8416073724

8416073724



Politechnika Wrocławska

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) S-3400N

Cienka warstwa Zr02(V) na podłożu ceramicznym


Skaningowy Mikroskop Elektronowy Hitachi S-3400N jest urządzeniem przeznaczonym do badania morfologii powierzchni ciał stałych w mikro- i nanoskali. Powiększenia od 5 do 300 000 razy. Dodatkowo S-3400N wyposażony jest w mikroanalizator rentgenowski EDS umożliwiający jakościowy i ilościowy pomiar pierwiastków w badanych próbkach oraz oprogramowanie 3D-Viewer do generowania 3 wymiarowych profili badanych powierzchni.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
hr HR EXCELLENCE IN RESEARCH Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki ul
POLITECHNIKA WROCŁAWSKA WYDZIAŁ ELEKTRONIKI MIKROSYSTEMÓW I FOTONIKI POLITECHNIKI
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i FotoniklLABORATORIUMELEMENTÓW i UKŁADÓW
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Rozkład zajęć: ST_li_EIT_1 na
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Mikrosystemów i FotonikiLABORATORIUMELEMENTÓW i UKŁADÓW
POLITECHNIKA WROCŁAWSKA WYDZIAŁ ELEKTRONIKI KIERUNEK: Elektronika i Telekomunikacja SPECJALNOŚĆ:
skanowanie0028 (22) Monitor elektroluminescencyjny * Monitor elektroluminescencyjny - zawiera cienką
Politechnika Wrocławska Elementy elektroniczne Wykład 1-2: Elementy bierne
Politechnika Wrocławska Wydział ElektronikiWydziałowy System Zapewniania Jakości Kształcenia Obsługa
Politechnika Wrocławska Wydział ElektronikiWydziałowy System Zapewniania Jakości Kształcenia 3.
Politechnika Wrocławska Wydział ElektronikiWydziałowy System Zapewniania Jakości Kształcenia 3.2 Zas
Politechnika Wrocławska Wydział ElektronikiWydziałowy System Zapewniania Jakości Kształcenia b)
Politechnika Wrocławska Wydział ElektronikiWydziałowy System Zapewniania Jakości Kształcenia 6.
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki Wydziałowy System Zapewniania Jakości KształceniaOsoby
BADANIA STRUKTURALNE• Skaningowy mikroskop elektronowy -    SEM (VEGA3 Tescan z napyl
Slajd3 Politechnika WrocławskaBADANIA GRUNTUWARUNKI GEOLOGICZNO-INŻYNIERSKIE PROSTE r poziome warstw

więcej podobnych podstron