU dϕ = + K = 0 (9.101) dT dT dT Z równania (9.101 możemy wyznaczyć wymaganą wielkość niezależnego od temperatury współczynnika K ∆U ∆ϕ K = (9.102) ∆T ∆T Uwzględniając typowe wartości dU ∆ϕ , = -2 mV C oraz = +0085 mV C dT ∆T otrzymujemy K = 23,5 oraz U = 1,26V. Ponieważ wartość napięcia odniesienia jest zbliżona do wartości napięcia bariery potencjału krzemu, dlatego układy realizowane wg. tej zasady są nazywane układami z barierą potencjału (ang. band - gap reference circuits). Na rys.9.27 przedstawiono przykładowe rozwi ązanie źródła napięcia odniesienia typu band - gap. Tranzystory T i T tworzą stałoprądowe źródło Widlara. Spadek napięcia na rezystancji R3, przy pominięciu prądów baz, wynosi IC1 IC2R3 = UBE1 - UBE 2 = ϕT ln (9.103) IC2 176 +U I R U R I I T3 U T1 T2 U Rys.9.27. Przykładowa U R realizacja źródła odniesienia typu band - gap Wyznaczając z równania (9.103) prąd IC2 , przy β0 >> 1, możemy wyznaczyć napięcie na rezystancji R2 R2 IC1 U2 = IC2R2 = ϕT ln (9.104) R3 IC2 Napięcie odniesienia jest równe R2 IC1 UREF = U2 + UBE 3 = UBE 3 + ϕT ln (9.105) R3 IC2 Porównując (9.100) i (9.105) otrzymujemy R2 IC1 K = ln (9.106) R3 IC2 Stosunek prądów IC1 IC2 jest niezależny od temperatury. Aby uzyskać pełną kompensację temperaturową napięcia UREF , to dobierając np. (dla T=300K) IC1 IC2 = 10 musimy zapewnić R2 R3 = 10,2 . 9.4.3. Podstawowe bloki w układach zasilania i stabilizacji punktów pracy tranzystorów unipolarnych 9.4.3.1. Źródła stałoprądowe - lustra prądowe Układy źródeł stałoprądowych - luster prądowych realizowane są w technologii MOS na bardzo podobnych zasadach jak w technologii bipolarnej. 177 Na rys.9.28 przedstawiono proste źródło stałoprądowe - lustro prądowe, z tranzystorami MOSFET z kanałem wzbogacanym typu n, stanowiące odpowiednik układu z rys.9.15. I I = I I M1 M2 U U Rys.9.28. Proste lustro prądowe Jeżeli tranzystory M , M pracują w obszarze nasycenia, to ID1 = K' W1 L1 UGS - UT 2 1+ λUDS1 () () N (9.107) ID2 = K' W2 L2 UGS -UT 2 1+ λUDS 2 () ( ) N Ponieważ oba tranzystory pracują przy tym samym napięciu podłoże - źródło (UBS ), dlatego mają te same napięcia progowe: UT1 = UT 2 = UT . Zatem na podstawie równań (9.107) otrzymujemy K' W L 1+ λUDS 2 IO ID2 N ( ) ( ) 2 = = (9.108) IREF ID1 K' W L 1+ λUDS1 ( ) ( ) N 1 Przy pominięciu efektu modulacji długości kanału stosunek prądów IO IREF zależy tylko od rozmiarów tranzystorów W L2 IO ( ) = (9.109) IREF W L1 ( ) Dynamiczna rezystancja wyjściowa źródła wynosi ∆UDS 2 1 1 ro == = = rds2 (9.110) ∆ID2 λ ID2 λ IO Aby tranzystor M pracował zawsze w obszarze nasycenia, musi być spełniony warunek UGS - UT > UDS 2 = U0min (9.111) I I1 I2 I M2 M3 MN M Rys.9.29. Zespół luster prądowych 178 Na rys.9.29 przedstawiono zespół luster prądowych, w którym ten sam prąd wejściowy lustra IREF wymusza jednocześnie N prądów wyjściowych, zgodnie z relacją (9.109). Na rys.9.30 przedstawiono schematy luster prądowych Wilsona, które z uwagi na kaskodowe połączenie dwóch tranzystorów w obwodzie wyjściowym charakteryzują się dużo większą rezystancją wyjściową niż rezystancja prostego lustra. I I I a) b) I M M M3 3 4 M1 M M M2 2 1 U Rys.9.30. Lustra Wilsona (a), zmodyfikowane (b) W układzie zmodyfikowanym na rys.9.30b, dzięki dodaniu tranzystora M , w obu gałęziach tranzystory pracują przy takich samych napięciach UDS , co ma istotne znaczenie dla spełnienia relacji IREF = IO . Z pośród wielu różnych rozwiązań układowych luster prądowych, lustra Wilsona wyróżniają się korzystniejszymi właściwościami częstotliwościowymi (szerokopasmowymi). W wielu zastosowaniach wymaga się bardzo dużej rezystancji dynamicznej źródła prądu, w szerokim zakresie zmian napięcia źródła. Opisane rozwiązania układowe źródeł prądowych w