Zakład Technologii Chemicznej, Wydział Chemii, Uniwersytet Marii Curie-Skłodowsiej, PI. M. Curie-Skłodowskiej, 20-031 Lublin grzesiek.slowik@gmail.com
r
PODSTAWY MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ I JEJ WYBRANE ZASTOSOWANIA W CHARAKTERYSTYCE KATALIZATORÓW NOŚNIKOWYCH
Mikroskopia elektronowa to przydatna i coraz bardziej powszechna technika służąca do charakterystyki powierzchni, obszarów przypowierzchniowych, składu chemicznego oraz struktur materiałów o budowie nanostrukturalnej [1,2]. Od momentu wynalezienia transmisyjnego mikroskopu elektronowego stała się kluczową techniką pozwalającą obserwować struktury i materiały atomowych rozmiarów [3,4]. Zastosowanie znalazły różne metody mikroskopowe i spektroskopowe, takie jak:
• Transmisyjna mikroskopia elektronowa - TEM (Transmission Electron Microscopy),
• Skaningowa mikroskopia elektronowa - SEM (Scanning Electron Microscopy),
• Skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa - STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy),
• Spektroskopia dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego - EDS (X-ray Energy Dispersive Spectroscopy)
• Spektroskopia strat energii elektronów - EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy),
Metody te wykorzystują wiązkę elektronów oraz ich oddziaływanie z materią, co pozwala
uzyskać wiele ważnych informacji dotyczących analizowanych próbek, np. katalizatora nośnikowego [1,4],
Heterogeniczne katalizatory (nośnikowe) są istotnym przedmiotem badań ze względu na ich zastosowanie w przemyśle chemicznym, paliwowym, jak również w ochronie środowiska [4], Szeroko stosowane w katalizie heterogenicznej są rozproszone cząstki metalu na porowatych nośnikach. Katalizatory te zwykle wykazują aktywność i selektywność w znacznym stopniu uzależnioną od warunków obróbki wstępnej. Metale mogą oddziaływać zarówno z redukującymi się (np. Ti02) jak i nieredukującymi się nośnikami (np. Si02 i A1203). Ta interakcja metal-noś-nik znacząco wpływa na chemisorpcję i katalityczne właściwości fazy metalu. Dlatego też badania zmian zachodzących w różnych warunkach obróbki, dotyczące powierzchni i struktury
c
219