1310108688

Sumaryczne obciążenie pracą studenta	100 godz.
Punkty ECTS za kurs	4 ECTS

Załącznik do Sylabusa: Krystalografia

Przykładowe pytania i zadania sprawdzające zakładane efekty kształcenia Wiedza:

Wkr_01 - Posiada podstawową wiedzę na temat promieniowania rentgenowskiego i wykorzystania go w badaniach strukturalnych (egzamin).

-    Linia K|3 w widmie charakterystycznym promieniowania rentgenowskiego powstaje przy przeskoku elektronu między powłokami

a) L—>K;    b) K-»L;    c) K->M;    d) M-»K; e) L-»M.

-    Krótkofalowa granica A_g widma ciągłego promieniowania rentgenowskiego jest

a)    proporcjonalna do napięcia przyspieszającego L/w lampie rentgenowskiej;

b)    odwrotnie proporcjonalna do napięcia przyspieszającego L/w lampie rentgenowskiej;

c)    proporcjonalna do natężenia prądu elektronowego / w lampie rentgenowskiej;

d)    odwrotnie proporcjonalna do natężenia prądu elektronowego / w lampie rentgenowskiej;

e)    proporcjonalna do mocy lampy rentgenowskiej.

Wkr_02 - Zna podstawy fizyczne metod dyfrakcyjnych stosowanych w badaniach strukturalnych kryształów (kolokwium kontrolne, egzamin).

-    Stosując promieniowanie rentgenowskie o długości fali A liczba rzędów dyfrakcji możliwa do zarejestrowania od płaszczyzny sieciowej o odległości międzypłaszczyznowej d=A wynosi

a) 0;    b) 1;    c) 2;    d) 3;    e)4.

-    Jeżeli k₀ i ksą wektorami falowymi o długości MA odpowiednio wiązki padającej i odbitej od płaszczyzny (hkl)

promieniowania rentgenowskiego, a Hjest wektorem sieci odwrotnej o współrzędnych hkl, to warunek dyfrakcji Ewalda jest spełniony gdy

a)k^ = k + H    b)k = k^ + H    c)k = k₀ + H    d)k₀=k + H

e) k₀,k,H są wzajemnie prostopadłe.

-    Natężenie refleksu rentgenowskiego o wskaźnikach hkl jest

a)    proporcjonalne do czynnika struktury;

b)    proporcjonalne do amplitudy struktury;

c)    proporcjonalne do kwadratu amplitudy struktury;

d)    odwrotnie proporcjonalne do czynnika struktury;

e)    odwrotnie proporcjonalne do kwadratu amplitudy struktury.

Wkr_03 - Zna podstawowe metody rentgenowskie badania struktury kryształów (egzamin).

-    Jeżeli w metodzie obracanego kryształu osią obrotu kryształu jest prosta sieciowa [010] to na warstwicy zerowej będą refleksy

a) hkl-,    b) 0kl\    c) hOI\    d) hkO;    e) hkk.

-    Symetria w rozkładzie refleksów typu m (płaszczyzna symetrii) może wystąpić na zdjęciu rentgenowskim wykonanym metodami

a)    Lauego, obracanego kryształu i proszkową DSH;

b)    obracanego kryształu, kołysanego kryształu i proszkową DSH;

c)    Lauego, Weissenberga i dyfraktometryczną;

d)    obracanego kryształu, Weissenberga i dyfraktometryczną;

e)    Lauego, kołysanego kryształu i Weissenberga.

Umiejętności:

Ukr_01 - Potrafi posługiwać się matematycznym opisem symetrii sieci przestrzennej kryształu (kolokwium kontrolne, egzamin).