technologii bipolarnej, mogą mieć również zastosowanie do realizacji źródeł prądowych w technologii CMOS. Na rys.9.31 przedstawiono schemat ideowy kaskodowego lustra prądowego, stanowiące odpowiednik bipolarnego układu z rys.9.18. Zakładając, że tranzystory M - M są identyczne, ze schematu na rys.9.30a otrzymujemy UDS1 = 2UGS - UGS 2   (9.112) UGS 2 = UGS1 = UGS ID =IREF =IO    UDS1 = UGS (9.113) Warunkiem pracy tranzystorów M i M w obszarze nasycenia jest, aby spełnione były nierówności 179 UDS 2 ≥ UGS 2 - UT  (9.114) UO ≥ 2UGS - UT   I a) b) 1 2 I M3 M2 U 2 U U 2 1 2 U 1 M4 M1 U 1 2 1 2 - 2 ( ) - U Rys.9.31. Kaskodowe lustro prądowe: a) schemat ideowy, b) charakterystyka prądowo napięciowa W tym zakresie napięć wyjściowych prąd źródła jest stały. Dalsze zmniejszanie napięcia UO powoduje zmniejszenie napięcia UDS 2 , gdyż napięcie UDS1 jest ustalone przez koło napięć 2UGS - UGS 2 = UDS1 i tranzystor M pracuje dalej w obszarze nasycenia. Tranzystor M zaczyna pracować w obszarze liniowym, a pr ąd wyjściowy IO maleje, co jest spowodowane zmniejszaniem się napięcia UDS 2 . W momencie gdy wartość napięcia UO zmniejszy się poniżej 2 UGS - UT , oba () tranzystory pracują w obszarze liniowym (rys.9.31b). Dynamiczną rezystancję wyjściową lustra kaskodowego możemy wyznaczyć na podstawie jego małosygnałowego schematu zast ępczego i jego kolejnych przekształceń, przedstawionych na rys.9.32 [28]. Rezystancja ta wynosi - Ugs2 + rds2Ugs2 gm2 + gds1 () U [] ro = = (9.115) I -Ugs2gds1 = rds1 + rds2 1+ gm2rds1 ≈ rds2 1+ gm2rds1 () () W stosunku do podstawowego lustra prądowego z rys.9.28 rezystancja wyjściowa lustra kaskodowego wzrosła 1+ gm2rds1 razy. () Ponieważ potencjał drenu tranzystora M może się nieznacznie zmieniać, to zmiana ta powoduje zmianę napięcia źródło - podłoże w tranzystorze M , zatem w tranzystorze tym wystąpi efekt podłoża. 180 3 3 2 2 3 3 2 2 4 4 1 1 4 4 1 1 2 3 3 2 2 2 2 2 2 + () 2 1 2 2 1 4 4 1 1 1 1 1 2 Rys.9.32. Małosygnałowy schemat zastępczy lustra kaskodowego i jego kolejne przekształcenia Na rys.9.33 przedstawiono końcową postać przekształconego schematu zastępczego z rys.9.32, w którym uwzględniono składową zmienną napięcia źródło - podłoże Ubs2 tranzystora M . I g 2 g 2U2 g 2U U 2 Rys.9.33. Małosygnałowy schemat zastępczy lustra kaskodowego, U 2 1 U 2 g uwzględniający efekt podłoża B2 tranzystora M Dynamiczna rezystancja wyjściowa lustra, przy uwzględnieniu efektu podłoża tranzystora ro = rds1 + rds2 1+ gm2 + gmb2 rds1 (9.116) () [] jest nieco większa niż ta, którą wyznaczono przy pominięciu efektu podłoża. Kaskodowe lustro prądowe z tranzystorami MOSFET zapewnia znacznie większą dynamiczną rezystancję wyjściową niż jego odpowiednik z tranzystorami bipolarnymi. Wad ą kaskodowego lustra prądowego z rys.9.31 jest stosunkowo duże napięcie na wejściu lustra, równe 2UGS , oraz stosunkowo duża wartość minimalnego napięcia wyjściowego, która nie może być mniejsza niż UOmin ≥ 2UGS - UT (jak 181 wyjaśniono wcześniej, przy dalszym obniżaniu napięcia na wyjściu tranzystor M wchodzi w obszar liniowy i prąd wyjściowy maleje). Ogranicza to znacznie możliwość wykorzystania tych luster we współczesnych analogowych układach scalonych CMOS pracuj ących przy niskich napięciach zasilających. Na rys.9.34 przedstawiono schemat ideowy niskonapi ęciowego lustra prądowego (ang. high swing current mirror), które w porównaniu do kaskodowego lustra z rys.9.31 posiada mniejsze napi ęcie wejściowe i większy zakres napięcia wyjściowego [14] I U I M3 M2 U 2 U 2 U M4 M 1 U 1 Rys.9.34. Niskonapięciowe U U 1 lustro prądowe typu „high swing” Załóżmy, dla uproszczenia rozważań, że wszystkie tranzystory M - M mają te same rozmiary i te same napięcia UGS . Napięcie UGG polaryzujące