Etap pisemny egzaminu
2.6. Określać wpływ parametrów poszczególnych elementów i podzespołów na pracę
układów i urządzeń elektronicznych,
czyli:
• określać reakcję układów oraz urządzeń elektronicznych na zmiany wartości parametrów poszczególnych elementów i podzespołów, np.: określać reakcję wzmacniacza selektywnego na zmiany wartości napięcia sterującego diodą pojemnościową w obwodzie rezonansowym.
Przykładowe zadanie 10.
Zwiększenie pętli histerezy regulatora dwustawnego w układzie regulacji
A. spowoduje zmniejszenie amplitudy zmian sygnału sterowanego.
B. nie wpłynie na przebieg sygnału.
C. spowoduje zwiększenie amplitudy zmian sygnału sterowanego.
D. spowoduje przesunięcie przebiegu w górę o szerokość pętli histerezy.
2.7. Określać rodzaj uszkodzenia w układach i urządzeniach elektronicznych na
podstawie opisu, podanych wyników pomiarów,
czyli:
• określać rodzaj uszkodzenia na podstawie wniosków wynikających z porównania danych uzyskanych w wyniku pomiaru z danymi przewidywanymi podczas bezawaryjnej pracy układu lub urządzenia elektronicznego, np.: zwarcie lub przerwa.
Przykładowe zadanie 11.
Licznik modulo 10 jest uszkodzony i zlicza do 16. Jaka jest przyczyna wadliwej pracy licznika?
A. Przerwa w obwodzie QD - we 2.
B. Przerwa w obwodzie QB - we 1.
C. Przerwa w obwodzie C - wy.
D. Zwarcie wyjścia bramki do masy.