1148442009

1148442009



2)    Chalmers University of Technology AB, Goeteborg, Szwecja, Prot. dr Anders Rindby

3)    Research Institute for Atomie Energy, Budapest, Węgry, Prof. dr Szabina Torok

4)    DSM Research BV, Geleen, Holandia, Ch. De Koster

5)    Thermal Comfort, Budapest, Hungary

W ramach tematu, zaprojektowano i wykonano modyfikację stanowiska pomiarowego z mikrowiązką promieniowania X. Wprowadzone modyfikacje geometrii pomiarowej pozwalają na optymalne wykorzystanie przestrzennej zdolności rozdzielczej mikrowiązki promieniowania rentgenowskiego, a także na wykonanie pomiarów w geometrii zoptymalizowanej pod kątem uzyskania maksymalnej wydajności detekcji. Przeprowadzono pomiary przestrzennej zdolności rozdzielczej mikrowiązki promieniowania X oraz określono granice wykrywalności pierwiastków. W geometrii zoptymalizowanej dla uzyskania wysokiej przestrzennej zdolności rozdzielczej średnica wiązki na powierzchni próbki (FWHM) wyniosła 16nm a granice wykrywalności pierwiastków dla K, Ti, Fe, Zn, Pb były równe odpowiednio 4700, 3180, 940, 790 i 1850 ng/g. W geometrii o największej wydajności detekcji średnica wiązki na powierzchni próbki (FWHM) wyniosła 26-38nm (ślad wiązki na powierzchni próbki ma kształt eliptyczny) a odpowiednie granice wykrywalności pierwiastków były równe 1170, 770, 330, 300 i 620 ng/g.

W dniach 6-7 listopada 1997 roku, na Uniwersytecie w Antwerpii odbyło się pierwsze spotkanie uczestników projektu. Na spotkaniu, ustalono szczegółowy harmonogram prac, uczestnicy zapoznali się z zakresem badań prowadzonych w każdym z laboratoriów w ramach projektu, rozdysponowano również pierwsze próbki polimerów oraz pyłów powietrza.

3. Badanie kształtu pików w widmach promieniowania y poddanych procesowi przesuwania i transformacji do stałej szerokości połówkowej.

Zespół:    L. Loska

Finansowanie: działalność statutowa (urn. nr 11.220.01)

Powszechnie zakłada się, że kształt pików w zmierzonym widmie promieniowania y odpowiada krzywej Gaussa. W wyniku różnych operacji przeprowadzanych na widmach, takich jak przesuwanie czy transformacja do stałej szerokości połówkowej, może dojść do zniekształcenia pików. Wielkość tego zniekształcenia została zbadana metodą symulacji komputerowej. Piki o kształcie funkcji Gaussa o szerokościach połówkowych od 3 do 10 kanałów zostały przesunięte o 0.5 kanału, a następnie zbadano zgodność ich kształtu z funkcją Gaussa, którą łatwo sprowadzić do zależności liniowej. Jako miarę tej zgodności przyjęto wartości współczynników korelacji liniowej obliczonych dla linii prostej dopasowanej do liczb zliczeń w kanałach przesuniętego piku po ich linearyzacji. Otrzymane współczynniki korelacji liniowej mają wartości znacznie przekraczające wartości krytyczne dla poziomu istotności 0=0.01, co świadczy o bardzo dobrej zgodności kształtu pików otrzymanych po przesunięciu z funkcją Gaussa. Otrzymane po przesunięciu piki zostały poddane również testowi zgodności fi z pikami pierwotnymi. Dla piku o szerokości połówkowej 3 kanały brak jest zgodności z pikiem pierwotnym.

W celu zbadania zniekształcenia pików po transformacji widm do stałej szerokości połówkowej również wyznaczano wielkość współczynnika korelacji liniowej i stosowano test zgodności X2- Otrzymane wyniki świadczą o bardzo dobrej zgodności w stosunku do pików pierwotnych. Publikacja w przygotowaniu.

4. Weryfikacja instrumentalnych metod analizy śladowej do kontroli jakości wody pitnej i mineralnej w zakładach przetwórstwa i zaopatrzenia w wodę - temat zakończony

Zespół:    B.Hołyńska (kierownik), B.Ostachowicz, J.Ostachowicz, J.Ptasiński, D.Węgrzynek

Finansowanie: Wspólnota Europejska w ramach projeku "Copemicus", kontrakt CIPA - CT94 -0210 na lata 1995-1996.

Współpraca:    1) University of Antwerp (UIA), Belgia, prof. dr Rene Van Grieken,

6



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
450 ARTYKUŁY JOLANTA KONOPKA Main Library of Świętokrzyski University of Technology e-mail:
Laboratorium przemysłowe (Cukrownia Lublin)ca Warsaw University of Technology^ s Struktura^
Politechnika Warszawska - Wydział Mechatroniki Warsaw University of Technology Politechnika
Zespół prof. Jan Maciej Kościelny J Warsaw University of TechnologyAMandDi*>
(WEITnu* Warsaw University of Technology Faculty of Electrical Engineering Institute of Control &
Warsaw University of Technology
www.pb.edu.pl Białystok University of Technology Politechnika Białostocka address: ul. Wiejska
mu Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Cracow University of Technology address:
WROCŁAW UNIVERSITY OF TECHNOLOGYPROSPECTUS 2015 2016
WELCOME to your custom prospectus for Wrocław University of Technology. It contains information rele
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of TechnologyPolitechnika Świętokrzyska dla
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of TechnologyZakład Materiałoznawstwa i Technologii Amu
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of TechnologyZakład Materiałoznawstwa i Technologii Amu
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of TechnologyZakład Materiałoznawstwa i Technologii
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of Technology Zakład Materiałoznawstwa i Technologii
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of TechnologyWydział Mechatroniki Budowy MaszynKielce
Politechnika Świętokrzyska Kielce University of Technology Zakład Materiałoznawstwa i Technologii
■^Association Of Polish 1nventors And Rationalizers — Warsaw University of Technology Patent Office
dziecięca Politechnika Świętokrzyska Kielce University of Technology

więcej podobnych podstron