3623317094

3623317094



Zaliczenie zająć. Wykonana rentgenowska analiza fazowa ilościowa próbki. Wyniki (stałe K, zawartości faz w próbce z i bez wzorca, masy faz) zapisane w formacie xls (krzywe kalibracji) oraz w formatach xls lub doc lub notatki odręczne (obliczenia). Dane zespołu skopiowane na zewnętrzne nośniki pamięci.

Laboratorium 4.

Wyznaczania wielkości krystalitów wybranej fazy (faz) oraz jej parametrów sieciowych.

Wielkość krystalitów, wyliczona na podstawie szerokości połówkowej refleksu to wymiar poprzeczny krystalitu w stosunku do płaszczyzny sieciowej, dla której otrzymano dany refleks. Wymiar krystalitu często różni się od wyznaczonych innymi metodami wymiarów ziaren, ponieważ ziarno jest najczęściej zrostem kilku krystalitów.

Do wyliczenia wielkości krystalitów stosuje się najczęściej wzór Scherrera:

kl

Dhk, . ____________ (4)

|3 COS0

gdzie:

P - szerokość połówkowa refleksu, P = p0bs - Pstand, [rad]

X - długość fali promieniowania rentgenowskiego, X = 1.5406 [A] k - stała Scherrera, przyjmuje wartości od 0.9 - 1.0, przyjąć k = 0.9

Dhu - średnia wielkość krystalitu, wymiar prostopadły do płaszczyzny, dla której otrzymano dany refleks

Do opisu kształtu komórki elementarnej wykorzystuje się sześć parametrów sieciowych: długości krawędzi komórki a, b, c oraz kąty między nimi: a,p,y.

Obliczenia długości krawędzi w komórce i tym samym wielkości komórek elementarnych opierają się na wyliczonych dla danych refleksów wielkościach dhki czyli odległościach międzypłaszczyznowych w rodzinach płaszczyzn sieciowych, dla których te refleksy otrzymano oraz znajomości wskaźników (hkl) tych płaszczyzn (odczytanych z tablic identyfikacyjnych faz lub wyznaczonych różnymi metodami).

Wartości dhki oblicza się na podstawie wzoru Bragga-Wulfa:

nA. = 2d|,k|Sin0

X- długość fali promieniowania rentgenowskiego,

dhki - odległość międzypłaszczyznowa w rodzinie płaszczyzn sieciowych (hkl)

0 - kąt odbłysku (znaleziony na podstawie połołożenia refleksu na dyfraktogramie czyli 1/2 kata ugięcia 20)

n - rząd refleksu, gdy nie jest podany, przyjmujemy n=l

Do wyliczenia parametrów sieciowych stosuje się równania kwadratowe, wiążące ze sobą wartości dhki, same (hkl) oraz długości krawędzi komórki elementarnej a, b oraz c.

4



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
201404020431 Rentgenowska analiza fazowa materiałów polikrystalicznych W cefea pcfeaegc   
Metody rentgenowskie badania substancji polikrystalicznych, rentgenowska analiza fazowa materiałów
RENTGENOWSKA SPEKTROMETRIA FLUORESCENCYJNA (XRF)Analiza jakościowa i ilościowa materiałów budowlanyc
Politechnika WrocławskaProszkowy Dyfraktometr Rentgenowski -ULTIMA IV Ilościowa analiza
AAA 4 Cel ćwiczenia: ilościowa analiza aminokwasów siarkowych Wykonanie: 1. Przeprowadzić analizę
1. Analiza jakościowa i ilościowaZastosowania spektroskopii Ramana fragment tablicy korelacyjnej
DSC00043 (5) Skład mineralogiczny bentonitu • Udział poszczególnych minerałów na podstawie rentgenow
P231110 250007 rys. j5) może powodować wystąpienie piku, który przeszkadza w analizie małych ilości
Wytrzymałość Materiałów - zadaniaZadanie 5 Wykonać pełną analizę wytrzymałościową rozciąganego
Segregator1 Strona8 Rozdział V Przemiany chemiczne i zjawiska fizyczne. Reakcje syntezy, analizy i
Segregator1 Strona6 Rozdział V Przemiany chemiczne i zjawiska fizyczne. Reakcje syntezy, analizy i
bdog0005 WYMAGANIA DOTYCZĄCE ZALICZENIA 1. Poprawnie wykonany projekt, na który śdBadają się: 1.1. O
Obróbka plastyczna stopów magnezu 143 Z wykonanej ze stopu odkuwki pobrano próbki do statycznej prób

więcej podobnych podstron