9742848333

9742848333



EK2

ZIP1 A_WI 1 ZIPIĄ W05

C1.C2

W1-W5, LI -L5

1,2

01,02

EK 3

ZIPIĄ U02

C2

LI -L5

2

02

EK 4

ZIPIĄ Uli

C2

LI -L5

2

02

EK 5

ZIPI A_K11

Cl, C2

W1-W5

1

01


Metody i kry teria oceny

Symbol metody oceny

Opis metody oceny

Próg zaliczeniowy

Ol

Egzamin ustny lub pisemny

60%

02

Sprawozdania z wykonanych doświadczeń laboratoryjnych

100%


Autor programu:

Prof. dr hab. Barbara Surowska

Adres e-mail:

b.surowska@pollub.pl

Jednostka

organizacyjna:

Katedra Inżynierii Materiałowej, WM


Karta (sylabus) przedmiotu Zarządzanie i inżynieria produkcji

Studia stopnia pierwszego (I) o profilu ogólnoakademickim

Przedmiot: Grafika inżynierska

Kod przedmiotu ZIP 1 S 0 1 6-0_0

Status przedmiotu: obowiązkowy

Język wykładowy: polski

Rok: I

Semestr: 1

Nazwa specjalności:

Rodzaj zajęć i liczba godzin:

Studia stacjonarne

Studia niestacjonarne

Wykład

15

10

Ćwiczenia

Laboratorium

Projekt

30

20

Liczba punktów ECTS:

4

4


Cel przedmiotu

Cl

Zapoznanie z zasadami przedstawienia dowolnej biyły zgodnie z zasadami rysunku technicznego, z przedstawieniem szczegółów geometrii zewnętrznej i wewnętrznej oraz naniesienia układu wymiarowego.

C2

Pizygotowanie do sporządzania dokumentacji technicznej, zarówno na podstawie rzeczywistych obiektów, jak i rysunków' złożeniowych elementów maszyn i urządzeń

C3

Zaznajomienie z zasadami korzy stania z norm części złącznych i innych elementów znormalizowanych


_^_Wymagania wstępne w zakresie wiedzy, umiejętności i innych kompetencji_

j I Wiadomości odnośnie geometrii nabyte podczas realizacji programu matematyki w szkole średniej.

1 Podstawy obsługi komputera_


Treści programowe przedmiotu

Forma zajęć - wykłady

Treści programow e

godzin

W1

Arkusze, podzialki rysunkowe, pismo techniczne. Normalizacja w budowie maszyn. Elementy geometrii wykreślnej. Rzutowanie prostokątne. Tworzenie widoków. Porządkowe zasady wymiarowania. Wymiarowanie typowych elementów geometrycznych.

4

W2

Przekroje. Zasady wykonywania przekrojów'. Przekrój prosty. Przekrój połówkowy. Przekrój stopniowy i łamany, oznaczenie płaszczyzn krojących, przykłady zastosowania. Kład jako szczególny rodzaj przekroju. Kład miejscowy. Rodzaje kładu przesuniętego. Porównanie kładu z przekrojem poprzecznym

5

W3

Chropowatość i stan powierzchni. Symbole graficzne i ich znaczenie. Tolerancja wymiarów liniowych. Rozkład odchyłek podstawowych oraz ich symbole literowe dla otworów' i wałków. Zalecane wartości tolerancji wg normy ISO. Tolerowanie wymiarów swobodnych.

2




Wyszukiwarka

Podobne podstrony:

Analiza czynników ryzyka zjawisk C1,C2,C3,C4 Wl, Ul, KI naturalnych w kontekście W2, U 2,
20. Konwertaza C3 cirofjl kl«isyc/ne
s^ruttsiL -niku w tśhi&n • tcrzy pisy Ymujth. w p_lyv/D wi r>^i I h ri Ki rj/- rrmi u w1‘ L&g
schemat pomiarowy3 P1 5kfi Key=A 20% J_C1 J_C2 ~470uF    ±T100nF ■Ul.
PEK_W01+PEK_W14, PEK_U01+PEK_U16 K1MBM_U04 C1.C2, C3, C4 W.1+W.15, ĆW.1+ĆW.15, Lab. 1+Lab.
59 (94) M1 12V C1 C2 U1 100n 100n 78L05 Przedstawione urządzenie, będące układem aktywnego obciążeni
zmak aku wykaz bmp Wykaz elementówKondensatory C1.C2.C8, C11.C23
d ~ V _ _ Pstrat dz2 pL W wyniku kolejnych całkowań otrzymuje się: dzu=-Łzslz* + C1+c2 Stałe C, i C2
Zadanie 23. W układzie przedstawionym na rysunku kondensatory C1 i C2 mają wpływ na
K 165b C1.C2. a separowane od wzmacniacza in.cz. za jxxnocą riławków 13.14. Rolę óscyblora pełni cew
kolorofon led z mikrofonem 2 C1,C2 100nF C3, C4 12nF C5, C6 2.2nF 11,12,13,17 BC238B lub BC548B

więcej podobnych podstron