bramki tranzystorów M i M należy tak dobrać, aby wszystkie tranzystory pracowały w obszarach nasycenia. Zatem UDS1min ≥ UGS - UT  (9.117) UGG = UDS1min + UGS = 2UGS - UT   Aby tranzystor M pracował w obszarze nasycenia, potencjał jego drenu nie może być niższy od UGG - UT (tzn. U < U . Stąd, napięcie wyjściowe UO nie może obniżyć się poniżej pewnej minimalnej wartości UOmin ≥ UGG - UT = 2UGS - 2UT (9.118) Porównując zależności (9.114) i (9.118) widzimy, że napięcie UOmin lustra prądowego typu „high swing” jest mniejsze o warto ść napięcia progowego UT od napięcia UOmin w konwencjonalnym lustrze kaskodowym z rys.9.32a. Biorąc pod uwagę, że napięcie progowe U zawiera się w granicach 0,7 – 1V, ma to istotne znaczenie przy realizacji niskonapi ęciowych analogowych układów CMOS. 182 Również napięcie wejściowe lustra typu „high swing” jest mniejsze i wynosi UGS ( w klasycznym lustrze kaskodowym 2UGS ). 9.4.3.2. Źródła napięciowe Bardzo często punkty pracy tranzystorów w unipolarnym układzie scalonym ustalane są za pomocą źródeł napięciowych dołączonych do bramek tych tranzystorów. W zakresie zmiennoprądowym bramki tych tranzystorów zwarte są do masy. Źródła napięciowe o takim przeznaczeniu mogą posiadać dość duże rezystancje wewnętrzne, ponieważ obciążone są bardzo dużymi impedancjami wejściowymi tranzystorów MOSFET, a przez to mogą być realizowane w najprostszej postaci, np. dzielników napi ęciowych. Szczególnym rodzajem źródeł napięciowych są układy przesuwania napięcia stałego, które są stosowane w obwodach sprzęgających dwóch kolejnych stopni układu scalonego oraz na wyjściu ostatniego stopnia w celu zapewnienia zerowego napi ęcia wyjściowego przy zerowym napięciu wejściowym. Ponieważ układy przesuwania napięcia znajdują się w głównym torze transmisji sygnału, dlatego nie powinny wnosić tłumienia sygnału u żytecznego, obciążać stopnia poprzedniego oraz powinny gwarantować sterowanie napięciowe stopnia następnego. Źródła napięciowe o małej wrażliwości napięcia na zmiany temperatury i napięcia zasilania nazywa się źródłami odniesienia. Źródła napięciowe są w znacznie większym stopniu wrażliwe na zmiany temperatury niż na zmiany napięcia zasilania (odwrotnie niż w przypadku źródeł prądowych). Na rys.9.35 przedstawiono przykłady realizacji dzielników napięciowych w technologii NMOS i CMOS zbudowanych z tranzystorów MOSFET w połączeniu diodowym. Ponieważ przez dzielnik tranzystorowy przepływa ten sam pr ąd drenu ID (przy pomijalnie małych prądach obciążeń) zatem napięcie UDSi i-tego tranzystora w dzielniku jest równe ID UDSi =+ UT (9.119) KW Li ' () Napięcie na j-tym wyjściu dzielnika wynosi j U = (9.120) j DSi ∑U - USS dla j = 1, , k - 1 i=1 183 przy czym k jest w ogólnym przypadku liczbą tranzystorów tworzących dzielnik, zasilany napięciem UDD + USS , czyli k UDD + USS = (9.121) DSi ∑U i=1 +U a) b) I +U M4 U I M 3 U M 3 U U M 2 U 2 M2 U 2 U U M 1 U 1 U M 1 U 1 U -U Rys.9.35. Dzielniki napięciowe zbudowane z tranzystorów MOSFET w połączeniu diodowym: a) w technologii NMOS, b) w technologii CMOS Na rys.9.36 przedstawiono proste przykłady układów przesuwania napięcia stałego. +U a) b) I M 2 M 2 M1 U u U u u U I I u -U Rys.9.36. Układy przesuwania napięcia stałego: a) ze źródłem stałoprądowym, b) wtórnikowy W układzie na rys.9.36a poziom napięcia wyjściowego uO jest przesunięty względem poziomu napięcia wejściowego uI o stałą wartość -2UGS , który przy identycznych tranzystorach M , M wynosi 184   ID uO - uI = -2UGS = -2 - UT  (9.122)  KW L '   W układzie na rys.9.36b przesunięcie to wynosi -UGS . Inne typowe rozwiązania stosowane w obwodach zasilania układów scalonych są przytaczane w dalszych rozdziałach przy omawianiu konkretnych rozwiązań układowych.