8941510837

LABORATORIUM - Ceramika Narzędziowa

Wszystkie otrzymane wyniki pomiarów i obliczeń zestawić w tabeli.

pomiaru

Powiększenie

[N]

[GPa]

K,_c

[MPa-m^0,5]

[pm'^0,5]

P* [N]

IV. Dla wybranych materiałów ceramicznych dokonać pomiaru twardości metodą Vickersa i odporności na kruche pękanie (Kie) metodą bezpośredniego pomiaru długości spękań wywołanych wciskaniem wgłębnika Vickersa. Wykonać po jednym pomiarze dla każdego materiału.

Pomiar twardości mikrotwardościomierzem cyfrowym.

Ustawienie warunków pomiaru:

1. wybór obciążenia. Obrócić pokrętło regulacji obciążenia (14) w położenie, odpowiadające żądanej wielkości obciążenia.

2. ustawienie czasu działania obciążenia na panelu ciekłokrystalicznym LDC. Według normy przyjmuje się czas 10-15 sekund.

Wykonanie pomiaru twardości Yickersa:

1. Umieścić próbkę na stoliku X-Y (18). Próbkę należy precyzyjnie umieścić w uchwycie imadłowym, tak aby była nieruchoma podczas pomiaru.

2. Obracać powoli pokrętłem podnoszenia stolika do momentu uzyskania ostrego obrazu próbki (obiektyw xl0). Dla ustawienia ostrości przybliżyć powierzchnię próbki do obiektywu x50, następnie patrząc przez okular (4) mikroskopu pomiarowego (2) obniżać położenie próbki aż będzie widoczny ostry obraz.

UWAGA! Podczas podnoszenia stolika należy uważać, aby próbka nie uderzyła w obiektyw, co mogłoby spowodować uszkodzenie obiektywu.

3. Wybrać punkt na powierzchni próbki, w którym będzie wykonany pomiar.

4. Obrócić ręka głowicę (6) tak, aby wgłębnik był w środkowym położeniu.

5. Uruchomić wykonanie odcisku naciskając przełącznik START ekranu operacyjnego panelu ciekłokrystalicznego (12). Diamentowy wgłębnik będzie automatycznie opuszczony w dół i wciskany w próbkę z zadanym obciążeniem w zadanym czasie, zgodnie z ustawieniami warunków pomiaru. Następnie wgłębnik zostanie odciążony i wróci do pozycji wyjściowej. Podczas tej operacji przełącznik START będzie migać.

6. Ręcznie obrócić głowicę (6) do położenia obiektyw x50 (7) i spojrzeć przez okular (4). W centralnym punkcie pola widzenia widoczny będzie odcisk na powierzchni próbki.

Przed rozpoczęciem pomiaru odcisku może zaistnieć potrzeba wyzerowania ustawienia linii pomiarowych.