4509457
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych"
2. INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA
Rys. 21. Widok stanowiska dydaktycznego.
Rys. 22. Widok płytek do badania charakterystyk diod półprzewodnikowych i tranzystorów.
2.1. Diody
2.1.1. Zadania do wykonania
• sporządzenie charakterystyki If(Uf)
• sporządzenie charakterystyki Ir(Ur)
• wyznaczenie napięcia Uf
Zakład Automatyki i Kriogeniki 1-20, Politechnika Wrocławska 12
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Laboratorium Podstaw Elektroniki - „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych" Tabela
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” Rys. 23.
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” ustawić
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” 2.2.3.
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” Jeżeli
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” URmax =
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych”< 0 <
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” Aby
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych” Do opisu i
Laboratorium Podstaw Elektroniki - „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych" Aby
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów
Laboratorium Podstaw Elektroniki — „Badanie charakterystyk elementów
więcej podobnych podstron