604495609

WYDZIAŁ ELEKTRONIKI

KATEDRA METROLOGII ELEKTRONICZNEJ I FOTONICZNEJ (K-l)

Kierownik: prof. dr hab. inż. Janusz Mroczka, członek korespondencyjny PAN Sekretariat: ul. B. Prusa 53/55 50-317 Wrocław tel. [phone], faks: [phone] e-mail: [e-mail] www.kmeif.pwr.wroc.pl

Katedro Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej powstała w wierze, że czym większy wysiłek skierujemy w poznanie, tym głębsza będzie świadomość naszej podmiotowości. Katedra to miejsce i wspólnota służąca prawdzie poznawanej i przekazywanej, gdzie spotykają się uczeni i uczniowie, profesorowie i studenci zespoleni dążeniem do nauczania młodych oraz pomnażania dobra kulturowego ludzi.

Prof. Janusz Mroczka Wrocław, marzec 1998 r.

Metrologia w procesie swojego ciągłego rozwoju odkrywa coraz to nowsze zagadnienia poznawcze, ukazując tym samym nowe problemy pomiarowe do rozwiązania. To stymuluje rozwój doskonalszych narzędzi pomiarowych wykorzystujących osiągnięcia współczesnej technologii. Nowe problemy poznawcze i ich realne narzędzia poznania tworzą nowe kierunki metrologii. Oprócz tradycyjnych działów metrologii, takich jak: teoretyczne podstawy metrologii, wzorce, metody pomiarowe, obróbka danych pomiarowych, ocena niepewności pomiaru, technika systemów pomiarowych itp. pojawiają się działy nowe, a wśród nich: metrologia optyczna, metrologia fotoniczna, nanometrologia, metrologia biomedyczna itp.

W procesie poznawczym metrologia posługuje się analizą i syntezą w dziedzinie abstrakcji na obszarach rzeczywistości wyrażonych przez modele fizyczny i matematyczny. To właśnie na tych modelach łatwo zauważamy przykłady analogii formalnych między różnymi zagadnieniami od strony zjawiskowej, a podobnymi od strony syntezy pojęciowej.

Głównym celem pracy Katedry jest przekształcanie modeli fizycznych - zbudowanych z pojęć materii, energii i czasu - w modele matematyczne, a następnie w modele metrologiczne, które uzupełnione pojęciami informacji dostarczają wiadomości jakościowych i ilościowych. Podstawowy schemat działania Katedry odpowiada schematowi procesu poznawczego, stanowiącego szeregowe połączenie badanego obiektu będącego celem poznania, z jego modelem fizycznym, matematycznym i metrologicznym, pomiędzy którymi występują sprzężenia zwrotne stanowiące odzwierciedlenie procesów weryfikacyjnych poszczególnych modeli, uwarunkowane zewnętrznymi kryteriami oceny.

Modele matematyczne w sposób jakościowy i ilościowy wyrażają związki przyczynowo-skutkowe pomiędzy wielkościami opisującymi badane obiekty, a niektóre z tych wielkości wyrażone są przez parametry modeli. Pomiar ich wartości od strony pojęciowej wymaga wnioskowania o przyczynach na podstawie skutków, czyli rozwiązania problemu odwrotnego, a technicznie polega na wykonaniu złożonych obliczeń na wynikach pomiarów bezpośrednich. Teoria, metody i rozwiązania aplikacyjne tak rozumianych pomiarów pośrednich rozwijane są w Katedrze z wykorzystaniem danych rejestrowanych zarówno w dziedzinie czasu, jak i transformowanych w dziedzinę częstotliwości i czas-częstotliwości.